LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法

    公开(公告)号:CN103293461B

    公开(公告)日:2015-03-04

    申请号:CN201310246505.1

    申请日:2013-06-20

    IPC分类号: G01R31/26 G01K11/00

    摘要: 本发明公布了LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法,包括(A)实施光模块变温实验,测量并得到工作电流与温度的关系曲线,并拟合成数学函数;(B)得到使加速因子取最大值的测试温度满足的方程;(C)将步骤(A)得到的数学函数带入步骤(B)给出的方程,得到最佳测试温度和相应的测试时间。本发明最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值,在此温度上进行实验,其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间,测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右,极大地缩短了测试时间。

    高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN103293423A

    公开(公告)日:2013-09-11

    申请号:CN201310246502.8

    申请日:2013-06-20

    IPC分类号: G01R31/00 G01R31/44

    摘要: 本发明公布了高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法,包括高温烤箱,在高温烤箱内安装有内部测试板,还包括外部测试板,内部测试板与外部测试板连接,外部测试板的输出端传输至计算机。本发明直接对整个光电模块进行加温实验,采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据,对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算,从而评估光电模块在正常情况下的寿命;且不需要剥离出LED即可进行测试,方便实验的成规模应用;最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值,在此温度上进行实验,其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间,测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右,极大地缩短了测试时间。

    LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法

    公开(公告)号:CN103293461A

    公开(公告)日:2013-09-11

    申请号:CN201310246505.1

    申请日:2013-06-20

    IPC分类号: G01R31/26 G01K11/00

    摘要: 本发明公布了LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法,包括(A)实施光模块变温实验,测量并得到工作电流与温度的关系曲线,并拟合成数学函数;(B)得到使加速因子取最大值的测试温度满足的方程;(C)将步骤(A)得到的数学函数带入步骤(B)给出的方程,得到最佳测试温度和相应的测试时间。本发明最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值,在此温度上进行实验,其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间,测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右,极大地缩短了测试时间。

    高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN103293423B

    公开(公告)日:2015-07-29

    申请号:CN201310246502.8

    申请日:2013-06-20

    IPC分类号: G01R31/00 G01R31/44

    摘要: 本发明公布了高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法,包括高温烤箱,在高温烤箱内安装有内部测试板,还包括外部测试板,内部测试板与外部测试板连接,外部测试板的输出端传输至计算机。本发明直接对整个光电模块进行加温实验,采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据,对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算,从而评估光电模块在正常情况下的寿命;且不需要剥离出LED即可进行测试,方便实验的成规模应用;最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值,在此温度上进行实验,其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间,测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右,极大地缩短了测试时间。

    一种带保护测试用故障数据模型库的数字化保护测试仪的测试方法

    公开(公告)号:CN102175940A

    公开(公告)日:2011-09-07

    申请号:CN201110030856.X

    申请日:2011-01-28

    IPC分类号: G01R31/00 G06F17/30

    摘要: 一种带保护测试用故障数据模型库的数字化保护测试仪,包括ARM处理器采用电以太网口与上位机连接,且分别连接三路光口A、B、C以通过光纤以太网输出数据报文给被测数字化保护装置;DSP:通过HPI口与ARM处理器连接;8路开入和4路开出:挂接在DSP的外部并行I/O总线上;FT3板:挂接在DSP的外部并行I/O总线上;其上FPGA的FT3板上有12路弱信号输出端和三组符合IEC60044-8规范的报文输出端以及光B码接口;GPS接口:与ARM处理器连接,还具有异常数据还原复现装置。本发明利用数字化保护测试仪中的故障数据模型库检验数字化保护装置防误动技术措施的有效性,从而完善数字化保护装置的性能。

    一种带保护测试用故障数据模型库的数字化保护测试仪的测试方法

    公开(公告)号:CN102175940B

    公开(公告)日:2013-08-07

    申请号:CN201110030856.X

    申请日:2011-01-28

    IPC分类号: G01R31/00 G06F17/30

    摘要: 一种带保护测试用故障数据模型库的数字化保护测试仪,包括ARM处理器采用电以太网口与上位机连接,且分别连接三路光口A、B、C以通过光纤以太网输出数据报文给被测数字化保护装置;DSP:通过HPI口与ARM处理器连接;8路开入和4路开出:挂接在DSP的外部并行I/O总线上;FT3板:挂接在DSP的外部并行I/O总线上;其上FPGA的FT3板上有12路弱信号输出端和三组符合IEC60044-8规范的报文输出端以及光B码接口;GPS接口:与ARM处理器连接,还具有异常数据还原复现装置。本发明利用数字化保护测试仪中的故障数据模型库检验数字化保护装置防误动技术措施的有效性,从而完善数字化保护装置的性能。

    一种基于融合指标的串联锂离子电池组旁路均衡方法

    公开(公告)号:CN114977423A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210712462.0

    申请日:2022-06-22

    IPC分类号: H02J7/00

    摘要: 本发明公开了一种基于融合指标的串联锂离子电池组旁路均衡方法,包括以下步骤:S1:数据采集,通过电池管理系统对处于动态工况的锂离子电池的信息量进行采集;S2:数据处理,首先设定一个指标切换标志位的初始值,即SW_EN=0;然后,根据安时积分法计算各电池单体的SOC,计算出电池组SOC的平均值及电池组电压的平均值,同时设置标准差的均衡阈值等;S3:状态判断,通过公式计算出S的数值;S4:指标切换,根据S的数值判断此时指标是否切换并给出指标切换的结果。S5:均衡处理,以SOC或电压作为均衡指标,根据电池组的标准差判断此时电池组是否需要均衡处理。本发明基于融合指标的旁路均衡法不仅可以弱化SOC计算误差对电池组均衡的影响,并且通过使用SOC及电压作为均衡指标相结合的方式,使得均衡效果得到明显提升。

    一种基于极限潮流的地区电网无功优化方法

    公开(公告)号:CN105186541A

    公开(公告)日:2015-12-23

    申请号:CN201510695170.0

    申请日:2015-10-23

    IPC分类号: H02J3/18

    摘要: 本发明公开了一种基于极限潮流的地区电网无功优化方法,包括:采集地区电网的电力信息进行潮流计算,获得潮流计算结果;根据潮流计算结果,获得电压偏移率和关口功率因数;确定电压偏移率和关口功率因数的权重系数,并获得电压偏移率和关口功率因数权重系数的加权和;判断加权和是否大于工程阀值。本发明可以适应不同负荷方式下的无功配置需求,根据不同负荷方式下的优化问题可行域的特征采取PQ-PV节点类型转换的方式和松弛变压器档位约束的方式,进而扩大无功配置等问题的优化空间,保证了电力系统无功配置在理论上充分满足负荷需求。