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    撮像装置、内視鏡装置および撮像装置の制御方法
    21.
    发明专利
    撮像装置、内視鏡装置および撮像装置の制御方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2017144248A

    公开(公告)日：2017-08-24

    申请号：JP2017057898

    申请日：2017-03-23

    Applicant: パイオニア株式会社

    Inventor： 奥田 義行

    IPC: H04N9/07 ,  G02B23/24 ,  A61B1/06

    Abstract: 【課題】 本発明は、特定基準色の照明光の照射時間を長くし、且つ好適なカラー画像を得ることを課題としている。 【解決手段】 本発明は、被写体Aに、基準色3色の照明光を照射可能な照明部23と、照明部23を制御する照明制御部24と、単位撮像期間において、被写体Aの、3色に対応する3個の色画像を時分割で撮像する撮像部22と、撮像した3個の色画像に基づいて、カラー画像を生成する信号処理部12と、を備え、照明制御部24は、単位撮像期間において、赤色の照明光を継続して照射すると共に、単位撮像期間内の2個のブランキング期間において、緑色および青色の照明光をそれぞれ照射することを特徴とする。 【選択図】 図2

    計測装置、計測方法及びコンピュータプログラム
    22.
    发明专利
    計測装置、計測方法及びコンピュータプログラム 审中-公开

    公开(公告)号：JP2017142087A

    公开(公告)日：2017-08-17

    申请号：JP2016022017

    申请日：2016-02-08

    Applicant: パイオニア株式会社

    Inventor： 奥田 義行

    IPC: G01N21/3586 ,  G01N21/41

    Abstract: 【課題】試料の屈折率を計測するために試料に何らかの特殊な部材を接触させない。 【解決手段】計測装置(100)は、試料(10)の表面(10a)に照射された電磁波(THz)が表面で反射した後に所定位置に達するまでに要する第1時間(t ai )及び電磁波が試料の裏面で反射した後に所定位置に達するまでに要する第2時間(t bi )を複数の照射位置毎に取得する取得手段(1521)と、第1及び第2時間並びに試料の屈折率(n)の仮想値(n v )に基づいて、複数の照射位置毎の試料に関する仮想データ(A i 、B i )を算出する算出手段(1522)と、仮想データを表示する表示手段(181)と、ユーザによる仮想値の調整操作を受け付ける操作手段(182)とを備える。 【選択図】図7

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