SOI衬底的制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101504930A

    公开(公告)日:2009-08-12

    申请号:CN200910004867.3

    申请日:2009-01-21

    CPC classification number: H01L21/76254

    Abstract: 本发明的目的之一在于:提供一种可以减少贴合不良,并可以形成大面积的单晶半导体膜的SOI衬底的制造方法。一种SOI衬底的制造方法,其步骤如下:在形成有多个第一单晶半导体膜的第一衬底上形成用作接合层的第一绝缘膜;对第一绝缘膜进行平坦化之后,在第一绝缘膜上贴合单晶半导体膜并进行热处理以形成第二单晶半导体膜;接下来,将第一和第二单晶半导体膜用作种子层形成第三单晶半导体膜;在通过对第三单晶半导体膜引入离子形成脆化层之后,在第三单晶半导体膜上形成用作接合层的第二绝缘膜;将第二衬底贴合在第二绝缘膜上并进行热处理;夹着第二绝缘膜在第二衬底上固定第三单晶半导体膜的一部分。

    SOI衬底的制造方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101504930B

    公开(公告)日:2013-10-16

    申请号:CN200910004867.3

    申请日:2009-01-21

    CPC classification number: H01L21/76254

    Abstract: 本发明的目的之一在于:提供一种可以减少贴合不良,并可以形成大面积的单晶半导体膜的SOI衬底的制造方法。一种SOI衬底的制造方法,其步骤如下:在形成有多个第一单晶半导体膜的第一衬底上形成用作接合层的第一绝缘膜;对第一绝缘膜进行平坦化之后,在第一绝缘膜上贴合单晶半导体膜并进行热处理以形成第二单晶半导体膜;接下来,将第一和第二单晶半导体膜用作种子层形成第三单晶半导体膜;在通过对第三单晶半导体膜引入离子形成脆化层之后,在第三单晶半导体膜上形成用作接合层的第二绝缘膜;将第二衬底贴合在第二绝缘膜上并进行热处理;夹着第二绝缘膜在第二衬底上固定第三单晶半导体膜的一部分。

    电子设备
    7.
    发明公开
    电子设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN117178222A

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202280029579.7

    申请日:2022-04-28

    Abstract: 提供一种亮度高的电子设备。电子设备包括第一显示装置、第二显示装置以及光学元件。第一显示装置包括第一发光元件,第二显示装置包括第二发光元件。从第一发光元件发射的第一光的颜色与从第二发光元件发射的第二光的颜色不同。光学元件设置在第一显示装置与第二显示装置之间。光学元件包括第一导光板和第二导光板。

    半导体装置的制造方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101599464B

    公开(公告)日:2013-10-16

    申请号:CN200910141555.7

    申请日:2009-06-04

    CPC classification number: H01L21/84 H01L21/76251

    Abstract: 本发明的目的之一在于制造适合批量生产的半导体衬底、以及使用该半导体衬底的半导体装置。在所公开的发明的一种方式中,在支撑衬底上形成至少具有绝缘层、第一电极、第一杂质半导体层的叠层体;在第一杂质半导体层上形成添加有赋予一种导电类型的杂质元素的第一半导体层;在第一半导体层上利用与第一半导体层不同的条件形成添加有赋予一种导电类型的杂质元素的第二半导体层;通过固相生长法,提高第一半导体层及第二半导体层的结晶性,形成第二杂质半导体层;对第二杂质半导体层添加赋予一种导电类型的杂质元素,并添加赋予与一种导电类型不同的导电类型的杂质元素,并且隔着栅绝缘层形成栅电极层,形成源电极层或漏电极层。

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