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公开(公告)号：CN101641761A
公开(公告)日：2010-02-03
申请号：CN200780046398.0
申请日：2007-12-12
Applicant: 塞莫费尼根股份有限公司
CPC classification number: H01J49/0418 , H01J49/0045 , H01J49/0404 , H01J49/4225
Abstract: 一种双离子阱质量分析仪包括相邻放置且分别保持较高和较低压力的第一和第二二维离子阱。可以在第一阱中执行倾向高压的功能(冷却和碎裂)，在第二阱中执行倾向低压的功能(分离和分析扫描)。可以在第一和第二阱之间通过具有小孔的平板透镜传输离子，其中该小孔提供了泵的限制，并允许在两个阱中保持不同的压力。该双离子阱质量分析仪的差压环境有助于在不牺牲离子捕获和碎裂效率的情况下，使用高分辨率的分析扫描模式。
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公开(公告)号：CN101641761B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200780046398.0
申请日：2007-12-12
Applicant: 塞莫费尼根股份有限公司
CPC classification number: H01J49/0418 , H01J49/0045 , H01J49/0404 , H01J49/4225
Abstract: 一种双离子阱质量分析仪包括相邻放置且分别保持较高和较低压力的第一和第二二维离子阱。可以在第一阱中执行倾向高压的功能(冷却和碎裂)，在第二阱中执行倾向低压的功能(分离和分析扫描)。可以在第一和第二阱之间通过具有小孔的平板透镜传输离子，其中该小孔提供了泵的限制，并允许在两个阱中保持不同的压力。该双离子阱质量分析仪的差压环境有助于在不牺牲离子捕获和碎裂效率的情况下，使用高分辨率的分析扫描模式。
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公开(公告)号：CN101048845B
公开(公告)日：2010-06-30
申请号：CN200580034905.X
申请日：2005-07-29
Applicant: 塞莫费尼根股份有限公司
CPC classification number: H01J49/427
Abstract: 通过调节场以及利用弹射频率波形，在离子阱中分离在预定狭窄质荷比范围中的离子。这样，质量-电荷比分离窗口被控制，并在没有增加频率分量数目情况下具有提高的分辨率。
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公开(公告)号：CN101048845A
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN200580034905.X
申请日：2005-07-29
Applicant: 塞莫费尼根股份有限公司
CPC classification number: H01J49/427
Abstract: 通过调节场以及利用弹射频率波形，在离子阱中分离在预定狭窄质荷比范围中的离子。这样，质量－电荷比分离窗口被控制，并在没有增加频率分量数目情况下具有提高的分辨率。
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公开(公告)号：CN102779716B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201210245627.4
申请日：2007-12-12
Applicant: 塞莫费尼根股份有限公司
CPC classification number: H01J49/0418 , H01J49/0045 , H01J49/0404 , H01J49/4225
Abstract: 一种双离子阱质量分析仪包括相邻放置且分别保持较高和较低压力的第一和第二二维离子阱。可以在第一阱中执行倾向高压的功能(冷却和碎裂)，在第二阱中执行倾向低压的功能(分离和分析扫描)。可以在第一和第二阱之间通过具有小孔的平板透镜传输离子，其中该小孔提供了泵的限制，并允许在两个阱中保持不同的压力。该双离子阱质量分析仪的差压环境有助于在不牺牲离子捕获和碎裂效率的情况下，使用高分辨率的分析扫描模式。
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公开(公告)号：CN102779716A
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：CN201210245627.4
申请日：2007-12-12
Applicant: 塞莫费尼根股份有限公司
CPC classification number: H01J49/0418 , H01J49/0045 , H01J49/0404 , H01J49/4225
Abstract: 一种双离子阱质量分析仪包括相邻放置且分别保持较高和较低压力的第一和第二二维离子阱。可以在第一阱中执行倾向高压的功能(冷却和碎裂)，在第二阱中执行倾向低压的功能(分离和分析扫描)。可以在第一和第二阱之间通过具有小孔的平板透镜传输离子，其中该小孔提供了泵的限制，并允许在两个阱中保持不同的压力。该双离子阱质量分析仪的差压环境有助于在不牺牲离子捕获和碎裂效率的情况下，使用高分辨率的分析扫描模式。
