一种驱动电路及其控制方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117458839A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311465080.3

    申请日:2023-11-06

    摘要: 本发明涉及电力电子技术领域,公开了一种驱动电路及其控制方法,包括:电压电路依次通过开关电路、电阻电路与功率器件的控制端连接;电压电路用于输出多组电压等级不同的正向电压、多组电压等级不同的负向电压及零电压;在功率器件的开通过程及关断过程的各个阶段,控制电路通过选通开关电路内部通路,以将相应等级的正向电压、或相应等级的负向电压或零电压输送至功率器件的控制端;控制电路通过控制开关电路内部通路的时间,以控制各等级电压施加至功率器件的控制端的时间。本发明在器件开通关断过程能够输出多个电压阶梯,实现器件的分级开通和关断,电平的选取方法遵循开通和关断过程延时低,米勒平台时间短,电压电流尖峰小和损耗少的原则。

    一种驱动器保护功能测试电路及测试方法

    公开(公告)号:CN116449168A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310382039.3

    申请日:2023-04-11

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明提供的一种驱动器保护功能测试电路及测试方法,该测试电路包括:短路保护功能测试电路、栅极欠压保护功能测试电路及高压有源钳位保护测试电路,其中,短路保护功能测试电路通过双路分压在待测驱动器的集电极/漏极与发射极/源极之间、功率发射极/源极与发射极/源极之间施加电压进行短路保护功能测试;栅极欠压保护功能测试电路通过串联分压方式调节待测驱动器的供电电压进行栅极欠压保护功能测试;高压有源钳位保护测试电路通过检测高压直流电源输出电流进行有源钳位保护测试。通过实施本发明,实现了驱动器的多种保护功能测试,解决了驱动器在最终出厂前无结构性破坏条件下的功能再测试。

    一种FPGA芯片配置数据下载电路及部署方法

    公开(公告)号:CN118394708A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410536083.X

    申请日:2024-04-30

    IPC分类号: G06F15/78 G06F13/42

    摘要: 本申请涉及电力电子技术领域,具体涉及一种FPGA芯片配置数据下载电路及部署方法,一定程度能够解决现有技术中难以根据FPGA芯片的使用场景灵活获取FPGA芯片配置数据的下载方式的问题。本申请提供的电路包括:下载方式集成模块、第一多路选择器和第二多路选择器;下载方式集成模块包括URAT模块、SPI模块、AHB模块中的至少两个;第一多路选择器根据FPGA芯片当前连接的引脚状态,得到FPGA芯片的配置数据的下载方式;第二多路选择器根据下载方式,向下载方式集成模块发送用于激活目标下载模块的选择信号;下载方式集成模块接收选择信号,激活下载模块,并通过下载模块将FPGA芯片的配置数据下载至FPGA芯片。

    一种栅极驱动芯片
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115712046A

    公开(公告)日:2023-02-24

    申请号:CN202211513563.1

    申请日:2022-11-29

    IPC分类号: G01R31/26 H03K17/567 H03M1/12

    摘要: 本发明公开了一种栅极驱动芯片,包括:采样电路、驱动电路以及比较器电路,采样电路连接被驱动器件,用于采集被驱动器件的状态参量;比较器电路连接被驱动器件,用于监测被驱动器件的电压信号是否大于保护阈值,当大于保护阈值时,输出故障信号;驱动电路连接被驱动器件,用于接收栅极驱动信号驱动被驱动器件。通过实施本发明,设置采样电路,实现了对被驱动器件的相关状态参量的采集;设置比较器电路,能够进行故障监测;设置驱动电路,能够驱动被驱动器件工作。由此,该栅极驱动芯片通过故障监测以及状态参量的采集,实现了被驱动器件的在线监测;无需在驱动器中搭建复杂的电路,简化了栅极驱动器的设计难度,降低了设备体积,提升了设备性能。

    一种换流过程的IGBT短路保护测试电路及测试方法

    公开(公告)号:CN115128426A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202210898845.1

    申请日:2022-07-28

    IPC分类号: G01R31/26 G01R31/52

    摘要: 本发明公开了一种换流过程的IGBT短路保护测试电路及测试方法,电路包括并联连接的测试电路和被测电路;其中测试电路中包括储能电路为被测电路提供能量,被测电路包括IGBT器件及与之并联的二极管,通过测试电路中储能电路产生二极管电流,将电流转换至与之并联的IGBT器件并形成短路回路,实现IGBT器件与二极管在换流过程中的短路模式,两个电路均包括多个控制开关,控制开关基于控制逻辑时序模拟换流过程中发生IGBT短路故障并进行短路保护测试,可有效实现IGBT在与二极管换流过程中发生误开通而产生的短路保护验证,完善IGBT短路保护检测验证方法,为IGBT器件的短路耐受设计、换流器短路保护配置等应用提供技术支撑。