公开(公告)号：US07302348B2

公开(公告)日：2007-11-27

申请号：US10859868

申请日：2004-06-02

申请人： Jayati Ghosh ,  Bill J. Peck ,  Eric M. Leproust ,  Charles David Troup ,  Glenda Choate Delenstarr ,  Patrick J. Collins ,  John F. Corson ,  Paul K. Wolber ,  Xiangyang Zhou

发明人： Jayati Ghosh ,  Bill J. Peck ,  Eric M. Leproust ,  Charles David Troup ,  Glenda Choate Delenstarr ,  Patrick J. Collins ,  John F. Corson ,  Paul K. Wolber ,  Xiangyang Zhou

IPC分类号： G06F19/00 ,  G06F15/00 ,  G11C17/00

CPC分类号： G06F19/24 ,  G06F19/20

摘要： A method and system for quantifying and correcting spatial-intensity trends for each channel of a microarray data set having one or more channels. The method and system of one embodiment of the present invention selects a set of features from each channel of the microarray data set. Based on the selected set of features, a surface is used to determine the intensities for all features in each channel of the microarray data set. Spatial-intensity trends within the microarray data set are quantified, based on the surface to the intensities for each channel of the microarray data set. After the surface has been determined, the spatial-intensity trend can be removed from the microarray data set.

摘要翻译： 一种用于量化和校正具有一个或多个通道的微阵列数据集的每个通道的空间强度趋势的方法和系统。 本发明的一个实施例的方法和系统从微阵列数据集的每个通道中选择一组特征。 基于所选择的特征集合，使用表面来确定微阵列数据集的每个通道中的所有特征的强度。 基于微阵列数据集的每个通道的表面到强度，量化微阵列数据集内的空间强度趋势。 在确定表面后，可以从微阵列数据集中去除空间强度趋势。