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    System and method for off-route determination via threshold for safe taxi service
    2.
    发明授权
    System and method for off-route determination via threshold for safe taxi service 有权
    通过安全出租车服务门槛路径决定的系统和方法

    公开(公告)号：US08996297B2

    公开(公告)日：2015-03-31

    申请号：US13216287

    申请日：2011-08-24

    申请人： Dae-yeon Jeong ,  Hyun-suk Min ,  Young-sik Lee ,  Jong-hyun Kim

    发明人： Dae-yeon Jeong ,  Hyun-suk Min ,  Young-sik Lee ,  Jong-hyun Kim

    IPC分类号： G01C9/00 ,  G01C17/00 ,  G01C19/00 ,  G01C21/34 ,  G01C21/36

    CPC分类号： G01C21/3407 ,  G01C21/3697

    摘要： Provided are a system and method for a safe taxi service. The method for a safe taxi service in a mobile device includes: transmitting input information regarding a destination to a vehicle information system; periodically receiving information regarding a current location of a vehicle from the vehicle information system; comparing the current location with an expected path to the destination; and transmitting state information to an external system when it is determined, according to the comparing, that the current location deviates from the expected path to the destination to an extent equal to or greater than a predetermined limit.

    摘要翻译： 提供一种安全的出租车服务的系统和方法。 用于移动设备中的安全的出租车服务的方法包括：将关于目的地的输入信息发送到车辆信息系统; 定期从车辆信息系统接收关于车辆的当前位置的信息; 将当前位置与到目的地的预期路径进行比较; 以及当根据所述比较确定当前位置偏离所述目的地的预期路径到等于或大于预定极限的程度时，将状态信息发送到外部系统。

    Plasma display panel apparatus capable of updating and updating method thereof
    3.
    发明申请
    Plasma display panel apparatus capable of updating and updating method thereof 审中-公开
    能够更新和更新方法的等离子体显示面板装置

    公开(公告)号：US20070159423A1

    公开(公告)日：2007-07-12

    申请号：US11526704

    申请日：2006-09-26

    申请人： Jong-hyun Kim ,  Jung-hyun Ahn

    发明人： Jong-hyun Kim ,  Jung-hyun Ahn

    IPC分类号： G09G3/32

    CPC分类号： G09G5/006 ,  G09G3/28 ,  G09G2370/047

    摘要： A plasma display panel (PDP) apparatus and a method of updating the PDP apparatus are provided. The PDP apparatus includes: a PDP module which displays an image; and a signal processing module which processes audio and/or video signals provided from a signal source and provides the connected PDP module with an update program of the PDP module provided from an external apparatus. Accordingly, it is possible to update the program of the PDP module without separating the PDP module.

    摘要翻译： 提供等离子体显示面板（PDP）装置和更新PDP装置的方法。 PDP装置包括：PDP模块，其显示图像; 以及信号处理模块，其处理从信号源提供的音频和/或视频信号，并向所连接的PDP模块提供从外部设备提供的PDP模块的更新程序。 因此，可以在不分离PDP模块的情况下更新PDP模块的程序。

    Board connecting bracket and electronic instrument having the same
    4.
    发明授权
    Board connecting bracket and electronic instrument having the same 失效
    板连接支架和具有相同功能的电子仪器

    公开(公告)号：US08295061B2

    公开(公告)日：2012-10-23

    申请号：US12748725

    申请日：2010-03-29

    申请人： Jong-hyun Kim

    发明人： Jong-hyun Kim

    IPC分类号： H05K7/02 ,  H05K7/04

    CPC分类号： H05K7/142

    摘要： A board connection bracket and an electronic instrument having the same are provided. The electronic instrument includes an electronic instrument body which includes a plurality of board fixing parts on a surface; a printed circuit board which is mounted on the surface of the electronic instrument body; and a board connection bracket which connects the printed circuit board to one of the board fixing parts to fix the printed circuit board to the electronic instrument body.

    摘要翻译： 提供了一种板连接支架和具有该板连接支架的电子仪器。 电子仪器包括电子仪器本体，其在表面上包括多个板固定部分; 安装在电子仪器主体表面上的印刷电路板; 以及将印刷电路板连接到其中一个板固定部分以将印刷电路板固定到电子仪器主体的板连接支架。

    Multi-bit test circuit and method thereof
    5.
    发明授权
    Multi-bit test circuit and method thereof 失效
    多位测试电路及其方法

    公开(公告)号：US5983375A

    公开(公告)日：1999-11-09

    申请号：US766116

    申请日：1996-12-16

    申请人： Hong Kim ,  Ho-jin Park ,  Jong-hyun Kim ,  Jeon Hwangbo

    发明人： Hong Kim ,  Ho-jin Park ,  Jong-hyun Kim ,  Jeon Hwangbo

    IPC分类号： G11C29/34 ,  G11C29/10 ,  G11C29/28 ,  G11C29/00

    CPC分类号： G11C29/28

    摘要： A multi-bit data block testing circuit and method thereof are described. The semiconductor memory device includes a multi-bit data block testing circuit for testing adjacent cell blocks using any one pattern selected from the same data pattern and a different data pattern during a multi-bit test mode. The multi-bit data block testing circuit further comprises a comparator operatively coupled to receive a data signal from each of the adjacent cell blocks. A multi-bit data block input source is interconnected with the multi-bit data block testing circuit via an input port and provides the data patterns during the multi-test mode. A multi-bit data block output receiver is interconnected with the multi-bit data block testing circuit via an output port and receives a test result indication from the comparator of the multi-bit data block testing circuit.

    摘要翻译： 描述了一种多位数据块测试电路及其方法。 半导体存储器件包括多位数据块测试电路，用于在多位测试模式期间使用从相同数据模式和不同数据模式中选出的任何一种模式测试相邻单元块。 该多比特数据块测试电路还包括可操作地耦合以从每个相邻小区块接收数据信号的比较器。 多位数据块输入源通过输入端口与多位数据块测试电路互连，并在多测试模式下提供数据模式。 多位数据块输出接收器经由输出端口与多位数据块测试电路互连，并从多位数据块测试电路的比较器接收测试结果指示。