公开(公告)号：US5969677A

公开(公告)日：1999-10-19

申请号：US170201

申请日：1998-10-13

申请人： Franz Herrmann ,  Manfred Schuster

发明人： Franz Herrmann ,  Manfred Schuster

IPC分类号： G01S3/48 ,  G01S5/04

CPC分类号： G01S3/48

摘要： A direction-finding method for determining an incident angle of a high-frequency electromagnetic signal in a system including at least two receiving antennas spaced apart by a known distance. the antenna output signals of the at least two receiving antennas are converted, together (in accordance with a multiplexing procedure) or individually, into the frequency domain through a Fourier transformation, followed by a conversion into an IF range and an A/D conversion. In this range, the phase difference between the output signals is determined and the signal frequency of the incident wave is determined through a phase-sequence analysis. The incident angle of the incident wave is determined from the phase difference and the signal frequency.

摘要翻译： 一种用于确定包括以已知距离间隔开的至少两个接收天线的系统中的高频电磁信号的入射角的方向调查方法。 将至少两个接收天线的天线输出信号通过傅立叶变换（根据复用过程）或单独地转​​换成频域，随后转换成IF范围和A / D转换。 在此范围内，确定输出信号之间的相位差，并通过相序分析确定入射波的信号频率。 入射波的入射角由相位差和信号频率决定。

公开(公告)号：US07653177B2

公开(公告)日：2010-01-26

申请号：US12213945

申请日：2008-06-26

申请人： Joachim Baumann ,  Christian David ,  Martin Engelhardt ,  Jörg Freudenberger ,  Eckhard Hempel ,  Martin Hoheisel ,  Matthias Honal ,  Thomas Mertelmeier ,  Franz Pfeiffer ,  Stefan Popescu ,  Manfred Schuster

发明人： Joachim Baumann ,  Christian David ,  Martin Engelhardt ,  Jörg Freudenberger ,  Eckhard Hempel ,  Martin Hoheisel ,  Matthias Honal ,  Thomas Mertelmeier ,  Franz Pfeiffer ,  Stefan Popescu ,  Manfred Schuster

IPC分类号： G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20 ,  A61B6/484 ,  A61K49/0414 ,  G01N2223/303 ,  G21K2207/005

摘要： A method and a measurement system are disclosed for the noninvasive determination of properties of an object to be examined and to the use of a contrast medium for X-ray phase-contrast measurement. in at least one embodiment of the invention, a mixture (suspension) consisting of a base liquid and a multiplicity of particles contained therein is used, the refractive index of the base liquid being different to the refractive index of the particles.

摘要翻译： 公开了一种方法和测量系统，用于无创测定被检查物体的性质以及使用造影剂进行X射线相位测量。 在本发明的至少一个实施方案中，使用由基础液体和其中包含的多个颗粒组成的混合物（悬浮液），所述基础液体的折射率不同于颗粒的折射率。

公开(公告)号：US20090003526A1

公开(公告)日：2009-01-01

申请号：US12213945

申请日：2008-06-26

申请人： Joachim Baumann ,  Christian David ,  Martin Engelhardt ,  Jorg Freudenberger ,  Eckhard Hempel ,  Martin Hoheisel ,  Matthias Honal ,  Thomas Mertelmeier ,  Franz Pfeiffer ,  Stefan Popescu ,  Manfred Schuster

发明人： Joachim Baumann ,  Christian David ,  Martin Engelhardt ,  Jorg Freudenberger ,  Eckhard Hempel ,  Martin Hoheisel ,  Matthias Honal ,  Thomas Mertelmeier ,  Franz Pfeiffer ,  Stefan Popescu ,  Manfred Schuster

IPC分类号： G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20 ,  A61B6/484 ,  A61K49/0414 ,  G01N2223/303 ,  G21K2207/005

摘要： A method and a measurement system are disclosed for the noninvasive determination of properties of an object to be examined and to the use of a contrast medium for X-ray phase-contrast measurement. in at least one embodiment of the invention, a mixture (suspension) consisting of a base liquid and a multiplicity of particles contained therein is used, the refractive index of the base liquid being different to the refractive index of the particles.

摘要翻译： 公开了一种方法和测量系统，用于无创测定被检查物体的性质以及使用造影剂进行X射线相位测量。 在本发明的至少一个实施方案中，使用由基础液体和其中包含的多个颗粒组成的混合物（悬浮液），所述基础液体的折射率不同于颗粒的折射率。

公开(公告)号：US20070183583A1

公开(公告)日：2007-08-09

申请号：US11700172

申请日：2007-01-31

申请人： Joachim Baumann ,  Christian David ,  Martin Engelhardt ,  Jorg Freudenberger ,  Eckhard Hempel ,  Martin Hoheisel ,  Thomas Mertelmeier ,  Franz Pfeiffer ,  Stefan Popescu ,  Manfred Schuster

发明人： Joachim Baumann ,  Christian David ,  Martin Engelhardt ,  Jorg Freudenberger ,  Eckhard Hempel ,  Martin Hoheisel ,  Thomas Mertelmeier ,  Franz Pfeiffer ,  Stefan Popescu ,  Manfred Schuster

IPC分类号： G21K1/00

CPC分类号： G21K1/06 ,  A61B6/032 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4092 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/484 ,  G21K2207/005

摘要： A focus-detector arrangement and an X-ray apparatus for generating projective or tomographic phase contrast recordings of a subject are disclosed. In at least one embodiment, the focus-detector arrangement includes a radiation source with a focus, arranged on a first side of the subject, for generating a fan-shaped or conical beam of rays; at least one X-ray optical grating arranged in the beam path, with at least one phase grating arranged on the opposite second side of the subject in the beam path generating an interference pattern of the X-radiation preferably, in a particular energy range; and an analysis-detector system which detects at least the interference pattern generated by the phase grating in respect of its phase shift with position resolution. According to at least one embodiment of the invention, at least one X-ray optical grating including bars which are free from overhangs form shadows in the beam path of the fan-shaped or conical beam of rays.

摘要翻译： 公开了一种聚焦检测器装置和用于产生对象的投影或层析相位对比记录的X射线装置。 在至少一个实施例中，焦点检测器装置包括布置在被检体的第一侧上的具有焦点的辐射源，用于产生扇形或锥形光束束; 布置在所述光束路径中的至少一个X射线光栅，其中至少一个相位光栅布置在所述束路径中的所述对象的相对的第二侧上，优选地在特定能量范围内产生所述X射线的干涉图案; 以及分析检测器系统，其至少检测相位光栅相对于其相移与位置分辨率产生的干涉图案。 根据本发明的至少一个实施例，至少一个X射线光栅，其包括不具有突出端的杆，在扇形或锥形光束的光束路径中形成阴影。

公开(公告)号：US06982120B2

公开(公告)日：2006-01-03

申请号：US10489742

申请日：2002-07-20

申请人： Manfred Schuster

发明人： Manfred Schuster

IPC分类号： C21D9/40

CPC分类号： F16D3/223 ,  C21D1/10 ,  C21D1/78 ,  C21D9/0068 ,  C21D9/40 ,  C23C8/80 ,  F16D2300/10 ,  Y02P10/253 ,  Y10T428/24975 ,  Y10T428/26 ,  Y10T428/265

摘要： The invention relates to components made of steel, more particularly outer joint parts and inner joint parts of constant velocity joints, and to a process of heat treating such components made of steel. The heat treatment operation includes the process stages of nitriding, induction surface layer hardening and tempering, which processes follow one another. As a result of the nitriding operation, the joint parts are provided with a surface layer (15) including nitrides and a diffusion layer (18) positioned thereunderneath. The subsequent induction hardening process causes the diffusion layer (18) to be hardened, so that it comprises good supporting characteristics for supporting the surface layer (15) positioned above same.

摘要翻译： 本发明涉及由钢制成的部件，更具体地说是外接头部件和恒速接头的内接头部件以及由钢制成的部件进行热处理的工序。 热处理操作包括氮化，感应表面层硬化和回火的工艺阶段，这些过程相互依存。 作为渗氮操作的结果，接合部分设置有包括氮化物的表面层（15）和位于其上的扩散层（18）。 随后的感应淬火过程使得扩散层（18）硬化，使得它包括用于支撑位于其上方的表面层（15）的良好的支撑特性。

公开(公告)号：US06226349B1

公开(公告)日：2001-05-01

申请号：US09356346

申请日：1999-07-19

申请人： Manfred Schuster ,  Herbert Goebel ,  Carsten Michaelsen ,  Ruediger Bormann

发明人： Manfred Schuster ,  Herbert Goebel ,  Carsten Michaelsen ,  Ruediger Bormann

IPC分类号： G01N23207

CPC分类号： G01N23/201 ,  G01N23/20 ,  G21K1/062

摘要： An X-ray analysis apparatus having a curved paraboloid-shaped curved graded multilayer Bragg reflector (5) is characterized in that the layers of the reflector (5) are directly introduced onto a concave curved surface of a paraboloid-shaped hollow substrate and a maximum allowable shape deviation for the concave substrate surface facing the reflector is &Dgr;p={square root over (2px)} &Dgr;&thgr;R, and having a maximum allowable waviness Δ ⁢   ⁢ y Δ ⁢   ⁢ x = 1 2 ⁢ Δθ R and a maximum allowable roughness &Dgr;y=d/2&pgr;, preferentially &Dgr;y≦0.3 nm, wherein the X radiation (7) impinges on the curved surface of the reflector (5) at an angle of incidence 0°

摘要翻译： 具有弯曲抛物面形弯曲多层布拉格反射体（5）的X射线分析装置的特征在于，将反射器（5）的各层直接导入抛物面形中空基板的凹曲面上， 面向反射器的凹面基板表面的允许形状偏差为DELTAp = {平方根超过（2px）} DELTAthetaR，并且具有最大允许波纹度和最大允许粗糙度DELTAy = d / 2pi，优选为DELTAy <= 0.3nm，其中X 辐射（7）以入射角0°<= 5°撞击反射器（5）的弯曲表面，随着反射器层朝向抛物面开口的周期厚度d在x方向上增加， 偏差DELTAd / DELTAx小于d /（2x）。 以这种方式，在可靠性和寿命方面，分析装置的传输被显着地提高，同时降低了制造难度和费用。