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21.金屬偵測方法及金屬偵測裝置、以及非接觸式供電裝置之金屬偵測方法及非接觸式供電裝置 有权
Simplified title: 金属侦测方法及金属侦测设备、以及非接触式供电设备之金属侦测方法及非接触式供电设备公开(公告)号:TWI492477B
公开(公告)日:2015-07-11
申请号:TW102106919
申请日:2013-02-27
Applicant: 松下電器產業股份有限公司 , PANASONIC CORPORATION
Inventor: 入江健一 , IRIE, KENICHI , 河田雅史 , KAWADA, MASASHI , 兵頭聰 , HYODO, SATOSHI , 小原弘士 , KOHARA, HIROSHI
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公开(公告)号:TWI488403B
公开(公告)日:2015-06-11
申请号:TW101138665
申请日:2012-10-19
Applicant: 松下電器產業股份有限公司 , PANASONIC CORPORATION
Inventor: 入江健一 , IRIE, KENICHI , 河田雅史 , KAWADA, MASASHI
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公开(公告)号:TWI470897B
公开(公告)日:2015-01-21
申请号:TW101138664
申请日:2012-10-19
Applicant: 松下電器產業股份有限公司 , PANASONIC CORPORATION
Inventor: 入江健一 , IRIE, KENICHI , 兵頭聰 , HYODO, SATOSHI
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公开(公告)号:TW201502564A
公开(公告)日:2015-01-16
申请号:TW103109908
申请日:2014-03-17
Applicant: 普羅托斯數位健康公司 , PROTEUS DIGITAL HEALTH, INC.
Inventor: 史契米 雷蒙 , SCHMIDT, RAYMOND , 強森 派翠莎 , JOHNSON, PATRICIA , 荷連 瑪麗亞 , HOLEN, MARIA , 黃 世君 , HUANG, RICHARD , 泰 艾爾文 , THAI, ALVIN
IPC: G01V3/10
Abstract: 本發明提供了一種用於檢測具有感測器功能的劑型中之金屬污染物之設備、系統、及方法。根據該方法,沿著一預定方向定向一具有感測器功能的劑型。通過一金屬檢測器的一孔容納該具有感測器功能的劑型。該金屬檢測器回應通過該金屬檢測器的該孔容納該具有感測器功能的劑型而產生一檢測信號。將該檢測信號與一預定臨界值比較。根據該檢測信號與該預定臨界值間之比較而決定該具有感測器功能的劑型中之金屬污染物的存在。在另一方法中,先沿著一第一方向定向該具有感測器功能的劑型,且然後沿著一第二方向定向該具有感測器功能的劑型。該設備包含一導件、一金屬檢測器、及一比較電路。該系統進一步包含用於拒收被污染的具有感測器功能的劑型之一控制器。
Abstract in simplified Chinese: 本发明提供了一种用于检测具有传感器功能的剂型中之金属污染物之设备、系统、及方法。根据该方法,沿着一预定方向定向一具有传感器功能的剂型。通过一金属检测器的一孔容纳该具有传感器功能的剂型。该金属检测器回应通过该金属检测器的该孔容纳该具有传感器功能的剂型而产生一检测信号。将该检测信号与一预定临界值比较。根据该检测信号与该预定临界值间之比较而决定该具有传感器功能的剂型中之金属污染物的存在。在另一方法中,先沿着一第一方向定向该具有传感器功能的剂型,且然后沿着一第二方向定向该具有传感器功能的剂型。该设备包含一导件、一金属检测器、及一比较电路。该系统进一步包含用于拒收被污染的具有传感器功能的剂型之一控制器。
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25.非接觸式供電系統之金屬異物檢測方法、非接觸式供電裝置、受電裝置及非接觸式供電系統 有权
Simplified title: 非接触式供电系统之金属异物检测方法、非接触式供电设备、受电设备及非接触式供电系统公开(公告)号:TWI469468B
公开(公告)日:2015-01-11
申请号:TW101138657
申请日:2012-10-19
Applicant: 松下電器產業股份有限公司 , PANASONIC CORPORATION
Inventor: 後藤弘通 , GOTO, HIROMICHI
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公开(公告)号:TW201417443A
公开(公告)日:2014-05-01
申请号:TW101139906
申请日:2012-10-29
Applicant: 松下電器產業股份有限公司 , PANASONIC CORPORATION
Inventor: 十本豐彥 , TSUJIMOTO, TOYOHIKO
Abstract: 本發明之非接觸式供電裝置係可藉由指示器(25)而將關於供電裝置之資訊通知使用者。具體而言,使用者可藉由LED(27a)之亮燈而知道在供電面並未設置任何物體。又,使用者可藉由二個LED(27b、27c)之亮燈而知道受電裝置已設置於供電面、或是在供電裝置中辨識到受電裝置之存在。又使用者可藉由LED(27d)之亮燈而知道在供電裝置及受電裝置間存在有金屬等之異物。進而使用者可藉由複數個LED(28a至28x)之亮燈而知道供電中之供電用線圈。
Abstract in simplified Chinese: 本发明之非接触式供电设备系可借由指示器(25)而将关于供电设备之信息通知用户。具体而言,用户可借由LED(27a)之亮灯而知道在供电面并未设置任何物体。又,用户可借由二个LED(27b、27c)之亮灯而知道受电设备已设置于供电面、或是在供电设备中辨识到受电设备之存在。又用户可借由LED(27d)之亮灯而知道在供电设备及受电设备间存在有金属等之异物。进而用户可借由复数个LED(28a至28x)之亮灯而知道供电中之供电用线圈。
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27.金屬偵測方法及金屬偵測裝置、以及非接觸式供電裝置之金屬偵測方法及非接觸式供電裝置 审中-公开
Simplified title: 金属侦测方法及金属侦测设备、以及非接触式供电设备之金属侦测方法及非接触式供电设备公开(公告)号:TW201342764A
公开(公告)日:2013-10-16
申请号:TW102106919
申请日:2013-02-27
Applicant: 松下電器產業股份有限公司 , PANASONIC CORPORATION
Inventor: 入江健一 , IRIE, KENICHI , 河田雅史 , KAWADA, MASASHI , 兵頭聰 , HYODO, SATOSHI , 小原弘士 , KOHARA, HIROSHI
Abstract: 本發明提供一種可精度佳地偵測金屬或非金屬的金屬偵測方法及金屬偵測裝置、以及非接觸式供電裝置之金屬偵測方法及非接觸式供電裝置。振盪電路(10)係振盪具有單一基頻之正弦波,且以其振盪電流(It)激磁金屬偵測線圈(Ls)。從金屬偵測線圈(Ls)放射具有單一基頻之正弦波的電磁波。高通濾波器電路(11a)係輸入振盪電流(It),從該振盪電流(It)去除基頻成分,且抽出基頻之高諧波成分,並在比較電路(12)中判定有無金屬。
Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种可精度佳地侦测金属或非金属的金属侦测方法及金属侦测设备、以及非接触式供电设备之金属侦测方法及非接触式供电设备。振荡电路(10)系振荡具有单一基频之正弦波,且以其振荡电流(It)激磁金属侦测线圈(Ls)。从金属侦测线圈(Ls)放射具有单一基频之正弦波的电磁波。高通滤波器电路(11a)系输入振荡电流(It),从该振荡电流(It)去除基频成分,且抽出基频之高谐波成分,并在比较电路(12)中判定有无金属。
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