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公开(公告)号：JP6388491B2
公开(公告)日：2018-09-12
申请号：JP2014095399
申请日：2014-05-02
Applicant: 三菱重工業株式会社
IPC: H05H1/54 , H05H1/46 , F03H1/00 , H01L21/3065 , H05H1/00
CPC classification number: H05H1/46 , F03H1/0037 , F03H1/0081 , G01N21/718 , G01R29/24 , H05H1/0037 , H05H1/54 , H05H2001/4645
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公开(公告)号：JP2018109642A
公开(公告)日：2018-07-12
申请号：JP2018038720
申请日：2018-03-05
Applicant: 国立大学法人 東京大学 , 国立大学法人京都大学 , オーケーラボ有限会社
IPC: G01N21/63
CPC classification number: G01N21/718 , G01N2201/0612 , G01N2201/08 , G01N2201/0833
Abstract: 【課題】特に深海等の水中環境で、試料を取得することなくその成分を現場で分析する。 【解決手段】液中の試料10の成分を分析する成分分析装置は、発光時間が200から400nsecであるロングパルスレーザ光を発するパルスレーザ21と、パルスレーザからのロングパルスレーザ光を試料に照射し、それにより液中の試料で発生するプラズマ発光光を受光する光学系ヘッド60と、光学系ヘッドが受光したプラズマ発光光を分光分析する分光器4等の成分分析手段と、パルスレーザからロングパルスレーザ光を光学系ヘッドに伝送し、光学系ヘッドからプラズマ発光光を成分分析手段に伝送するファイバ13、20とを備える。 【選択図】図6A
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公开(公告)号：JP2018504592A
公开(公告)日：2018-02-15
申请号：JP2017534642
申请日：2015-12-04
IPC: G01N21/71
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/0208 , G01J3/0262 , G01N21/15 , G01N21/718
Abstract: レーザ誘起ブレークダウン分光器(LIBS)の試料室のための方法及び装置。装置は、試料室と、試料室の第1のポートに接続される励起光学アセンブリに接続されたレーザ光源と、試料室上の第2のポートに接続されている分光器に接続されたコリメータアセンブリと、第1のポート上に位置する第1のレンズ管及び第2のポート上に位置する第2のレンズ管であって、レーザ光源からのレーザパルスが標的試料の表面をアブレーションしプラズマを発生する際に発射される粒子から、励起光学アセンブリに接続された第1のポートを保護する第1のレンズ管及びコリメータアセンブリに接続された第2のポートを保護する第2のレンズ管と、を含む。【選択図】図1
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公开(公告)号：JP6220878B2
公开(公告)日：2017-10-25
申请号：JP2015531584
申请日：2013-09-13
Applicant: コミサリヤ・ア・レネルジ・アトミク・エ・オ・エネルジ・アルテルナテイブ
Inventor： クロン,ナディーヌ , ウゴリン,ニコラ , ファルク,カロリーヌ , ルフェーブル,エミリー , シュビヤール,シルビ
IPC: G01N21/63 , G01N33/543 , G01N21/71
CPC classification number: G01N21/718 , G01N21/714 , G01N21/73 , G01N33/6803 , G01N2201/06113 , G01N2333/4731 , G01N2570/00
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公开(公告)号：JP2017500569A
公开(公告)日：2017-01-05
申请号：JP2016541221
申请日：2014-12-17
Applicant: サーモ サイエンティフィック ポータブル アナリティカル インスツルメンツ インコーポレイテッド , サーモ サイエンティフィック ポータブル アナリティカル インスツルメンツ インコーポレイテッド
Inventor： ティモシー エム パストーレ , ティモシー エム パストーレ , デイヴィッド ペレス , デイヴィッド ペレス , マイケル デレク ハーグリーヴズ , マイケル デレク ハーグリーヴズ
IPC: G01N21/35 , G01N21/552 , G01N21/65
CPC classification number: G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J3/44 , G01N21/359 , G01N21/552 , G01N21/65 , G01N21/718 , G01N2021/3595 , G01N2021/399 , G01N2201/0221
Abstract: 手持分光計は、少なくとも1つのインジケータ灯と、背景スキャニング状態、試料をスキャンする準備が整った状態、信号強度状態、蛍光強度状態、試料整合状態、試料分類状態、誤差状態、データ転送状態、バッテリ充電状態、及びメモリ容量状態から成る群から選択される手持分光計の状態を示すように少なくとも1つのインジケータ灯を制御するように構成されるプロセッサと、を含む。試料整合状態は、例えば、肯定的整合状態、混合物整合状態、否定的整合状態、及び整合誤差状態のうちの1つであり得る。いくつかの実施形態では、誤差状態が、背景誤差状態、ユーザ誤差状態、及び器具誤差状態のうちの少なくとも1つ、またはそれらの任意の組み合わせであり得る。【選択図】図1C
Abstract translation: 手分光计包括至少一个指示器灯，后台扫描状态时，状态是准备扫描样品时，信号强度状态，荧光强度状态的样品对准，样品分类状态，错误状态，数据传输状态下，电池 充电的状态，并且包括被配置为控制至少一个指示灯来指示手持式光谱仪的状态下的处理器选自由存储容量状态的组，所选择的。 样品对准，例如，正的取向，取向的混合物可以是负的取向中的一个，和对准错误状态。 在一些实施例中，错误状态，背景错误条件，用户错误条件，仪器误差状态中的至少一个，或它们的任何组合。 点域1C
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公开(公告)号：JP2016540109A
公开(公告)日：2016-12-22
申请号：JP2016516603
申请日：2014-09-23
Applicant: レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company , レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company
Inventor： ロバート トーマス アシュトン イアン , ロバート トーマス アシュトン イアン , クロス ステファン , クロス ステファン , サトクリフ クリストファー , サトクリフ クリストファー , イアン フェラー ベン , イアン フェラー ベン
IPC: B22F3/105 , B22F3/16 , B23K26/00 , B23K26/03 , B23K26/046 , B23K26/21 , B23K26/34 , B33Y10/00 , B33Y30/00 , B33Y50/00
CPC classification number: B22F3/1055 , B22F2003/1057 , B29C64/153 , B29C64/20 , B29C64/386 , B33Y10/00 , B33Y30/00 , B33Y50/02 , G01J3/28 , G01N21/274 , G01N21/718 , G01N2201/06113 , Y02P10/295
Abstract: 粉末材料の層方向の固化によってオブジェクトをビルドするためのレーザー固化装置である。装置は、ビルドプラットフォーム(102)を含有するビルドチャンバー(116)と、粉末材料の層(104)をビルドプラットフォーム(102)の上に堆積させるためのデバイスと、それぞれの粉末層の領域を選択的に固化させるためにレーザービームを方向付けするための光学ユニット(106)と、レーザービームによる粉末の固化の間に形成されるプラズマによって放射される特性放射線を検出するためのスペクトロメーター(172)とを備える。金属とレーザービーム又はさらなるレーザービームとの相互作用によって発生した特徴放射線を検出するためのスペクトロメーターが開示される。スペクトロメーターを使用して記録されたスペクトラは、個かプロセス中にフィードバック制御に使用され得る。
Abstract translation: 粉末材料的层方向上的凝固是用于构建物体的激光淬火装置。 装置中，选择性地含有一个构造平台（102），用于在构造平台（102）上沉积粉末材料（104）的层的设备的构建室（116），相应的粉末层的区域 一种用于将激光束引导至固化的光学单元（106）和分析仪（172），用于检测由所述等离子体发射的辐射特性是由激光束的粉末的凝固过程中形成的 配备了。 用于检测由所述金属和所述激光束或多个激光束之间的相互作用产生的特征辐射谱仪中公开。 使用仪表分光计记录的光谱可用于在部件或过程的反馈控制。
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公开(公告)号：JP6019042B2
公开(公告)日：2016-11-02
申请号：JP2013554464
申请日：2012-01-30
Applicant: ケーエルエー−テンカー コーポレイション
Inventor： ソラーズ リチャード ダブリュ , デュラント ステファン ピー , ホワン ショウ−フェイ
IPC: G02B21/06 , G02B21/16 , G01N21/84 , H01L21/66 , G01N21/956
CPC classification number: G01N21/9501 , G01N21/718 , G01N21/8806 , G01N21/956 , G03F7/70033 , G03F7/7065 , G01N2201/061 , H01L22/12
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公开(公告)号：JPWO2014042221A1
公开(公告)日：2016-08-18
申请号：JP2014535593
申请日：2013-09-12
Applicant: 国立大学法人 東京大学 , 国立大学法人 東京大学 , 国立大学法人京都大学 , オーケーラボ有限会社
IPC: G01N21/63
CPC classification number: G01N21/718 , G01N2201/0612 , G01N2201/08 , G01N2201/0833
Abstract: 成分分析装置は、試料の成分を分析する装置であって、レーザ光源、成分分析手段及び収容部を含む本体と、試料に対向するように配置される光学系ヘッドと、レーザ光源から出射されたレーザ光を光学系ヘッドに導くために、収容部から光学系ヘッドにまで延設された貫通耐圧機構付ファイバとを有する。収容部は、耐圧機能を有すると共にレーザ光源及び成分分析手段が収められる。光学系ヘッドは、貫通耐圧機構付ファイバから出射されるレーザ光を試料に照射すると共にレーザ光の照射により試料において発生したプラズマ発光光を貫通耐圧機構付ファイバに再入射させるミラー系を含む。成分分析手段は、貫通耐圧機構付ファイバに再入射したプラズマ発光光を分光分析する。
Abstract translation: 分量分析器是用于分析样品的组分的装置，所述主体包括一个激光光源，成分分析装置和容纳部，并设置成面对所述样品的光学系统头中，从激光光源发射的 为了引导该激光束光学系统的头，和一个扩展已通过击穿电压机构与从容纳部到光学系统头的纤维。 容纳单元包括一个激光光源和成分分析装置被容纳并具有击穿电压的能力。 光学头包括用于重新进入从通电压机制纤维通击穿电压机制与由照射在样品中生成纤维等离子体发射的光发射到所述激光束的激光束照射所述样品的反射镜系统。 成分分析装置，等离子发射光重新进入纤维与通电压机构用于光谱分析。
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公开(公告)号：JP2016522533A
公开(公告)日：2016-07-28
申请号：JP2016501492
申请日：2014-03-12
Inventor： ジェヴティック，ジョヴァン , メノン，アショク , ピケルジャ，ヴェリボー
IPC: H05H1/46 , C23C16/507 , G01N21/73 , G01N27/62 , G01N27/68 , H01J49/10 , H01J49/26 , H01L21/3065 , H01L21/31 , H01S3/038 , H05H1/26 , H05H1/30 , H05H1/54
CPC classification number: H05H1/46 , G01N21/718 , G01N22/00 , G21B1/057 , H01J37/321 , H01J37/3244 , H01J37/32467 , H01J49/10 , H01J49/105 , H01J2237/002 , H01S3/0975 , H05H1/30 , H05H2001/4652 , H05H2001/4682
Abstract: 誘電体共振器は、プラズマ発生用の非常に均一な電場を生成するために、その固有共振周波数で励振される。プラズマは、光学分光計または質量分析計に使用されてもよい。
Abstract translation: 为了产生非常均匀的电场，用于产生等离子体的介质谐振器在其自然谐振频率被激励。 等离子体可在光学光谱仪或质谱仪一起使用。
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公开(公告)号：JP2016517523A
公开(公告)日：2016-06-16
申请号：JP2016502693
申请日：2014-03-14
Inventor： オコナー，キアラン，ジョン，パトリック
CPC classification number: H05H1/30 , G01N21/718 , H01J49/0463
Abstract: レーザアブレーション発光分光における熱的影響を低減するための方法は、ターゲット表面上の分析ラインに沿って分離アブレーションスポットを生成する。次のうち少なくとも1つも行われる。第一に、連続するアブレーションスポットのペアが分析ラインに沿って互いに離間され、他のアブレーションスポットによって互いに分離されるようにアブレーションスポットが位置決めされる。第二に、分析ラインが概して平行で隣接する分析ラインセグメントを有する場合に、(A)連続するアブレーションスポットのペアが異なる分析ラインセグメント上に位置するようにアブレーションスポットが位置決めされ、(B)異なる分析ラインセグメントが互いに隣接する場合に、分析ラインセグメントに沿った異なる長手方向位置に位置するように、連続するアブレーションスポットが位置決めされる。この結果として、分離アブレーションスポットの線形スキャンを生成することができる。
Abstract translation: 用于减少激光烧蚀发射光谱的热效应方法产生沿着目标表面上的分析线的单独消融斑点。 还至少进行下列操作之一。 首先，连续的消融点对彼此沿分析线间隔开，所述消融点被定位成彼此其他消融点分离。 其次，如果它具有一个分析线段分析线相邻的大致平行的，被定位消融点被定位在具有不同的消融点对连续的（A），不同的（B）的分析线段 如果分析线段彼此相邻，以便被定位在沿所述分析线段不同的纵向位置，烧蚀斑点连续定位。 其结果，有可能产生分离烧蚀斑点的线性扫描。
