公开(公告)号：US20080162767A1

公开(公告)日：2008-07-03

申请号：US11926446

申请日：2007-10-29

申请人： Sang-Wook CHO ,  Jin-Kyu Kim ,  Sung-Ju Park ,  Hyun-Bean Yi ,  Chang-Won Park ,  Ki-Man Jeon

发明人： Sang-Wook CHO ,  Jin-Kyu Kim ,  Sung-Ju Park ,  Hyun-Bean Yi ,  Chang-Won Park ,  Ki-Man Jeon

IPC分类号： G06F13/14

CPC分类号： G06F13/4221

摘要： Provided is a 4× framer/deframer module for PCI-Express and a framer/deframer device using the same. In the PCI-Express for high-rate data processing, delimiter and pad processing, and 4× framer shifting and arrangement/reverse arrangement for framing/deframing a frame format are performed to achieve a structure that facilitates reconfiguration and expansion, for example, a pipeline structure, so that the 4× framer/deframer module can operate without delay within a 250 MHz clock even when expansion to 32× is made.

摘要翻译： 提供了一种用于PCI-Express的4x成帧器/去帧模块和使用其的成帧器/去帧器件。 在用于高速率数据处理的PCI-Express中，执行定界符和焊盘处理以及用于成帧/解帧的格式的4x成帧器移位和布置/反向布置以实现便于重新配置和扩展的结构，例如管线 结构，使得即使在扩展到32x时，4x成帧器/解帧器模块也能在250 MHz时钟内无延迟地运行。

公开(公告)号：US07624320B2

公开(公告)日：2009-11-24

申请号：US11727572

申请日：2007-03-27

申请人： Hyun-Bean Yi ,  Jae-Hoon Song ,  Pil-Jae Min ,  Jin-Kyu Kim ,  Sung-Ju Park

发明人： Hyun-Bean Yi ,  Jae-Hoon Song ,  Pil-Jae Min ,  Jin-Kyu Kim ,  Sung-Ju Park

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318563 ,  G06F11/2236

摘要： A system-on-chip (SoC) test apparatus is disclosed. The system-on-chip (SoC) testing apparatus reduces a test time due to a small amount of overhead in the case of testing an AMBA-based system-on-chip (SoC) using a TIC, an EBI, and a Test Harness, and maintains AMBA- or TIC- compatibility simultaneously while performing scan input/output operations.

摘要翻译： 公开了片上系统（SoC）测试装置。 在使用TIC，EBI和测试线路测试基于AMBA的片上系统（SoC）的情况下，片上系统（SoC）测试设备减少了由于少量开销的测试时间 并且在执行扫描输入/输出操作时同时维持AMBA或TIC兼容性。

公开(公告)号：US20080022172A1

公开(公告)日：2008-01-24

申请号：US11727572

申请日：2007-03-27

申请人： Hyun-Bean Yi ,  Jae-Hoon Song ,  Pil-Jae Min ,  Jin-Kyu Kim ,  Sung-Ju Park

发明人： Hyun-Bean Yi ,  Jae-Hoon Song ,  Pil-Jae Min ,  Jin-Kyu Kim ,  Sung-Ju Park

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318563 ,  G06F11/2236

摘要： A system-on-chip (SoC) test apparatus is disclosed. The system-on-chip (SoC) testing apparatus reduces a test time due to a small amount of overhead in the case of testing an AMBA-based system-on-chip (SoC) using a TIC, an EBI, and a Test Harness, and maintains AMBA- or TIC- compatibility simultaneously while performing scan input/output operations.

摘要翻译： 公开了片上系统（SoC）测试装置。 在使用TIC，EBI和测试线路测试基于AMBA的片上系统（SoC）的情况下，片上系统（SoC）测试设备减少了由于少量开销的测试时间 并且在执行扫描输入/输出操作时同时维持AMBA或TIC兼容性。