公开(公告)号：US07948633B2

公开(公告)日：2011-05-24

申请号：US12805879

申请日：2010-08-23

申请人： Mark Froggatt ,  Dawn K. Gifford

发明人： Mark Froggatt ,  Dawn K. Gifford

IPC分类号： G01B9/02

CPC分类号： G01M11/3172 ,  G01M11/083

摘要： An optical device under test (DUT) is interferometrically measured. The DUT can include one or more of an optical fiber, an optical component, or an optical system. First interference pattern data for the DUT is obtained for a first path to the DUT, and second interference pattern data for the DUT is obtained for a second somewhat longer path to the DUT. Because of that longer length, the second interference pattern data is delayed in time from the first interference pattern data. A time varying component of the DUT interference pattern data is then identified from the first and second interference pattern data. The identified time varying component is used to modify the first or the second interference pattern data to compensate for the time-varying phase caused by vibrations, etc. One or more optical characteristics of the DUT may then be determined based on the modified interference pattern data.

摘要翻译： 对被测光学器件（DUT）进行干涉测量。 DUT可以包括光纤，光学部件或光学系统中的一个或多个。 对于DUT的第一路径获得DUT的第一干涉图案数据，并且获得用于DUT的第二干涉图案数据用于到DUT的第二更长的路径。 由于该长度较长，所以第二干涉图案数据在时间上与第一干涉图案数据相比延迟。 然后从第一和第二干涉图案数据识别DUT干涉图案数据的时变分量。 所识别的时变分量用于修改第一或第二干涉图案数据以补偿由振动等引起的时变相位。然后可以基于经修改的干涉图案数据来确定DUT的一个或多个光学特性 。