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公开(公告)号：JP2021189063A
公开(公告)日：2021-12-13
申请号：JP2020095570
申请日：2020-06-01
Applicant: 東京特殊電線株式会社
IPC: G01R1/067
Abstract: 【課題】主に電子部品及び基板等の導通検査に用いる検査用のプローブユニットへの組み付け時やプローブユニットの使用時において、絶縁被膜の密着性を高めてクラックや剥がれの発生を抑制したプローブ針及びプローブユニットを提供する。 【解決手段】ピン形状の金属導体1の外周に絶縁被膜2を有する胴体部6と、金属導体1の両端に該絶縁被膜を有しない端部3とを有するプローブ針10において、絶縁被膜2が、ピール試験で測定した密着強度F(N)と絶縁被膜2が設けられる金属導体1の円周長L(μm)との比(F/L)が0.001N/μm以上であるようにして上記課題を解決した。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP6352501B1
公开(公告)日：2018-07-04
申请号：JP2017123866
申请日：2017-06-26
Applicant: 東京特殊電線株式会社
Abstract: 【課題】はんだ接合の信頼性を確保し且つ、高周波での交流抵抗の低減が図れる高周波コイル用電線及びその高周波コイル用電線を用いた電子部品を提供する。 【解決手段】銅導体1と該銅導体1の外周に設けられた強磁性層4とを有する芯線10と、その芯線10上に設けられた絶縁被覆層4とで少なくとも構成され、その強磁性層4が径方向Xの隙間Gを有する高周波コイル用電線20によって上記課題を解決した。強磁性層4は、鉄層1と、鉄層2の外周に設けられたニッケル層3とで構成されていることが好ましく、隙間Gの数は、芯線10の表面に見える数であって、芯線10の直径Dと同じ長さの軸方向仮想線と径方向仮想線とで形成した正方形の中に見える数が、2以上、30以下の範囲内であることが好ましい。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2021189064A
公开(公告)日：2021-12-13
申请号：JP2020095571
申请日：2020-06-01
Applicant: 東京特殊電線株式会社
IPC: G01R1/067
Abstract: 【課題】主に電子部品及び基板等の導通検査に用いる検査用のプローブ針において、めっき厚を厚くしても線径が大きくならず、狭ピッチ化を実現できるプローブ針及びプローブユニットを提供する。 【解決手段】ピン形状の金属導体1の外周に絶縁被膜2を有する胴体部6と、金属導体1の両端に該絶縁被膜を有しない端部3とを有するプローブ針10において、前記端部3のみに厚さ1μm以上5μm以下の範囲内のめっき層4が形成されているようにして上記課題を解決した。胴体部6の外径をD3とし、端部3の外径をD2としたとき、[(D3−D2)/2]が1.5μm以上5μm以下の範囲内であることが好ましい。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2018159718A
公开(公告)日：2018-10-11
申请号：JP2018132102
申请日：2018-07-12
Applicant: 東京特殊電線株式会社
IPC: G01R1/067
Abstract: 【課題】プローブの第2端部とリード線の端面との接触を長期間安定に行うことができ、かつ摩耗や摩耗粉の発生を抑えることができるプローブ及びその接触方法を提供する。 【解決手段】第1端部2aを被測定体11に接触させ且つ第2端部2bを検査装置接続用金属50に接触させて、被測定体11の電気的特性を測定するためのプローブ1であって、第2端部2bの形状が、検査装置接続用金属50に繰り返し接触する平坦部2dを有し、第2端部2bと検査装置接続用金属50とを、プローブ1を構成する金属導体2の仮想軸線a1と前記検査装置接続用金属50の法線a2との角度で0.5°以上5°以下の範囲で接触させる態様で用いる。第2端部2bは、縦断面形状が先端側にいくにしたがって幅が狭くなる円錐台形状又は角錐台形状である。 【選択図】図6
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公开(公告)号：JP2020183911A
公开(公告)日：2020-11-12
申请号：JP2019088733
申请日：2019-05-09
Applicant: 東京特殊電線株式会社
IPC: G01R1/067
Abstract: 【課題】主に電子部品及び基板等の検査に用いられ、特に狭ピッチで使用する細径で挿入が容易で安定した接触動作を可能としたプローブ針を提供する。 【解決手段】プローブユニット20を構成する被測定体側の支持板21の案内穴21aに絶縁皮膜2の端部2aを当てるとともに被測定体に金属導体1の先端1aを接触させて行う検査で使用されるプローブ針10であって、金属導体1と、金属導体1の少なくとも両端以外の領域に設けられた絶縁皮膜2,3とを有し、絶縁皮膜2,3は、被測定体側に設けられた薄い絶縁皮膜3と、被測定体側以外の胴体部に設けられた厚い絶縁皮膜2とを有し、厚い絶縁皮膜2の端部2aは被測定体側の支持板21の案内穴21aに当たり、薄い絶縁皮膜3で覆われた部分は支持板21の案内穴21aに挿入され、薄い絶縁皮膜3で覆われた部分の直径D3とその部分の長さL1とがD3×5≦L1≦D3×20の関係を満たす。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2020165888A
公开(公告)日：2020-10-08
申请号：JP2019068557
申请日：2019-03-29
Applicant: 東京特殊電線株式会社
IPC: G01R1/067
Abstract: 【課題】主に電子部品及び基板等の検査に用いられ、特に狭ピッチで使用する細径のプローブ針及びプローブユニットを提供する。 【解決手段】プローブユニット20を構成する被測定体側の支持板21の案内穴21aに絶縁皮膜2の端部2aを当てるとともに被測定体に金属導体1の先端1aを接触させて行う検査で使用されるプローブ針10であって、金属導体1と、金属導体1の少なくとも両端以外の領域に設けられた絶縁皮膜2,3とを有し、絶縁皮膜2,3は、被測定体側に設けられた薄い絶縁皮膜3と、被測定体側以外の胴体部に設けられた厚い絶縁皮膜2とを有し、厚い絶縁皮膜2は、その端部2aが被測定体側の支持板21の案内穴21aに当たるように構成されており、被測定体側の薄い絶縁皮膜3は、耐電圧が250V以上であるように構成されている。 【選択図】図2
