制造半导体器件的方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104183507B

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201410226146.8

    申请日:2014-05-27

    Abstract: 本发明涉及制造半导体器件的方法,以稳定地除去在密封步骤中在树脂提供路线中形成的树脂主体。引线框架在其子浇道部分中具有子通孔。在子浇道部分沿其延伸的第一方向上,子通孔具有位于主浇道部分一侧的第一部分和相对于第一部分位于浇口部分一侧的第二部分。在平面图中,子通孔的在第一方向上的开口宽度大于子通孔的在与第一方向垂直的第二方向上的开口宽度。在平面图中,子通孔的在第二方向上的开口宽度从第一部分向浇口部分一侧的第二部分的末端部分逐渐减小。

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