磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク

    公开(公告)号:JP2017107630A

    公开(公告)日:2017-06-15

    申请号:JP2016081536

    申请日:2016-04-14

    CPC classification number: G11B5/73 G11B5/82 G11B5/84

    Abstract: 【課題】磁気ディスクの歩留まりを向上させることのできる磁気ディスク用ガラス基板を提供する。 【解決手段】主表面を有し、中心部に円形状の孔を有する円盤形状の磁気ディスク用ガラス基板であって、前記磁気ディスク用ガラス基板の中心部側の内周側面部において、原子間力顕微鏡により測定した算術平均粗さRaが0.7nm以下であって、原子間力顕微鏡により測定した結果に基づき、所定の領域を、前記主表面に平行な方向に対して角度方向を0°から180°まで1°ごとに変化させながら各々の角度方向における角度方向算術平均粗さRa_degを算出し、前記算出された角度方向算術平均粗さRa_degのうち、最も大きい値を角度方向算術平均粗さ最大値Ra_deg_maxとし、最も小さい値を角度方向算術平均粗さ最小値Ra_deg_minとした場合に、(Ra_deg_max)−(Ra_deg_min)の値が、0.15nm以上、1.0nm以下であることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板を提供することにより上記課題を解決する。 【選択図】 図5

    磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク
    4.
    发明专利
    磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク 有权
    用于磁盘和磁盘的玻璃基板

    公开(公告)号:JP2016091582A

    公开(公告)日:2016-05-23

    申请号:JP2014227091

    申请日:2014-11-07

    Abstract: 【課題】高記録密度化に対応した磁気ディスク用ガラス基板を提供する。 【解決手段】主表面を有する磁気ディスク用ガラス基板であって、前記主表面において原子間力顕微鏡により測定した算術平均粗さRaが0.15nm以下であって、原子間力顕微鏡により測定した結果に基づき、所定の領域を、角度方向を0°から180°まで1°ごとに変化させながら各々の角度方向における角度方向算術平均粗さRa_degを算出し、前記算出された角度方向算術平均粗さRa_degのうち、最も大きい値を角度方向算術平均粗さ最大値Ra_deg_maxとし、最も小さい値を角度方向算術平均粗さ最小値Ra_deg_minとした場合に、(Ra_deg_max)/(Ra_deg_min)の値が、2.6以下であることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板を提供することにより上記課題を解決する。 【選択図】 図3

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种与高记录密度相容的磁盘用玻璃基板。解决方案:一种用于磁盘的玻璃基板的特征如下:用于磁盘的玻璃基板设有主表面; 通过原子力显微镜在主表面测得的算术平均粗糙度Ra为0.15nm以下; 基于由原子力显微镜测量的结果,每1°将角度方向从0°改变为180°,计算每个预定面积的各个角度方向上的角度方向算术平均粗糙度Ra_deg; 并且当计算的角方向算术平均粗糙度Ra_deg中的最大值被假定为最大角方向算术平均粗糙度Ra_deg_max时,(Ra_deg_max)/(Ra_deg_min)的值为2.6或更小,并且将最低值假定为最小角度 方向算术平均粗糙度Ra_deg_min。 因此,通过提供用于磁盘的玻璃基板来解决问题。选择图:图3

    磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク
    6.
    发明专利
    磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク 有权
    玻璃基板和磁盘的磁盘

    公开(公告)号:JP5983897B1

    公开(公告)日:2016-09-06

    申请号:JP2016081536

    申请日:2016-04-14

    CPC classification number: G11B5/73 G11B5/82 G11B5/84

    Abstract: 【課題】磁気ディスクの歩留まりを向上させることのできる磁気ディスク用ガラス基板を提供する。 【解決手段】主表面を有し、中心部に円形状の孔を有する円盤形状の磁気ディスク用ガラス基板であって、前記磁気ディスク用ガラス基板の中心部側の内周側面部において、原子間力顕微鏡により測定した算術平均粗さRaが0.7nm以下であって、原子間力顕微鏡により測定した結果に基づき、所定の領域を、前記主表面に平行な方向に対して角度方向を0°から180°まで1°ごとに変化させながら各々の角度方向における角度方向算術平均粗さRa_degを算出し、前記算出された角度方向算術平均粗さRa_degのうち、最も大きい値を角度方向算術平均粗さ最大値Ra_deg_maxとし、最も小さい値を角度方向算術平均粗さ最小値Ra_deg_minとした場合に、(Ra_deg_max)−(Ra_deg_min)の値が、0.15nm以上、1.0nm以下であることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板を提供することにより上記課題を解決する。 【選択図】 図5

    Abstract translation: 是提供一种用于磁盘从而可以提高磁盘的产率的玻璃基板。 具有主表面,其具有在中心的圆形孔,用于在磁盘的玻璃基板的中央部的内周面部分,原子间的圆盘状的磁盘用玻璃基板 a是算术平均粗糙度Ra由力显微镜0.7nm或更小测量的基础上,通过原子力显微镜,该预定区域,从0°到平行的方向上的角度取向的测量结果至所述主表面 改变每1°到180°,同时计算各角度方向的角度方向算术平均粗糙度Ra_deg,所计算的角度方向算术平均粗糙度Ra_deg之间,最大值角算术平均粗糙度 最大值Ra_deg_max,当最小的值作为角度方向算术平均粗糙度最小Ra_deg_min,(Ra_deg_max) - (Ra_deg_min)的值是0.15纳米或更高,磁盘,其特征在于,至多1.0nm 提供一种使用玻璃基板 通过解决上述问题。 点域5

    磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク
    9.
    发明专利
    磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク 有权
    玻璃基板和磁盘的磁盘

    公开(公告)号:JP5915718B1

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:JP2014227091

    申请日:2014-11-07

    Abstract: 【課題】高記録密度化に対応した磁気ディスク用ガラス基板を提供する。 【解決手段】主表面を有する磁気ディスク用ガラス基板であって、前記主表面において原子間力顕微鏡により測定した算術平均粗さRaが0.15nm以下であって、原子間力顕微鏡により測定した結果に基づき、所定の領域を、角度方向を0°から180°まで1°ごとに変化させながら各々の角度方向における角度方向算術平均粗さRa_degを算出し、前記算出された角度方向算術平均粗さRa_degのうち、最も大きい値を角度方向算術平均粗さ最大値Ra_deg_maxとし、最も小さい値を角度方向算術平均粗さ最小値Ra_deg_minとした場合に、(Ra_deg_max)/(Ra_deg_min)の値が、2.6以下であることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板を提供することにより上記課題を解決する。 【選択図】 図3

    Abstract translation: 是提供一种用于磁盘的高密度记录的玻璃基板。 本发明提供一种用于具有主表面的磁盘用玻璃基片,所述主要算术平均粗糙度Ra,用在表面上的原子力显微镜测得的等于或小于0.15纳米,测量通过原子力显微镜的结果 基础的,预定区域,而角方向改变每次1°至180°,从0°到计算每个角度方向的角度方向算术平均粗糙度Ra_deg,所计算出的角度方向算术平均粗糙度Ra_deg 最大的值作为角度方向的算术平均粗糙度最大Ra_deg_max,最小值时的角度方向算术平均粗糙度最小Ra_deg_min,(Ra_deg_max)/(Ra_deg_min)的值是2.6或更小 通过提供一种用于磁盘的玻璃基板,其特征在于,以解决上述问题。 点域

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