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公开(公告)号：CN106603294A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611184734.5
申请日：2016-12-20
申请人： 国网新疆电力公司信息通信公司 , 四川大学
IPC分类号： H04L12/24
摘要： 本发明公开了一种基于电力通信网结构和状态的综合脆弱性评估方法，所述方法包括：步骤1：获得电力通信网结构脆特性对电力通信网脆弱性评估的影响；步骤2：获得电力通信网运行状态特性对电力通信网脆弱性评估的影响；步骤3：综合电力通信网结构特性和运行状态特性对电力通信网脆弱性评估的影响，获得最终电力通信网脆弱性评估结果，实现了融合网络当前运行状态后，能更加全面地对网络中的脆弱环节进行定位，并能根据不同网络拓扑结构与运行状态进行脆弱性评估的技术效果。
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公开(公告)号：CN106603294B
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201611184734.5
申请日：2016-12-20
申请人： 国网新疆电力公司信息通信公司 , 四川大学
IPC分类号： H04L12/24
摘要： 本发明公开了一种基于电力通信网结构和状态的综合脆弱性评估方法，所述方法包括：步骤1：获得电力通信网结构脆特性对电力通信网脆弱性评估的影响；步骤2：获得电力通信网运行状态特性对电力通信网脆弱性评估的影响；步骤3：综合电力通信网结构特性和运行状态特性对电力通信网脆弱性评估的影响，获得最终电力通信网脆弱性评估结果，实现了融合网络当前运行状态后，能更加全面地对网络中的脆弱环节进行定位，并能根据不同网络拓扑结构与运行状态进行脆弱性评估的技术效果。
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公开(公告)号：CN104573931B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201410808285.1
申请日：2014-12-22
申请人： 国网四川省电力公司攀枝花供电公司 , 四川大学
摘要： 本发明公开了一种基于TRIZ的变电设备状态检修制导方法，包括建立变电设备状态检修制导模型的步骤：设定TRIZ发明原理矩阵，采集待制导的变电设备状态检修的各类状态量的各个参数在TRIZ发明原理域的经验值序列，求取状态量重构的映射离散序列值，求取状态量与TRIZ发明原理之间的完全相关系数和构建变电设备制导模型；以及使用变电设备制导模型对变电设备进行制导的步骤：采集待制导的变电设备状态检修的各类状态量的各个参数与TRIZ发明原理域的实际序列，求取状态量重构的实际映射离散序列值，求取状态量与TRIZ发明原理之间的完全相关系数和求取变电设备制导结果。本发明提高了对电网220KV站用主变1号、2号变电设备工作状态的定期评价结果准确度。
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公开(公告)号：CN103293423B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201310246502.8
申请日：2013-06-20
摘要： 本发明公布了高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法，包括高温烤箱，在高温烤箱内安装有内部测试板，还包括外部测试板，内部测试板与外部测试板连接，外部测试板的输出端传输至计算机。本发明直接对整个光电模块进行加温实验，采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据，对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算，从而评估光电模块在正常情况下的寿命；且不需要剥离出LED即可进行测试，方便实验的成规模应用；最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值，在此温度上进行实验，其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间，测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右，极大地缩短了测试时间。
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公开(公告)号：CN104573931A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410808285.1
申请日：2014-12-22
申请人： 国网四川省电力公司攀枝花供电公司 , 四川大学
CPC分类号： G06Q50/06
摘要： 本发明公开了一种基于TRIZ的变电设备状态检修制导方法，包括建立变电设备状态检修制导模型的步骤：设定TRIZ发明原理矩阵，采集待制导的变电设备状态检修的各类状态量的各个参数在TRIZ发明原理域的经验值序列，求取状态量重构的映射离散序列值，求取状态量与TRIZ发明原理之间的完全相关系数和构建变电设备制导模型；以及使用变电设备制导模型对变电设备进行制导的步骤：采集待制导的变电设备状态检修的各类状态量的各个参数与TRIZ发明原理域的实际序列，求取状态量重构的实际映射离散序列值，求取状态量与TRIZ发明原理之间的完全相关系数和求取变电设备制导结果。本发明提高了对电网220KV站用主变1号、2号变电设备工作状态的定期评价结果准确度。
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公开(公告)号：CN103293423A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310246502.8
申请日：2013-06-20
摘要： 本发明公布了高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法，包括高温烤箱，在高温烤箱内安装有内部测试板，还包括外部测试板，内部测试板与外部测试板连接，外部测试板的输出端传输至计算机。本发明直接对整个光电模块进行加温实验，采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据，对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算，从而评估光电模块在正常情况下的寿命；且不需要剥离出LED即可进行测试，方便实验的成规模应用；最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值，在此温度上进行实验，其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间，测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右，极大地缩短了测试时间。
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公开(公告)号：CN103293461B
公开(公告)日：2015-03-04
申请号：CN201310246505.1
申请日：2013-06-20
摘要： 本发明公布了LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法，包括（A）实施光模块变温实验，测量并得到工作电流与温度的关系曲线，并拟合成数学函数；（B）得到使加速因子取最大值的测试温度满足的方程；（C）将步骤(A)得到的数学函数带入步骤（B）给出的方程，得到最佳测试温度和相应的测试时间。本发明最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值，在此温度上进行实验，其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间，测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右，极大地缩短了测试时间。
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公开(公告)号：CN103293461A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310246505.1
申请日：2013-06-20
摘要： 本发明公布了LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法，包括（A）实施光模块变温实验，测量并得到工作电流与温度的关系曲线，并拟合成数学函数；（B）得到使加速因子取最大值的测试温度满足的方程；（C）将步骤(A)得到的数学函数带入步骤（B）给出的方程，得到最佳测试温度和相应的测试时间。本发明最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值，在此温度上进行实验，其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间，测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右，极大地缩短了测试时间。
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公开(公告)号：CN203396859U
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201320355658.5
申请日：2013-06-20
摘要： 本实用新型公开了用于高温环境下光电模块性能测试的外部测试板，包括PCB电路安装板，还包括设置在PCB电路安装板上的I2C总线多路复用器、模拟多路复用器、DSP，I2C总线多路复用器的输入端与内部测试板通信连接，模拟多路复用器的输入端与内部测试板连接，I2C总线多路复用器的输出端与DSP连接，模拟多路复用器与DSP连接，DSP的输出端与电平转换芯片连接。本实用新型采集直接测试光电模块而不是将LED剥离后单独测试，从整体上避免了以LED寿命代替光电模块寿命的问题，使得光电模块的寿命更加真实、可靠。
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公开(公告)号：CN203396902U
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201320355659.X
申请日：2013-06-20
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本实用新型公布了用于高温环境下光电模块性能测试的内部测试板，包括有n个SFP插座，n为大于1的自然数，n个SFP插座同时分别与I2C总线多路复用器、模拟多路复用器连接，I2C总线多路复用器、模拟多路复用器均与数字信号处理器连接，数字信号处理器的输出端连接至电平转换芯片，电平转换芯片的输出端通过串口连接至上位机。本实用新型采集直接测试光电模块而不是将LED剥离后单独测试，从整体上避免了以LED寿命代替光电模块寿命的问题，使得光电模块的寿命更加真实、可靠。
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