Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Eigenspannungen in schmalen Metallbändern
    3.
    发明公开
    Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Eigenspannungen in schmalen Metallbändern 失效
    Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Eigenspannungen in schmalenMetallbändern。

    公开(公告)号:EP0332721A1

    公开(公告)日:1989-09-20

    申请号:EP88104053.9

    申请日:1988-03-15

    CPC classification number: B21B38/02 G01B9/08 G01B11/16

    Abstract: Die Erfindung betrifft Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Eigenspannungen in schmalen Metallbändern. Es werden der Drallwinkel α, die Rollkrümmung RK und die Säbelförmigkeit SF an Probestreifen (8) gemessen, welche aus dem Band (7) entnom­men werden. Hierzu wird der Probestreifen (8) in einem Proben­halter (2) eingespannt. Trifft ein Lichtbündel (5) auf den Probestreifen (8), so wirft der Probestreifen (8) einen Proben­schatten (10) bzw. reflektiert an seiner blanken Oberfläche das Lichtbündel (5) auf einen Bildschirm (4). Die Auslenkungen A₁, A₂, A₃, welche der Probenschatten (10) bzw. das reflektierte Lichtbündel (11) in definiertem Abstand H von der Einspann­stelle (9) des Probestreifens (8) von der optischen Achse (6) des Lichtbündels (5) erfahren, sind ein Maß für die genannten Größen.

    Abstract translation: 在从带(7)取出的样品条(8)上测量扭转角α,永久变形RK和纵向曲率SF。 为此,将样品条(8)夹在样品架(2)中。 如果光束(5)撞击在样品条(8)上,样品条(8)投射一个试样阴影(10),或将其明亮的表面上的光束(5)反射到屏幕(4)上。 样本阴影(10)或反射光束(11)相对于光轴(6)从样本条(8)的夹紧点(9)以规定距离H经历的偏转A1,A2,A3 )是所述变量的量度。

    OPTICAL MEASURING INSTRUMENT
    4.
    发明公开
    OPTICAL MEASURING INSTRUMENT 失效
    OPTISCHES MESSINSTRUMENT。

    公开(公告)号:EP0296252A1

    公开(公告)日:1988-12-28

    申请号:EP88900791.0

    申请日:1988-01-08

    Inventor: SUGITA, Yoshio

    CPC classification number: G01B9/08 C07K5/0808

    Abstract: An optical measuring instrumentwherein a turn-table for mounting a work is provided on a moving stage to automatically measure the contour and shape of the work, and the moving stage and the turn-table are controlled while being interlocked to the operation of an edge sensor for measuring the contour.

    Abstract translation: 通过经由变焦透镜(9)将其图像投影到投影屏幕26上并使用边缘传感器(10)检测图像的轮廓来测量作品的形状,该边缘传感器识别来自明亮背景的暗图像 。 工作安装在由步进电机(3,4)驱动的X-Y平移台顶部的旋转台(1)上。 首先,工作是任意定位的,其原理方面,例如 通过在X和Y方向扫描形状来发现长方形的长边。 基于原理线的角度,使工作台(1)旋转,使得工件可以沿X轴对齐。 然后以最佳精度完成形状的全面测量,结果显示在计数器(17),CRT屏幕(18)和/或打印机上。

    PROJECTION SYSTEM
    10.
    发明公开
    PROJECTION SYSTEM 审中-公开
    投影系统

    公开(公告)号:EP2959681A1

    公开(公告)日:2015-12-30

    申请号:EP14710829.4

    申请日:2014-02-24

    Inventor: THIELEMANS, Hans

    Abstract: The present invention relates to a metrology system (100) for dimensional measurement of an object (200) comprising a light-projection device (110), LPD, configured to project an image (112) onto the object (200); a position-measurement device (120), PMD, having a measurement volume, configured to determine the position and/or the orientation of the LPD (110) disposed within the measurement volume; a dimensional acquisition device (140), DAD, that is an optical non-contact probe rigidly attached to the LPD configured to acquire dimensional data of the object (200);and an adjustment unit (130) configured to adjust the projected image (112) to have an essentially static appearance in relation to the object (200), which adjustment is responsive to movement of the LPD (110) detected by the PMD (120); wherein the image projected by the LPD (110) conveys feedback information to the user responsive to dimensional acquisition by the DAD (140).

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