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公开(公告)号：JP2016197108A
公开(公告)日：2016-11-24
申请号：JP2016112516
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/26 , A61B5/1473 , A61B5/1495 , G01N27/02
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , G01N27/416 , G01N33/66 , G01R35/00 , G01R35/005 , A61B2562/04 , A61B5/0537 , A61B5/746 , A61M2005/1726 , A61M5/14244 , A61M5/14276
摘要： 【課題】診断用電気化学的インピーダンス分光法(EIS)手順は、1つまたは複数の検知電極に対するインピーダンス関係パラメータの値を測定するために適用される。 【解決手段】パラメータは、実インピーダンス、虚インピーダンス、インピーダンスの大きさ、および/または位相角を含むことができる。次いで、インピーダンス関係パラメータの測定された値は、センサー診断を実行し、複数の冗長検知電極からの信号に基づき信頼性の高い融合センサーグルコース値を計算し、センサーを較正し、1つまたは複数の検知電極の近くの範囲内にある干渉物質を検出し、電気メッキされた電極の表面領域特性をテストする際に使用される。有利には、特定の周波数範囲内で実質的にグルコース独立であるインピーダンス関係パラメータが定義され得る。特定用途向け集積回路(ASIC)を使用することで、EISベースの診断、融合アルゴリズム、およびEISベースのパラメータの測定に基づく他のプロセスの実装が可能になる。 【選択図】図32B
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公开(公告)号：JP2016187572A
公开(公告)日：2016-11-04
申请号：JP2016112515
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/02 , A61B5/1473
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , G01N27/416 , G01N33/66 , G01R35/00 , G01R35/005 , A61B2562/04 , A61B5/0537 , A61B5/746 , A61M2005/1726 , A61M5/14244 , A61M5/14276
摘要： 【課題】診断用電気化学的インピーダンス分光法(EIS)手順は、1つまたは複数の検知電極に対するインピーダンス関係パラメータの値を測定するために適用される。 【解決手段】パラメータは、実インピーダンス、虚インピーダンス、インピーダンスの大きさ、および/または位相角を含むことができる。次いで、インピーダンス関係パラメータの測定された値は、センサー診断を実行し、複数の冗長検知電極からの信号に基づき信頼性の高い融合センサーグルコース値を計算し、センサーを較正し、1つまたは複数の検知電極の近くの範囲内にある干渉物質を検出し、電気メッキされた電極の表面領域特性をテストする際に使用される。有利には、特定の周波数範囲内で実質的にグルコース独立であるインピーダンス関係パラメータが定義され得る。特定用途向け集積回路(ASIC)を使用することで、EISベースの診断、融合アルゴリズム、およびEISベースのパラメータの測定に基づく他のプロセスの実装が可能になる。 【選択図】図32B
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公开(公告)号：JP2016187569A
公开(公告)日：2016-11-04
申请号：JP2016112508
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： A61B5/155 , A61B5/157 , A61B5/1473
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , G01N27/416 , G01N33/66 , G01R35/00 , G01R35/005 , A61B2562/04 , A61B5/0537 , A61B5/746 , A61M2005/1726 , A61M5/14244 , A61M5/14276
摘要： 【課題】診断用電気化学的インピーダンス分光法(EIS)手順は、1つまたは複数の検知電極に対するインピーダンス関係パラメータの値を測定するために適用される。 【解決手段】パラメータは、実インピーダンス、虚インピーダンス、インピーダンスの大きさ、および/または位相角を含むことができる。次いで、インピーダンス関係パラメータの測定された値は、センサー診断を実行し、複数の冗長検知電極からの信号に基づき信頼性の高い融合センサーグルコース値を計算し、センサーを較正し、1つまたは複数の検知電極の近くの範囲内にある干渉物質を検出し、電気メッキされた電極の表面領域特性をテストする際に使用される。有利には、特定の周波数範囲内で実質的にグルコース独立であるインピーダンス関係パラメータが定義され得る。特定用途向け集積回路(ASIC)を使用することで、EISベースの診断、融合アルゴリズム、およびEISベースのパラメータの測定に基づく他のプロセスの実装が可能になる。 【選択図】図32B
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公开(公告)号：JP6423820B2
公开(公告)日：2018-11-14
申请号：JP2016112517
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： A61B5/1486 , G01N27/26 , A61B5/1473
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/0537 , A61B5/0538 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/4839 , A61B5/6849 , A61B5/6852 , A61B5/7203 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61B5/7242 , A61B5/746 , A61B2562/0214 , A61B2562/04 , A61M5/14244 , A61M5/14276 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , A61M2005/1726 , G01N27/026 , G01N27/028 , G01N27/416 , G01N33/49 , G01N33/66 , G01N33/96 , G01R35/00 , G01R35/005
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公开(公告)号：JP6310011B2
公开(公告)日：2018-04-11
申请号：JP2016112516
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： A61B5/15 , G01N27/26 , A61B5/1473
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/0537 , A61B5/0538 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/4839 , A61B5/6849 , A61B5/6852 , A61B5/7203 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61B5/7242 , A61B5/746 , A61B2562/0214 , A61B2562/04 , A61M5/14244 , A61M5/14276 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , A61M2005/1726 , G01N27/026 , G01N27/028 , G01N27/416 , G01N33/49 , G01N33/66 , G01N33/96 , G01R35/00 , G01R35/005
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公开(公告)号：JP6310008B2
公开(公告)日：2018-04-11
申请号：JP2016112513
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： A61B5/15 , G01N27/26 , A61B5/1473
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/0537 , A61B5/0538 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/4839 , A61B5/6849 , A61B5/6852 , A61B5/7203 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61B5/7242 , A61B5/746 , A61B2562/0214 , A61B2562/04 , A61M5/14244 , A61M5/14276 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , A61M2005/1726 , G01N27/026 , G01N27/028 , G01N27/416 , G01N33/49 , G01N33/66 , G01N33/96 , G01R35/00 , G01R35/005
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公开(公告)号：JP2016197109A
公开(公告)日：2016-11-24
申请号：JP2016112517
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： G01N27/26 , G01N27/416 , A61B5/1473 , A61B5/1495 , G01N27/02
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , G01N27/416 , G01N33/66 , G01R35/00 , G01R35/005 , A61B2562/04 , A61B5/0537 , A61B5/746 , A61M2005/1726 , A61M5/14244 , A61M5/14276
摘要： 【課題】診断用電気化学的インピーダンス分光法(EIS)手順は、1つまたは複数の検知電極に対するインピーダンス関係パラメータの値を測定するために適用される。 【解決手段】パラメータは、実インピーダンス、虚インピーダンス、インピーダンスの大きさ、および/または位相角を含むことができる。次いで、インピーダンス関係パラメータの測定された値は、センサー診断を実行し、複数の冗長検知電極からの信号に基づき信頼性の高い融合センサーグルコース値を計算し、センサーを較正し、1つまたは複数の検知電極の近くの範囲内にある干渉物質を検出し、電気メッキされた電極の表面領域特性をテストする際に使用される。有利には、特定の周波数範囲内で実質的にグルコース独立であるインピーダンス関係パラメータが定義され得る。特定用途向け集積回路(ASIC)を使用することで、EISベースの診断、融合アルゴリズム、およびEISベースのパラメータの測定に基づく他のプロセスの実装が可能になる。 【選択図】図32B
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公开(公告)号：JP2016193209A
公开(公告)日：2016-11-17
申请号：JP2016112509
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： A61B5/155 , A61B5/1486 , A61B5/157
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , G01N27/416 , G01N33/66 , G01R35/00 , G01R35/005 , A61B2562/04 , A61B5/0537 , A61B5/746 , A61M2005/1726 , A61M5/14244 , A61M5/14276
摘要： 【課題】診断用電気化学的インピーダンス分光法(EIS)手順は、1つまたは複数の検知電極に対するインピーダンス関係パラメータの値を測定するために適用される。 【解決手段】パラメータは、実インピーダンス、虚インピーダンス、インピーダンスの大きさ、および/または位相角を含むことができる。次いで、インピーダンス関係パラメータの測定された値は、センサー診断を実行し、複数の冗長検知電極からの信号に基づき信頼性の高い融合センサーグルコース値を計算し、センサーを較正し、1つまたは複数の検知電極の近くの範囲内にある干渉物質を検出し、電気メッキされた電極の表面領域特性をテストする際に使用される。有利には、特定の周波数範囲内で実質的にグルコース独立であるインピーダンス関係パラメータが定義され得る。特定用途向け集積回路(ASIC)を使用することで、EISベースの診断、融合アルゴリズム、およびEISベースのパラメータの測定に基づく他のプロセスの実装が可能になる。 【選択図】図32B
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公开(公告)号：JP2016187571A
公开(公告)日：2016-11-04
申请号：JP2016112514
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/02 , A61B5/1473
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , G01N27/416 , G01N33/66 , G01R35/00 , G01R35/005 , A61B2562/04 , A61B5/0537 , A61B5/746 , A61M2005/1726 , A61M5/14244 , A61M5/14276
摘要： 【課題】診断用電気化学的インピーダンス分光法(EIS)手順は、1つまたは複数の検知電極に対するインピーダンス関係パラメータの値を測定するために適用される。 【解決手段】パラメータは、実インピーダンス、虚インピーダンス、インピーダンスの大きさ、および/または位相角を含むことができる。次いで、インピーダンス関係パラメータの測定された値は、センサー診断を実行し、複数の冗長検知電極からの信号に基づき信頼性の高い融合センサーグルコース値を計算し、センサーを較正し、1つまたは複数の検知電極の近くの範囲内にある干渉物質を検出し、電気メッキされた電極の表面領域特性をテストする際に使用される。有利には、特定の周波数範囲内で実質的にグルコース独立であるインピーダンス関係パラメータが定義され得る。特定用途向け集積回路(ASIC)を使用することで、EISベースの診断、融合アルゴリズム、およびEISベースのパラメータの測定に基づく他のプロセスの実装が可能になる。 【選択図】図32B
摘要翻译： 要解决的问题：提供用于测量一个或多个感测电极的阻抗相关参数值的诊断电化学阻抗谱（EIS）程序。解决方案：参数可包括实际阻抗，虚阻抗，阻抗幅度和/ 或相位角。 然后将阻抗相关参数的测量值用于执行传感器诊断，基于来自多个冗余感测电极的信号，校准传感器，检测在一个或多个接近的附近的干扰物来计算高度可靠的融合传感器葡萄糖值 感测电极，并测试电镀电极的表面积特性。 有利地，可以限定与特定频率范围基本上不依赖葡萄糖的阻抗相关参数。 专用集成电路（ASIC）的使用使得基于EIS的参数的测量能够实现基于EIS的诊断，融合算法和其他过程。图32B
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公开(公告)号：JP2016187570A
公开(公告)日：2016-11-04
申请号：JP2016112513
申请日：2016-06-06
发明人： ニン・ヤン , ラグハヴェンダール・ゴーサム , ブラッドリー・シー・リャン , ラジヴ・シャー , キャサリン・エム・サイマン , マイケル・イー・ミラー , ジェン−ハン・ラリー・ワン , イウェン・リ , ウェイン・エー・モーガン , パリス・チェン , ロバート・シー・ムチック , ゲニヴァル・ディー・デ・バロス , カルロス・エー・カリルゴス , マンジュナス・シリギリ , ジョセフ・ポール・ブリンソン
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/28 , G01N27/02 , A61B5/1473
CPC分类号： G01N27/4163 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , G01N27/416 , G01N33/66 , G01R35/00 , G01R35/005 , A61B2562/04 , A61B5/0537 , A61B5/746 , A61M2005/1726 , A61M5/14244 , A61M5/14276
摘要： 【課題】診断用電気化学的インピーダンス分光法(EIS)手順は、1つまたは複数の検知電極に対するインピーダンス関係パラメータの値を測定するために適用される。 【解決手段】パラメータは、実インピーダンス、虚インピーダンス、インピーダンスの大きさ、および/または位相角を含むことができる。次いで、インピーダンス関係パラメータの測定された値は、センサー診断を実行し、複数の冗長検知電極からの信号に基づき信頼性の高い融合センサーグルコース値を計算し、センサーを較正し、1つまたは複数の検知電極の近くの範囲内にある干渉物質を検出し、電気メッキされた電極の表面領域特性をテストする際に使用される。有利には、特定の周波数範囲内で実質的にグルコース独立であるインピーダンス関係パラメータが定義され得る。特定用途向け集積回路(ASIC)を使用することで、EISベースの診断、融合アルゴリズム、およびEISベースのパラメータの測定に基づく他のプロセスの実装が可能になる。 【選択図】図32B
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