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公开(公告)号：USD661000S1
公开(公告)日：2012-05-29
申请号：US29373040
申请日：2011-02-23
申请人： James D. Welch
设计人： James D. Welch
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42.发明申请Method of improving probability of Knowing through which slit in a double slit system a particle or photon passes while still forming an interference pattern 审中-公开提高概率的方法通过粒子或光子通过的双缝系统中的狭缝，同时仍然形成干涉图案公开(公告)号：US20100243917A1
公开(公告)日：2010-09-30
申请号：US12387450
申请日：2009-05-04
申请人： James D. Welch
发明人： James D. Welch
摘要： A method of applying a double slit system to the end that both knowledge of an interference pattern formed on a screen located at one distance from the slits, and knowledge of improved probability as to which slit a particular particle or photon passed in the act of forming said interference pattern on that screen, wherein the method uses a remormalization interference pattern preliminarily provided on a screen located at a different distance from the slits, as a reference.
摘要翻译： 一种施加双缝系统的方法，即在形成在与狭缝一个距离的屏幕上形成的干涉图案的知识以及关于特定颗粒或光子在成形作用中通过的哪个狭缝的概率提高的可能性的知识 该屏幕上的所述干涉图案，其中该方法使用预先设置在位于与狭缝不同的距离处的屏幕上的重新归一化干涉图案作为参考。
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43.发明授权Combined use of oscillating means and ellipsometry to determine uncorrelated effective thickness and optical constants of material deposited from a fluid 有权组合使用振荡装置和椭偏仪来确定从流体沉积的材料的不相关的有效厚度和光学常数公开(公告)号：US07209234B2
公开(公告)日：2007-04-24
申请号：US11404593
申请日：2006-04-14
申请人： John A. Woollam , James D. Welch
发明人： John A. Woollam , James D. Welch
IPC分类号： G01J4/00
CPC分类号： G01N21/211 , G01B11/0641
摘要： A combined ellipsometer and oscillator system applied to a chamber for containing fluid, and method of decorrelated determination of thickness and optical constants of depostable materials present in a fluid. In use the ellipsometer determines the product of thickness and optical constant, and the oscillator system changes frequency of oscillation proportional to the thickness of material deposited upon a surface of an element therein.
摘要翻译： 应用于用于容纳流体的室的组合椭偏仪和振荡器系统，以及存在于流体中的可沉积材料的厚度和光学常数的去相关确定方法。 在使用中，椭偏仪确定厚度和光学常数的乘积，并且振荡器系统改变与沉积在元件表面上的材料的厚度成比例的振荡频率。
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44.发明授权Methodology for providing good data at all wavelengths over a spectroscopic range 有权在光谱范围内提供所有波长的良好数据的方法公开(公告)号：US07151605B1
公开(公告)日：2006-12-19
申请号：US11009489
申请日：2004-12-11
IPC分类号： G01J4/00
CPC分类号： G01J3/28 , G01J3/42 , G01N21/274
摘要： Disclosed is methodology for obtaining data of improved precision, including detection and replacement of data determined to be suspect to provide good data over a spectroscopic range of wavelengths.
摘要翻译： 公开了用于获得改进精度的数据的方法，包括检测和替换被确定为在波长范围内提供良好数据的数据。
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公开(公告)号：US4696093A
公开(公告)日：1987-09-29
申请号：US872147
申请日：1986-06-09
申请人： James D. Welch
发明人： James D. Welch
IPC分类号： H01L21/336 , H01L29/06 , H01L29/78 , H01L21/441
CPC分类号： H01L29/66643 , H01L29/0692 , H01L29/78
摘要： A method for fabricating MOSFET devices by a one mask, one etch process utilizing vacuum deposited chromium, silicon upon which is grown SiO.sub.2 and an anneal process. An optional optimizing ion implantation and activating anneal step is also disclosed, as are two, and three, mask and etch procedures.
摘要翻译： 通过一个掩模制造MOSFET器件的方法，利用真空沉积铬的一个蚀刻工艺，生长SiO 2的硅和退火工艺。 还公开了可选的优化离子注入和激活退火步骤，以及两个和三个掩模和蚀刻步骤。
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公开(公告)号：US20170105906A1
公开(公告)日：2017-04-20
申请号：US14756809
申请日：2015-10-17
申请人： James D. Welch , Janet M. Wehrli
发明人： James D. Welch , Janet M. Wehrli
CPC分类号： A61K6/0668 , A61K6/0017 , A61K6/0047 , A61K6/027 , A61K6/087
摘要： A method of smoothing teeth is disclosed, the utility of which is based on surprising empirical evidence achieved via practice of a method involving application of calcium thereto and maintaining it in contact therewith by application of a composition of matter that adheres to said teeth.
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公开(公告)号：USD685934S1
公开(公告)日：2013-07-09
申请号：US29395687
申请日：2012-03-14
申请人： James D. Welch
设计人： James D. Welch
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公开(公告)号：USD661003S1
公开(公告)日：2012-05-29
申请号：US29373043
申请日：2011-02-23
申请人： James D. Welch
设计人： James D. Welch
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49.发明授权Combined use of oscillating means and ellipsometry to determine uncorrelated effective thickness and optical constants of accumulated material 有权组合使用振荡装置和椭偏仪来确定累积材料的不相关的有效厚度和光学常数公开(公告)号：US07030982B1
公开(公告)日：2006-04-18
申请号：US10746924
申请日：2003-12-25
申请人： John A. Woollam , James D. Welch
发明人： John A. Woollam , James D. Welch
IPC分类号： G01J4/00
CPC分类号： G01B11/0641 , G01N21/211
摘要： A combined ellipsometer and oscillator system and method of decorrelated determination of thickness and optical constants of deposted materials. In use the ellipsometer determines the product of thickness and optical constant, and the oscillator system changes frequency of oscillation proportional to the thickness of material deposited upon a surface of an element therein.
摘要翻译： 一种组合的椭偏仪和振荡器系统以及去沉积材料的厚度和光学常数的去相关测定方法。 在使用中，椭偏仪确定厚度和光学常数的乘积，并且振荡器系统改变与沉积在元件表面上的材料的厚度成比例的振荡频率。
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公开(公告)号：USD441816S1
公开(公告)日：2001-05-08
申请号：US29123327
申请日：2000-05-16
申请人： James D. Welch
设计人： James D. Welch
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