公开(公告)号：US07370254B2

公开(公告)日：2008-05-06

申请号：US10778950

申请日：2004-02-13

申请人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

发明人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： The present disclosure describes embodiments of a compactor for compressing test results in an integrated circuit and methods for using and designing such embodiments. The disclosed compactors can be utilized, for example, as part of any scan-based design. Moreover, any of the disclosed compactors can be designed, simulated, and/or verified in a computer-executed application, such as an electronic-design-automation (“EDA”) software tool. Embodiments of a method for diagnosing faults in the disclosed compactor embodiments are also described.

摘要翻译： 本公开描述了用于压缩集成电路中的测试结果的压实机的实施例以及用于使用和设计这些实施例的方法。 所公开的压实机可以例如用作任何基于扫描的设计的一部分。 此外，任何公开的压实机可以在诸如电子设计自动化（“EDA”）软件工具的计算机执行的应用中被设计，模拟和/或验证。 还描述了在公开的压实机实施例中用于诊断故障的方法的实施例。

公开(公告)号：US07302624B2

公开(公告)日：2007-11-27

申请号：US11213327

申请日：2005-08-25

申请人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

发明人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318547 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318566 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： Methods, apparatus, and systems for diagnosing failing scan cells from compressed test responses are disclosed herein. For example, in one nonlimiting exemplary embodiment, one or more signatures are received that indicate the presence of one or more errors in one or more corresponding compressed test responses. Scan cells in the circuit-under-test that caused the errors are identified by analyzing the signatures. In this exemplary embodiment, the analysis includes selecting a scan cell candidate that potentially caused an error in a compressed test response based at least partially on a weight value associated with the scan cell candidate, the weight value being indicative of the likelihood that the scan cell candidate caused the error. Tangible computer-readable media comprising computer-executable instructions for causing a computer to perform any of the disclosed methods are also provided. Tangible computer-readable media comprising lists of failing scan cells identified by any of the disclosed methods are also provided.

摘要翻译： 本文公开了用于诊断来自压缩测试响应的故障扫描单元的方法，装置和系统。 例如，在一个非限制性示例性实施例中，接收指示在一个或多个对应的压缩测试响应中存在一个或多个错误的一个或多个签名。 通过分析签名来识别导致错误的电路不足测试中的扫描单元。 在该示例性实施例中，分析包括选择至少部分地基于与扫描小区候选者相关联的权重值来潜在地引起压缩测试响应中的错误的扫描小区候选，该权重值表示扫描单元 候选人造成错误。 还提供了包括用于使计算机执行任何所公开的方法的计算机可执行指令的有形计算机可读介质。 还提供了包括由任何所公开的方法识别的故障扫描单元的列表的有形计算机可读介质。

公开(公告)号：US20060041814A1

公开(公告)日：2006-02-23

申请号：US11213672

申请日：2005-08-25

申请人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

发明人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

IPC分类号： G01R31/28 ,  G06F11/00

CPC分类号： G01R31/318547 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318566 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： Methods, apparatus, and systems for diagnosing failing scan cells from compressed test responses are disclosed herein. For example, in one nonlimiting exemplary embodiment, a compactor for compacting test responses in a circuit-under-test is disclosed. In this embodiment, the compactor includes an injector network comprising combinational logic and includes injector-network outputs and injector-network inputs. At least some of the injector-network inputs are logically coupled to two or more injector-network outputs according to respective injector polynomials. The exemplary compactor further comprises a selection circuit that includes selection-circuit outputs coupled to the injector-network inputs and selection-circuit inputs coupled to scan-chain outputs of the circuit-under-test. The selection circuit is configured to selectively route signals from the scan-chain outputs to the injector-network inputs according to one of plural different input configurations.

摘要翻译： 本文公开了用于诊断来自压缩测试响应的故障扫描单元的方法，装置和系统。 例如，在一个非限制性示例性实施例中，公开了一种用于在被测电路中压实测试响应的压实机。 在该实施例中，压实机包括包括组合逻辑的喷射器网络，并且包括喷射器 - 网络输出和喷射器 - 网络输入。 至少一些注射器 - 网络输入根据相应的注射器多项式在逻辑上耦合到两个或更多个注射器 - 网络输出。 示例性压实机还包括选择电路，其包括耦合到注射器 - 网络输入的选择电路输出和耦合到被测电路的扫描链输出的选择电路输入。 选择电路被配置为根据多个不同的输入配置中的一个有选择地将信号从扫描链输出传送到喷射器 - 网络输入。

公开(公告)号：US07890827B2

公开(公告)日：2011-02-15

申请号：US12818941

申请日：2010-06-18

申请人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

发明人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： The present disclosure describes embodiments of a compactor for compressing test results in an integrated circuit and methods for using and designing such embodiments. The disclosed compactors can be utilized, for example, as part of any scan-based design. Moreover, any of the disclosed compactors can be designed, simulated, and/or verified in a computer-executed application, such as an electronic-design-automation (“EDA”) software tool. Embodiments of a method for diagnosing faults in the disclosed compactor embodiments are also described.

摘要翻译： 本公开描述了用于压缩集成电路中的测试结果的压实机的实施例以及用于使用和设计这些实施例的方法。 所公开的压实机可以例如用作任何基于扫描的设计的一部分。 此外，任何公开的压实机可以在诸如电子设计自动化（“EDA”）软件工具的计算机执行的应用中被设计，模拟和/或验证。 还描述了在公开的压实机实施例中用于诊断故障的方法的实施例。

公开(公告)号：US07743302B2

公开(公告)日：2010-06-22

申请号：US12012039

申请日：2008-01-30

申请人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

发明人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： The present disclosure describes embodiments of a compactor for compressing test results in an integrated circuit and methods for using and designing such embodiments. The disclosed compactors can be utilized, for example, as part of any scan-based design. Moreover, any of the disclosed compactors can be designed, simulated, and/or verified in a computer-executed application, such as an electronic-design-automation (“EDA”) software tool. Embodiments of a method for diagnosing faults in the disclosed compactor embodiments are also described.

摘要翻译： 本公开描述了用于压缩集成电路中的测试结果的压实机的实施例以及用于使用和设计这些实施例的方法。 所公开的压实机可以例如用作任何基于扫描的设计的一部分。 此外，任何公开的压实机可以在诸如电子设计自动化（“EDA”）软件工具的计算机执行的应用中被设计，模拟和/或验证。 还描述了在公开的压实机实施例中用于诊断故障的方法的实施例。

公开(公告)号：US20080133987A1

公开(公告)日：2008-06-05

申请号：US12012039

申请日：2008-01-30

申请人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

发明人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

IPC分类号： G11C29/40

CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： The present disclosure describes embodiments of a compactor for compressing test results in an integrated circuit and methods for using and designing such embodiments. The disclosed compactors can be utilized, for example, as part of any scan-based design. Moreover, any of the disclosed compactors can be designed, simulated, and/or verified in a computer-executed application, such as an electronic-design-automation (“EDA”) software tool. Embodiments of a method for diagnosing faults in the disclosed compactor embodiments are also described.

公开(公告)号：US20060041813A1

公开(公告)日：2006-02-23

申请号：US11213327

申请日：2005-08-25

申请人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

发明人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

IPC分类号： G01R31/28 ,  G06F11/00

CPC分类号： G01R31/318547 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318566 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： Methods, apparatus, and systems for diagnosing failing scan cells from compressed test responses are disclosed herein. For example, in one nonlimiting exemplary embodiment, one or more signatures are received that indicate the presence of one or more errors in one or more corresponding compressed test responses. Scan cells in the circuit-under-test that caused the errors are identified by analyzing the signatures. In this exemplary embodiment, the analysis includes selecting a scan cell candidate that potentially caused an error in a compressed test response based at least partially on a weight value associated with the scan cell candidate, the weight value being indicative of the likelihood that the scan cell candidate caused the error. Tangible computer-readable media comprising computer-executable instructions for causing a computer to perform any of the disclosed methods are also provided. Tangible computer-readable media comprising lists of failing scan cells identified by any of the disclosed methods are also provided.

摘要翻译： 本文公开了用于诊断来自压缩测试响应的故障扫描单元的方法，装置和系统。 例如，在一个非限制性示例性实施例中，接收指示在一个或多个对应的压缩测试响应中存在一个或多个错误的一个或多个签名。 通过分析签名来识别导致错误的电路不足测试中的扫描单元。 在该示例性实施例中，分析包括选择至少部分地基于与扫描小区候选者相关联的权重值来潜在地引起压缩测试响应中的错误的扫描小区候选，该权重值表示扫描单元 候选人造成错误。 还提供了包括用于使计算机执行任何所公开的方法的计算机可执行指令的有形计算机可读介质。 还提供了包括由任何所公开的方法识别的故障扫描单元的列表的有形计算机可读介质。

公开(公告)号：US07962820B2

公开(公告)日：2011-06-14

申请号：US12405828

申请日：2009-03-17

申请人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

发明人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

IPC分类号： G01R31/3193 ,  G01R31/40

CPC分类号： G01R31/318547 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318566 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： Methods, apparatus, and systems for diagnosing failing scan cells from compressed test responses are disclosed herein. For example, in one nonlimiting exemplary embodiment, at least one error signature comprising multiple bits (including one or more error bits) is received. Plural potential-error-bit-explaining scan cell candidates are evaluated using a search tree. A determination is made as to whether one or more of the evaluated scan cell candidates explain the error bits in the error signature and thereby constitute one or more failing scan cells. An output is provided of any such one or more failing scan cells determined. Tangible computer-readable media comprising computer-executable instructions for causing a computer to perform any of the disclosed methods are also provided. Tangible computer-readable media comprising lists of failing scan cells identified by any of the disclosed methods are also provided.

摘要翻译： 本文公开了用于诊断来自压缩测试响应的故障扫描单元的方法，装置和系统。 例如，在一个非限制性示例性实施例中，接收包括多个比特（包括一个或多个错误比特）的至少一个错误签名。 使用搜索树来评估多个潜在错误位解释扫描单元候选。 确定所评估的扫描单元候选中的一个或多个是否解释错误签名中的错误位，从而构成一个或多个故障扫描单元。 由确定的任何这样的一个或多个故障扫描单元提供输出。 还提供了包括用于使计算机执行任何所公开的方法的计算机可执行指令的有形计算机可读介质。 还提供了包括由任何所公开的方法识别的故障扫描单元的列表的有形计算机可读介质。

公开(公告)号：US20100257417A1

公开(公告)日：2010-10-07

申请号：US12818941

申请日：2010-06-18

申请人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

发明人： Janusz Rajski ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel

IPC分类号： G01R31/3177 ,  G06F11/25

CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： The present disclosure describes embodiments of a compactor for compressing test results in an integrated circuit and methods for using and designing such embodiments. The disclosed compactors can be utilized, for example, as part of any scan-based design. Moreover, any of the disclosed compactors can be designed, simulated, and/or verified in a computer-executed application, such as an electronic-design-automation (“EDA”) software tool. Embodiments of a method for diagnosing faults in the disclosed compactor embodiments are also described.

摘要翻译： 本公开描述了用于压缩集成电路中的测试结果的压实机的实施例以及用于使用和设计这些实施例的方法。 所公开的压实机可以例如用作任何基于扫描的设计的一部分。 此外，任何公开的压实机可以在诸如电子设计自动化（“EDA”）软件工具的计算机执行的应用中被设计，模拟和/或验证。 还描述了在公开的压实机实施例中用于诊断故障的方法的实施例。

公开(公告)号：US07509550B2

公开(公告)日：2009-03-24

申请号：US11213316

申请日：2005-08-25

申请人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

发明人： Janusz Rajski ,  Grzegorz Mrugalski ,  Artur Pogiel ,  Jerzy Tyszer ,  Chen Wang

IPC分类号： G01R31/3193 ,  G01R31/40

CPC分类号： G01R31/318547 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318566 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/31921 ,  G11C29/40 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/3202

摘要： Methods, apparatus, and systems for diagnosing failing scan cells from compressed test responses are disclosed herein. For example, in one nonlimiting exemplary embodiment, at least one error signature comprising multiple bits (including one or more error bits) is received. Plural potential-error-bit-explaining scan cell candidates are evaluated using a search tree. A determination is made as to whether one or more of the evaluated scan cell candidates explain the error bits in the error signature and thereby constitute one or more failing scan cells. An output is provided of any such one or more failing scan cells determined. Tangible computer-readable media comprising computer-executable instructions for causing a computer to perform any of the disclosed methods are also provided. Tangible computer-readable media comprising lists of failing scan cells identified by any of the disclosed methods are also provided.

摘要翻译： 本文公开了用于诊断来自压缩测试响应的故障扫描单元的方法，装置和系统。 例如，在一个非限制性示例性实施例中，接收到包括多个比特（包括一个或多个错误比特）的至少一个错误签名。 使用搜索树来评估多个潜在错误位解释扫描单元候选。 确定所评估的扫描单元候选中的一个或多个是否解释错误签名中的错误位，从而构成一个或多个故障扫描单元。 由确定的任何这样的一个或多个故障扫描单元提供输出。 还提供了包括用于使计算机执行任何所公开的方法的计算机可执行指令的有形计算机可读介质。 还提供了包括由任何所公开的方法识别的故障扫描单元的列表的有形计算机可读介质。