公开(公告)号：CN104914164B

公开(公告)日：2017-12-29

申请号：CN201510260826.6

申请日：2015-05-21

申请人： 南京理工大学

发明人： 卜雄洙 ,  侯亚宾 ,  许有昌 ,  王新征 ,  张振 ,  宛静 ,  耿永健 ,  严曙 ,  孟哲

IPC分类号： G01N29/06

摘要： 本发明公开了一种基于DAC曲线的超声波C扫描成像方法，本方法将检测时超声探伤系统所获得的回波高度与所拟合的DAC曲线相应声程处的高度进行对比，得出两者dB差值，根据其差值或者最高回波高度所位于的曲线区间进行颜色值调制，结合探伤系统扫查装置所处的工件位置生成C扫描图像。本方法采用了DAC曲线，可补偿材料衰减、近场效果、声速散射及表面粗糙等因素产生的影响，在定量分析时可避免后续C扫描图像的边缘检测、分割等处理，可根据调制C扫描图像时的颜色设定，直观的确定出工件缺陷当量大小或范围，从而省略缺陷分析时的像素统计步骤，降低检测结果处理的复杂性。

公开(公告)号：CN103208120A

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN201310112319.9

申请日：2013-04-01

申请人： 南京理工大学

发明人： 卜雄洙 ,  王新征 ,  杨波 ,  李桂娟 ,  于靖

IPC分类号： G06T7/00

摘要： 本发明公开了一种切向和径向双近似圆综合的全景环带图像校正展开方法，本方法首先将全景环带图像分别视作切向与径向近似圆，利用最小二乘拟合圆心法计算切向近似圆圆心坐标参数，根据图像特征确定径向近似圆上两条半径所在的直线方程计算径向近似圆心坐标参数；再根据所得到的双近似圆圆心坐标参数及展开图几何特性，推导建立全景环带图像与柱面全景展开图像之间的仿射变换关系，并利用双线性插值法完成图像像素复制，展开全景图；最后将展开后图像的帧纵横比通过标定方法建立的图像映射关系式进行修正，从而获得高精度的全景环带几何校正展开图像。本发明使图像展开结果更真实，同时也提高了后期图像处理检测精度。

公开(公告)号：CN106856003B

公开(公告)日：2019-06-25

申请号：CN201611267528.0

申请日：2016-12-31

申请人： 南京理工大学

发明人： 卜雄洙 ,  王正成 ,  高敏杰 ,  孙斌 ,  王新征

IPC分类号： G06T7/70 ,  G06T5/00

摘要： 本发明公开了一种轴类工件侧表面缺陷检测图像的展开校正方法，该校正方法首先通过相机成像模型获取轴类工件侧表面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系，以及距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系；根据几何坐标转换方法获取轴侧表面空间点与距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点之间的坐标位置关系；再根据所获得的上述三种关系联立推导，建立轴侧表面与展开平面图像间的仿射变换关系，结合该仿射变换关系及插值法完成像素复制，实现检测图像的展开校正。本发明可真实还原轴侧表面实际检测情况，提高了后期图像处理检测精度。

公开(公告)号：CN106856003A

公开(公告)日：2017-06-16

申请号：CN201611267528.0

申请日：2016-12-31

申请人： 南京理工大学

发明人： 卜雄洙 ,  王正成 ,  高敏杰 ,  孙斌 ,  王新征

IPC分类号： G06T7/70 ,  G06T5/00

CPC分类号： G06T7/0004 ,  G06T5/006 ,  G06T2207/30164

摘要： 本发明公开了一种轴类工件侧表面缺陷检测图像的展开校正方法，该校正方法首先通过相机成像模型获取轴类工件侧表面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系，以及距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系；根据几何坐标转换方法获取轴侧表面空间点与距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点之间的坐标位置关系；再根据所获得的上述三种关系联立推导，建立轴侧表面与展开平面图像间的仿射变换关系，结合该仿射变换关系及插值法完成像素复制，实现检测图像的展开校正。本发明可真实还原轴侧表面实际检测情况，提高了后期图像处理检测精度。

公开(公告)号：CN104914164A

公开(公告)日：2015-09-16

申请号：CN201510260826.6

申请日：2015-05-21

申请人： 南京理工大学

发明人： 卜雄洙 ,  侯亚宾 ,  许有昌 ,  王新征 ,  张振 ,  宛静 ,  耿永健 ,  严曙 ,  孟哲

IPC分类号： G01N29/06

摘要： 本发明公开了一种基于DAC曲线的超声波C扫描成像方法，本方法将检测时超声探伤系统所获得的回波高度与所拟合的DAC曲线相应声程处的高度进行对比，得出两者dB差值，根据其差值或者最高回波高度所位于的曲线区间进行颜色值调制，结合探伤系统扫查装置所处的工件位置生成C扫描图像。本方法采用了DAC曲线，可补偿材料衰减、近场效果、声速散射及表面粗糙等因素产生的影响，在定量分析时可避免后续C扫描图像的边缘检测、分割等处理，可根据调制C扫描图像时的颜色设定，直观的确定出工件缺陷当量大小或范围，从而省略缺陷分析时的像素统计步骤，降低检测结果处理的复杂性。

公开(公告)号：CN103208120B

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201310112319.9

申请日：2013-04-01

申请人： 南京理工大学

发明人： 卜雄洙 ,  王新征 ,  杨波 ,  李桂娟 ,  于靖

IPC分类号： G06T7/00

摘要： 本发明公开了一种切向和径向双近似圆综合的全景环带图像校正展开方法，本方法首先将全景环带图像分别视作切向与径向近似圆，利用最小二乘拟合圆心法计算切向近似圆圆心坐标参数，根据图像特征确定径向近似圆上两条半径所在的直线方程计算径向近似圆心坐标参数；再根据所得到的双近似圆圆心坐标参数及展开图几何特性，推导建立全景环带图像与柱面全景展开图像之间的仿射变换关系，并利用双线性插值法完成图像像素复制，展开全景图；最后将展开后图像的帧纵横比通过标定方法建立的图像映射关系式进行修正，从而获得高精度的全景环带几何校正展开图像。本发明使图像展开结果更真实，同时也提高了后期图像处理检测精度。