一种磁场屏蔽效能预测方法及系统

    公开(公告)号:CN111125610B

    公开(公告)日:2022-02-15

    申请号:CN201911366089.2

    申请日:2019-12-26

    IPC分类号: G06F17/10 G01R29/08

    摘要: 本发明公开了一种磁场屏蔽效能预测方法及系统。该方法包括:获取导体板结构参数、发射环参数以及磁场频率序列中的一个预设磁场频率;计算导体板的屏蔽效能;计算发射环轴线上场点的屏蔽效能;判断磁场频率序列中的预设磁场是否全部获取完;若全部获取完,则生成频率‑导体板屏蔽效能关系曲线和频率‑发射环轴线上场点屏蔽效能关系曲线;确定临界频率;判断待预测磁场屏蔽效能对应的磁场频率是否小于临界频率;若小于临界频率,根据频率‑导体板屏蔽效能关系曲线进行屏蔽效能预测;若大于或等于临界频率,根据频率‑发射环轴线上场点屏蔽效能关系曲线进行屏蔽效能预测。采用本发明的方法及系统,能够满足通风、内部观察的需求,操作简便。

    一种小孔磁极化系数的提取方法

    公开(公告)号:CN110058183A

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201910405475.1

    申请日:2019-05-16

    IPC分类号: G01R33/12 G01R33/16

    摘要: 本发明提出一种小孔磁化系数的提取方法,该方法基于全波软件仿真方法,得到一系列频率下周期开孔无限大导体板的传输系数,根据解析公式拟合,反推出任意形状开孔的磁化系数。本发明得出了可计算不同开孔形状的磁化系数的方法,不限于孔的形状,可以较为准确方便地获得开孔的磁化系数。

    一种用于小尺寸屏蔽盒的磁场屏蔽效能测试方法

    公开(公告)号:CN110441619A

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201910857661.9

    申请日:2019-09-09

    IPC分类号: G01R29/08 G01R31/00

    摘要: 本发明公开了属于电磁兼容领域的一种用于小尺寸屏蔽盒的磁场屏蔽效能测试方法。首先搭建测试平台,其次使用搭建测试平台对小尺寸屏蔽盒的磁场屏蔽效能进行测试;通过该测试平台,可以较好地获得小尺寸屏蔽盒在大体积均匀磁场下的磁屏蔽特性。对于评估屏蔽盒内板卡受空间磁场骚扰的情况有较好的参考价值。

    一种计算封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法

    公开(公告)号:CN110489866B

    公开(公告)日:2023-02-10

    申请号:CN201910768469.2

    申请日:2019-08-20

    IPC分类号: G06F30/20

    摘要: 本发明公开了一种计算封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法,其特征在于,所述封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法包括以下步骤:步骤一:计算屏蔽体在某一低频点f0的磁场屏蔽效能SH(f0)=屏蔽前磁场/屏蔽后磁场;步骤二:计算形状因子其中,c为屏蔽体形状因子,Δ为屏蔽体金属材料的厚度,μ为磁导率,ω=2πf0;步骤三:根据步骤二的形状因子反推出整个频段的屏蔽效能表达式为:SH=|cosh(γΔ)+cγsinh(γΔ)|;步骤四:根据关系式SE=20log10(SH)计算对数形式下的屏蔽效能,绘制屏蔽效能曲线。

    一种小孔磁化系数的提取方法

    公开(公告)号:CN110058183B

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201910405475.1

    申请日:2019-05-16

    IPC分类号: G01R33/12 G01R33/16

    摘要: 本发明提出一种小孔磁化系数的提取方法,该方法基于全波软件仿真方法,得到一系列频率下周期开孔无限大导体板的传输系数,根据解析公式拟合,反推出任意形状开孔的磁化系数。本发明得出了可计算不同开孔形状的磁化系数的方法,不限于孔的形状,可以较为准确方便地获得开孔的磁化系数。

    一种磁场屏蔽效能预测方法及系统

    公开(公告)号:CN111125610A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201911366089.2

    申请日:2019-12-26

    IPC分类号: G06F17/10 G01R29/08

    摘要: 本发明公开了一种磁场屏蔽效能预测方法及系统。该方法包括:获取导体板结构参数、发射环参数以及磁场频率序列中的一个预设磁场频率;计算导体板的屏蔽效能;计算发射环轴线上场点的屏蔽效能;判断磁场频率序列中的预设磁场是否全部获取完;若全部获取完,则生成频率-导体板屏蔽效能关系曲线和频率-发射环轴线上场点屏蔽效能关系曲线;确定临界频率;判断待预测磁场屏蔽效能对应的磁场频率是否小于临界频率;若小于临界频率,根据频率-导体板屏蔽效能关系曲线进行屏蔽效能预测;若大于或等于临界频率,根据频率-发射环轴线上场点屏蔽效能关系曲线进行屏蔽效能预测。采用本发明的方法及系统,能够满足通风、内部观察的需求,操作简便。

    一种计算封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法

    公开(公告)号:CN110489866A

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:CN201910768469.2

    申请日:2019-08-20

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 本发明公开了一种计算封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法,其特征在于,所述封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法包括以下步骤:步骤一:计算屏蔽体在某一低频点f0的磁场屏蔽效能SH(f0)=屏蔽前磁场/屏蔽后磁场;步骤二:计算形状因子其中,c为屏蔽体形状因子,Δ为屏蔽体金属材料的厚度,μ为磁导率,ω=2πf0;步骤三:根据步骤二的形状因子反推出整个频段的屏蔽效能表达式为:SH=|cosh(γΔ)+cγsinh(γΔ)|;步骤四:根据关系式SE=20log10(SH)计算对数形式下的屏蔽效能,绘制屏蔽效能曲线。