用于电磁脉冲测量的电场传感器

    公开(公告)号:CN104316780A

    公开(公告)日:2015-01-28

    申请号:CN201410521936.9

    申请日:2014-09-30

    IPC分类号: G01R29/14 G01R1/18 G01R1/04

    摘要: 本发明涉及一种用于电磁脉冲测量的电场传感器。其特点是:包括D-dot天线,该D-dot天线依次与有源积分电路、电光转换电路连接,从而在接收空间中的电场信号后将天线输出的微分信号转换为原始电场信号,最后调制为光信号通过光纤传输出去。本发明提供了一种用于电磁脉冲测量的电场传感器,采用了D-dot微分天线来接收电场信号,并研制了一种有源积分电路来处理天线的输出信号,从而提高了传感器的响应带宽与灵敏度。天线与传感器主体可通过螺纹孔安装与拆卸,从而使得电场传感器的灵敏度可以通过调节天线的长度来调节,且便于携带运输。

    用于电磁脉冲测量的电场传感器

    公开(公告)号:CN204166055U

    公开(公告)日:2015-02-18

    申请号:CN201420576275.5

    申请日:2014-09-30

    IPC分类号: G01R29/14 G01R1/18 G01R1/04

    摘要: 本实用新型涉及一种用于电磁脉冲测量的电场传感器。其特点是:包括D-dot天线,该D-dot天线依次与有源积分电路、电光转换电路连接,从而在接收空间中的电场信号后将天线输出的微分信号转换为原始电场信号,最后调制为光信号通过光纤传输出去。本实用新型提供了一种用于电磁脉冲测量的电场传感器,采用了D-dot微分天线来接收电场信号,并研制了一种有源积分电路来处理天线的输出信号,从而提高了传感器的响应带宽与灵敏度。天线与传感器主体可通过螺纹孔安装与拆卸,从而使得电场传感器的灵敏度可以通过调节天线的长度来调节,且便于携带运输。

    脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法

    公开(公告)号:CN113721284B

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202110898621.6

    申请日:2021-08-05

    摘要: 本发明公开了一种脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法,属于脉冲功率技术测量领域,具有吸收辐射场内的电子和测量辐射场内光子数与电子数之比的功能,包括二极管、真空实验腔、实验腔后端盖板及剂量测量系统和电流测量系统。二极管与真空实验腔连接为一体,实验腔后端盖板密封连接真空实验腔,剂量测量系统测量脉冲X射线的剂量分布;电流测量系统测量辐射场内电子;由剂量和能谱计算得到光子数,电流计算得到电子数,获得光子数与电子数之比。本发明在吸收辐射场中电子的同时对光子影响较小,有效减小了脉冲X射线效应试验中电子的干扰,建立了辐射场内的光子数与电子数之比测量系统,有助于后续试验中对脉冲X射线效应进行更准确的分析。

    一种设备电磁威胁的多等级QMU评估方法及系统

    公开(公告)号:CN115859690B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310117470.5

    申请日:2023-02-15

    摘要: 本发明属于电气电子设备的安全运行领域,具体提供的一种设备电磁威胁的多等级QMU评估方法及系统,包括以下步骤:步骤1,获取待测设备电磁效应的仿真结果,并根据该仿真结果获取得到待测设备面临的电磁威胁分布曲线;步骤2,获取待测设备带电状态下的电磁效应试验,得到实验数据;将得到的实验数据结合改进的核密度估计法得到待测设备多等级效应的概率分布曲线;步骤3,根据步骤2中得到的待测设备多等级效应的概率分布曲线定义设备的阈值分布曲线,并结合电磁威胁分布曲线和每个阈值分布曲线,对设备电磁威胁的多等级QMU进行评估;本发明填补了多等级QMU评估的空白,且QMU评估更准确合理。