公开(公告)号：EP2144052A1

公开(公告)日：2010-01-13

申请号：EP08012619.6

申请日：2008-07-11

Applicant: Dr. Schenk GmbH Industriemesstechnik

Inventor： Vetter, Erich ,  Wick, Manfred, Theo

IPC: G01N21/896 ,  G01N21/89

CPC classification number: G01N21/896 ,  G01N21/8901 ,  G01N2021/8427 ,  G01N2021/8627 ,  G01N2021/8825 ,  G01N2021/8854 ,  G01N2021/8908

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Detektieren und Klassifizieren eines Defekts in einem Detektionsbereich eines zu untersuchenden Gegenstandes, z.B. eines Bahnmaterials, bei dem mittels einer optischen Hellfeldanordnung ein Hellfeldbild und mittels einer Dunkelfeldanordnung ein Dunkelfeldbild des Detektionsbereichs aufgenommen werden, ein Auswertungsbild des Detektionsbereichs durch Überlagerung des Hellfeldbildes und des Dunkelfeldbildes erzeugt wird, ein Defekt des Gegenstandes in dem Auswertungsbild ermittelt wird und der Defekt anhand seiner Erscheinung in dem Auswertungsbild mindestens einer vorbestimmten Defektklasse zugeordnet wird. Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zur Detektion und Klassifikation eines Defekts in einem Detektionsbereich eines zu untersuchenden Gegenstandes.

Abstract translation: 该方法涉及通过叠加亮场图像和暗场图像来产生检测区域的评估图像。 在评估图像中确定对象（14）的缺陷（10,16）。 基于其在两个缺陷类别的预定评估图像中的外观来分配缺陷。 包括用于检测和分类待检测对象的检测区域中的空间取向的缺陷或几何对准的结构或表面区域的方法的装置的独立权利要求。 纤维材料如玻璃带或塑料膜，以及诸如平板或纸张的电镀材料，以及诸如盒子或光学透镜的普通货物以及涂料等涂料，特别是用于实现检测和分级 方法。

公开(公告)号：EP2253949A1

公开(公告)日：2010-11-24

申请号：EP09006905.5

申请日：2009-05-22

Applicant: Dr. Schenk GmbH Industriemesstechnik

Inventor： Wick, Dr. Manfred Theo

IPC: G01N21/896

CPC classification number: G01N21/896 ,  G01N21/21 ,  G01N21/958 ,  G01N2021/1774 ,  G01N2021/8965

Abstract: Vorrichtung zum Detektieren eines optisch ablenkenden und/oder polarisationsdrehenden Fehlers in einem Inspektionsbereich (10) eines zu untersuchenden Gegenstands (12), umfassend mindestens eine Lichtquelle (14) zum Ausstrahlen von gerichtetem Licht (16) in Richtung des Inspektionsbereichs, einen für das Licht der Lichtquelle empfindlichen Sensor (18), welcher relativ zu der Lichtquelle angeordnet ist, um die Intensität des von dem Gegenstand reflektierten oder transmittierten Lichts der Lichtquelle in wenigstens einer Richtung ortsaufgelöst zu erfassen, und eine mit dem Sensor verbundene Auswerteeinheit, die dafür ausgelegt ist anhand der Stärke einer lokalen Abweichung der Intensität des durch den Sensor erfassten Lichts bezogen auf eine Referenzintensität das Ausmaß der ablenkenden und/oder polarisationsdrehenden Wirkung eines Fehlers zu ermitteln. Die Erfindung betrifft auch ein entsprechendes Verfahren zum Detektieren eines optisch ablenkenden und/oder polarisationsdrehenden Fehlers.

Abstract translation: 该装置具有一个光源（14），例如 LED用于在检查区域（10）的方向发射定向光（16）。 的传感器（18），例如 线扫描相机传感器，所述光敏感相对布置到所述源，以检测的强度的光反mitted或以空间分辨的方式从物体反射到（12）。 与传感器bestimmt的误差依赖于光的检测强度的相对于参考强度的局部变化的强度的偏转和/或偏振旋转效应的度量连接的评估单元。 因此独立claimsoft包括用于光学地偏转和/或偏振在一个对象的检查区域旋转误差被测试用于检测方法。

公开(公告)号：EP2253948A1

公开(公告)日：2010-11-24

申请号：EP09006906.3

申请日：2009-05-22

Applicant: Dr. Schenk GmbH Industriemesstechnik

Inventor： Vetter, Erich ,  Wilkens, Dr. Ludger

IPC: G01N21/89 ,  G01N21/896 ,  G01B11/30

CPC classification number: G01N21/8903 ,  G01N21/21 ,  G01N21/455 ,  G01N21/896 ,  G01N2021/1774 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/8908 ,  G01N2021/8962 ,  G01N2021/9583 ,  G01N2201/0627 ,  G01N2201/0631 ,  G01N2201/0634

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum optischen Untersuchen eines Gegenstands (14), umfassend eine Beleuchtung (10) zum Ausleuchten eines Inspektionsbereichs (12) des Gegenstands (14), welche eine erste Lichtquelle (22) zur Emission einer ersten Art von Licht (24) und eine zweite Lichtquelle (28) zur Emission einer zweiten Art von Licht (28) aufweist sowie eine zwischen den Lichtquellen (22,26) und dem Gegenstand (14) angeordnete Blende (34), welche für die erste Art von Licht (24) undurchlässig und für die zweite Art von Licht (28) durchlässig ist und welche eine Kante (36) aufweist, die eine Leuchtfläche der Beleuchtung (10) bezüglich der ersten Art von Licht (24) in einen hellen und einen dunklen Bereich (38,40) teilt; und einen für beide Arten von Licht (24,28) empfindlichen Sensor (16) zum Erfassen der Intensität des von dem Gegenstand (14) transmittierten oder reflektierten Lichts (24,28) der Beleuchtung (10), wobei der Sensor (16) und die Kante (36) der Blende (34) derart miteinander ausgerichtet sind, dass die bei einem fehlerfreien Inspektionsbereich (12) von dem Sensor (16) erfasste Intensität der ersten Art von Licht (24) etwa 50 % der Intensität entspricht, die ohne Blende (34) gemessen würde. Die Erfindung betrifft auch ein entsprechendes Verfahren zum optischen Untersuchen eines Gegenstands.

Abstract translation: 光学装置具有用于照射物体的检查区域（12）的照明单元（10）。 提供光源用于发射一种类型的光，其中提供另一光源用于发射另一种类型的光。 在光源和物体之间布置有孔（34）。 还包括用于物体的光学检查方法的独立权利要求。

公开(公告)号：EP2253948B1

公开(公告)日：2013-01-09

申请号：EP09006906.3

申请日：2009-05-22

Applicant: Dr. Schenk GmbH Industriemesstechnik

Inventor： Vetter, Erich ,  Wilkens, Dr. Ludger

IPC: G01N21/89 ,  G01N21/896

CPC classification number: G01N21/8903 ,  G01N21/21 ,  G01N21/455 ,  G01N21/896 ,  G01N2021/1774 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/8908 ,  G01N2021/8962 ,  G01N2021/9583 ,  G01N2201/0627 ,  G01N2201/0631 ,  G01N2201/0634