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公开(公告)号:CN1823179B
公开(公告)日:2012-03-28
申请号:CN200480020394.1
申请日:2004-07-14
CPC classification number: C22C5/06 , C22F1/14 , C23C14/3414
Abstract: 一种Ag系溅射靶(6),在和溅射面平行的面上切断该溅射靶而使多个溅射面露出,在每个露出的溅射面上选择多个位置,通过下式基于全部的选择位置的结晶粒径而算出值A1以及值B1,当这些值A1以及值B1中的大的值被称为结晶粒径的3维偏差时,该结晶粒径的3维偏差为18%以下。A1=(Dmax-Dave)/Dave×100(%),B1=(Dave-Dmin)/Dave×100(%),Dmax:全部选择位置的结晶粒径D的最大值,Dmin:全部选择位置的结晶粒径D的最小值,Dave:全部选择位置的结晶粒径D的平均值。
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公开(公告)号:CN1550573A
公开(公告)日:2004-12-01
申请号:CN200410044707.9
申请日:2004-05-17
CPC classification number: C22C5/06 , C23C14/3414
Abstract: 一种Ag-Bi基合金溅射靶以及该溅射靶的制备方法,其特征在于,溅射靶的析出Bi强度为0.01原子%-1或以下,其是根据下式,基于X-射线衍射的分析结果计算出来的。析出Bi强度=[IBi(102)/(IAg(111)+IAg(200)+IAg(220)+IAg(311))]/[Bi]该溅射靶的Bi固溶于Ag中。根据本发明,在使用该溅射靶形成薄膜时,可以抑制其薄膜之中Bi含量相对于溅射靶Bi含量的显著降低。
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公开(公告)号:CN103154308A
公开(公告)日:2013-06-12
申请号:CN201180048311.X
申请日:2011-10-05
CPC classification number: C23C14/3414 , B22F3/115 , B22F3/15 , B22F3/24 , C22C1/0416 , C22C21/00 , C22F1/04 , C23C16/45504 , C23C16/4585 , C23C16/4586
Abstract: 本发明提供使用了溅射钯时的成膜速度(溅射速率)被提高、理想的是能够防止飞溅的发生的Al基合金溅射钯。本发明的Al基合金溅射钯含有Ta。优选的是含有Al及Ta的Al-Ta系金属间化合物的平均粒子直径为0.005μm以上且1.0μm以下,且Al-Ta系金属间化合物的平均粒子间距离满足0.01μm以上且10.0μm以下。
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公开(公告)号:CN102057074A
公开(公告)日:2011-05-11
申请号:CN200980121618.0
申请日:2009-06-08
CPC classification number: C22C1/0416 , B22F2998/10 , C23C14/3414 , B22F9/082 , B22F1/0003
Abstract: 本发明提供一种能够以高成品率制造含有稀土类元素、和熔点比Al高的高熔点元素的Al基合金溅射靶材的方法。本发明涉及Al基合金溅射靶材的制造方法,包括如下工序:准备由雾化法制造的含有稀土类元素的Al基合金的第一粉末的工序、将第一粉末和含有一种以上的熔点比Al高的高熔点元素X的第二粉末进行混合的工序、和使第一粉末和第二粉末的混合粉末致密化的工序,在所述混合工序中,第一粉末的最大粒径(a)为10~200μm,所述第二粉末的最大粒径(b)为10~150μm,所述第一粉末的最大粒径(a)和所述第二粉末的最大粒径(b)的比(a)/(b)为0.5~5。
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公开(公告)号:CN103154308B
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201180048311.X
申请日:2011-10-05
CPC classification number: C23C14/3414 , B22F3/115 , B22F3/15 , B22F3/24 , C22C1/0416 , C22C21/00 , C22F1/04 , C23C16/45504 , C23C16/4585 , C23C16/4586
Abstract: 本发明提供使用了溅射靶时的成膜速度(溅射速率)被提高、理想的是能够防止飞溅的发生的Al基合金溅射靶。本发明的Al基合金溅射靶含有Ta。优选的是含有Al及Ta的Al-Ta系金属间化合物的平均粒子直径为0.005μm以上且1.0μm以下,且Al-Ta系金属间化合物的平均粒子间距离满足0.01μm以上且10.0μm以下。
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公开(公告)号:CN103348036B
公开(公告)日:2015-09-23
申请号:CN201180066834.7
申请日:2011-12-20
IPC: C23C14/34 , C22C9/00 , C22C21/00 , H01L21/28 , H01L21/285
CPC classification number: C23C14/3407 , C22C1/02 , C22C9/00 , C22C21/00 , C23C14/3414
Abstract: 在将距Al基合金或Cu基合金溅射靶的最表面1mm以内的深度的溅射面法线方向的结晶方位 ±15°、 ±15°、 ±15°、 ±15°及 ±15°的合计面积率设为P值时,满足下述(1)及/或(2)的要件,由此可提高预溅射时以及接着进行的向基板等的溅射时的成膜速度,且能够抑制飞溅等溅射不良。其中,(1)相对于所述P值的 ±15°的面积率PA:40%以下,(2)相对于所述P值的 ±15°和 ±15°的合计面积率PB:20%以上。
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公开(公告)号:CN1280446C
公开(公告)日:2006-10-18
申请号:CN200410044707.9
申请日:2004-05-17
CPC classification number: C22C5/06 , C23C14/3414
Abstract: 一种Ag-Bi基合金溅射靶以及该溅射靶的制备方法,其特征在于,溅射靶的析出Bi强度为0.01原子%-1或以下,其是根据下式,基于X-射线衍射的分析结果计算出来的。析出Bi强度=[IBi(102)/(IAg(111)+IAg(200)+IAg(220)+IAg(311))]/[Bi]该溅射靶的Bi固溶于Ag中。根据本发明,在使用该溅射靶形成薄膜时,可以抑制其薄膜之中Bi含量相对于溅射靶Bi含量的显著降低。
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公开(公告)号:CN103348036A
公开(公告)日:2013-10-09
申请号:CN201180066834.7
申请日:2011-12-20
IPC: C23C14/34 , C22C9/00 , C22C21/00 , H01L21/28 , H01L21/285
CPC classification number: C23C14/3407 , C22C1/02 , C22C9/00 , C22C21/00 , C23C14/3414
Abstract: 在将距Al基合金或Cu基合金溅射靶的最表面1mm以内的深度的溅射面法线方向的结晶方位 ±15°、 ±15°、 ±15°、 ±15°及 ±15°的合计面积率设为P值时,满足下述(1)及/或(2)的要件,由此可提高预溅射时以及接着进行的向基板等的溅射时的成膜速度,且能够抑制飞溅等溅射不良。其中,(1)相对于所述P值的 ±15°的面积率PA:40%以下,(2)相对于所述P值的 ±15°和 ±15°的合计面积率PB:20%以上。
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公开(公告)号:CN1823179A
公开(公告)日:2006-08-23
申请号:CN200480020394.1
申请日:2004-07-14
CPC classification number: C22C5/06 , C22F1/14 , C23C14/3414
Abstract: 一种Ag系溅射靶(6),在和溅射面平行的面上切断该溅射靶而使多个溅射面露出,在每个露出的溅射面上选择多个位置,通过下式基于全部的选择位置的结晶粒径而算出值A1以及值B1,当这些值A1以及值B1中的大的值被称为结晶粒径的3维偏差时,该结晶粒径的3维偏差为18%以下。A1=(Dmax-Dave)/Dave×100(%),B1=(Dave-Dmin)/Dave×100(%),Dmax:全部选择位置的结晶粒径D的最大值,Dmin:全部选择位置的结晶粒径D的最小值,Dave:全部选择位置的结晶粒径D的平均值。
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公开(公告)号:CN108496241A
公开(公告)日:2018-09-04
申请号:CN201680079797.6
申请日:2016-10-21
Applicant: 株式会社钢臂功科研
IPC: H01L21/3205 , C23C14/14 , C23C14/34 , H01L21/28 , H01L21/285 , H01L21/768 , H01L23/532
CPC classification number: C23C14/14 , C23C14/34 , H01L21/28 , H01L21/285 , H01L21/3205 , H01L21/768 , H01L23/532
Abstract: 提供一种布线结构,其特征在于,是在Al-Ta合金薄膜的至少表面和侧面的任意一方的面上形成有Al-Ta氧化膜的布线结构,所述Al-Ta合金薄膜的Ta添加量为0.3~3.0原子%,且Cu含量为0.03原子%以下,所述Al-Ta氧化膜的膜厚为3~10nm,并且,所述Al-Ta氧化膜中的Ta的原子%浓度比Al-Ta合金薄膜中的Ta的原子%浓度低。