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公开(公告)号：CN101743456B
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN200880012770.0
申请日：2008-02-21
申请人： 米斯德国有限公司
IPC分类号： G01D5/12
CPC分类号： G01D5/12
摘要： 本发明描述了一种具有比例尺的绝对测量系统，由至少两个磁片段构成的组组成，其中至少一个组中的磁片段在测量方向上的长度相互一致，而不同组的磁片段的长度互不相同。对于在单线比例尺上具有多于两个传感器的设置来说，提出多级的相位差方法，这些方法在测量长度很大的同时导致高分辨率和测量精度，并且例如可用各向异性的磁阻传感器实现360°的唯一角度测量区域。本发明的主旨在图6a中得到最好体现。
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公开(公告)号：CN102099702A
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200980128084.4
申请日：2009-07-17
申请人： 米斯德国有限公司
摘要： 用于检测测量装置周围磁性的测量装置，具有由至少两个向一行方向延伸的行设置的磁阻效应传感元件组成的传感器行和一个产生磁控制场的磁控制场装置，磁控制场具有对着行方向的磁场分量，其场强在行方向上变化，其中，行方向上的这种场强分布在形成传感器行的传感元件至少两个在行方向上依次设置的传感器边缘上没有过零点和/或者最大值或者最小值。
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公开(公告)号：CN101743456A
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200880012770.0
申请日：2008-02-21
申请人： 米斯德国有限公司
IPC分类号： G01D5/12
CPC分类号： G01D5/12
摘要： 描述了一种具有比例尺的绝对测量系统，由至少两个磁片段构成的组组成，其中至少一个组中的磁片段在测量方向上的长度相互一致，而不同组的磁片段的长度互不相同。对于在单线比例尺上具有多于两个传感器的设置来说，提出多级的相位差方法，这些方法在测量长度很大的同时导致高分辨率和测量精度，并且例如可用各向异性的磁阻传感器实现360°的唯一角度测量区域。本发明的主旨在图6a中得到最好体现。
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公开(公告)号：CN102473503B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201080035097.X
申请日：2010-09-14
申请人： 米斯德国有限公司
IPC分类号： H01F10/08
CPC分类号： G01R33/1269 , B82Y25/00 , H01F1/0054 , H01F41/16
摘要： 本发明涉及一种用于制造电气元件的方法，电气元件具有至少两个电气触点和设置在衬底上的由导电材料构成的纳米微粒、由磁性材料构成的纳米微粒和/或由能磁化的材料构成的纳米微粒，其中借助于印刷方法将包含所述纳米微粒和/或被壳层包围的纳米微粒的墨水涂敷在所述衬底上。
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公开(公告)号：CN102099702B
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN200980128084.4
申请日：2009-07-17
申请人： 米斯德国有限公司
摘要： 用于检测测量装置周围磁性的测量装置，具有由至少两个向一行方向延伸的行设置的磁阻效应传感元件组成的传感器行和一个产生磁控制场的磁控制场装置，磁控制场具有对着行方向的磁场分量，其场强在行方向上变化，其中，行方向上的这种场强分布在形成传感器行的传感元件至少两个在行方向上依次设置的传感器边缘上没有过零点和/或者最大值或者最小值。
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公开(公告)号：CN102473503A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201080035097.X
申请日：2010-09-14
申请人： 米斯德国有限公司
IPC分类号： H01F10/08
CPC分类号： G01R33/1269 , B82Y25/00 , H01F1/0054 , H01F41/16
摘要： 本发明涉及一种用于制造电气元件的方法，电气元件具有至少两个电气触点和设置在衬底上的由导电材料构成的纳米微粒、由磁性材料构成的纳米微粒和/或由能磁化的材料构成的纳米微粒，其中借助于印刷方法将包含所述纳米微粒和/或被壳层包围的纳米微粒的墨水涂敷在所述衬底上。
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