公开(公告)号：US07793239B2

公开(公告)日：2010-09-07

申请号：US11379844

申请日：2006-04-24

申请人： James J. Engel ,  Susan K. Lichtensteiger ,  Paul J. Sulva ,  Larry Wissel

发明人： James J. Engel ,  Susan K. Lichtensteiger ,  Paul J. Sulva ,  Larry Wissel

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5036

摘要： A method and system of modeling power leakage for a design comprises providing one or more cell libraries comprising parameters for particular device characteristics and providing a module configured to determine of cell leakages of a device for a PVT corner. In determining the cell leakage, the module uses the device characteristics contained in the one or more cell libraries, in combination with one or more components at a PVT for a predetermined application and an amount of devices in a leakage path (Fckt) and a leakage distribution (Fchip). There is no need to recharacterize the one or more cell libraries.

摘要翻译： 用于设计功率泄漏建模的方法和系统包括提供一个或多个单元库，其包括用于特定器件特性的参数，并提供被配置为确定用于PVT角的器件的单元泄漏的模块。 在确定单元泄漏时，模块使用包含在一个或多个单元库中的器件特性，与PVT中的一个或多个组件结合用于预定应用，以及泄漏路径（Fckt）和泄漏 分配（Fchip）。 不需要重新定义一个或多个细胞库。