公开(公告)号：US06937379B2

公开(公告)日：2005-08-30

申请号：US10014659

申请日：2001-12-11

申请人： Branimir Simic-Glavaski

发明人： Branimir Simic-Glavaski

IPC分类号： G01N21/65 ,  B82B1/00 ,  G01N13/12 ,  G01N24/00 ,  G02F1/01 ,  G02F1/061 ,  G11C13/02 ,  H01L29/06 ,  H01L31/10 ,  H01L51/00 ,  H01L51/05 ,  H01L51/30 ,  H01L51/40 ,  G02F1/03 ,  G11C11/00

CPC分类号： G11C13/0014 ,  B82Y10/00 ,  G02F1/061 ,  G11C13/0016 ,  H01L51/0078 ,  H01L51/0595

摘要： Observable changes in electrical and optical characteristics of individual molecules adsorbed on a conductor or semi-conductor caused by electrical and/or optical excitation or de-excitation of electrons within such molecules can be used as signals which in turn can be used to carry information and such observable information carrying changes or signals can be switched, amplified, and modulated by varying optical as well as electrical inputs to such molecules. Molecular structural design alters functional behavior of the molecular/quantum devices. In an example, monomeric metallated phthalocyanine behaves as a fast (

摘要翻译： 可以使用吸收在导体或半导体上的单个分子的电和光学特性的可观察的变化，这些分子由这种分子内的电子和/或光激发或去激发而被使用，这些信号又可用于携带信息和 携带变化或信号的这种可观察信息可以通过改变光学以及对这种分子的电输入而被切换，放大和调制。 分子结构设计改变了分子/量子器件的功能行为。 在一个实例中，单体金属化酞菁表现为快速（<10 -12秒），能量效率（30kT /位信息），具有多个输出的完全可逆量子开关。 然而，如果将单体酞菁组织成结构组合如一维丝状环叠层或二维片状环稠合酞菁，则它们的电光特性显着改变。 因此，它们的功能性能可以替代多个CMOS和类似的经典半导体器件。

公开(公告)号：US20050138996A1

公开(公告)日：2005-06-30

申请号：US10748526

申请日：2003-12-29

申请人： Andrew Berlin ,  Narayanan Sundararajan ,  Mineo Yamakawa ,  Valluri Rao

发明人： Andrew Berlin ,  Narayanan Sundararajan ,  Mineo Yamakawa ,  Valluri Rao

IPC分类号： G01Q60/04 ,  G01Q70/12 ,  G01Q70/16 ,  G01Q70/18 ,  G01N13/10 ,  B82B1/00 ,  G01N13/12 ,  G01N13/16

CPC分类号： G01Q60/04 ,  G01Q70/06 ,  G01Q70/12 ,  G01Q70/18

摘要： A surface analysis device is disclosed for identifying molecules by simultaneously scanning nanocodes on a surface of a substrate. The device includes a scanning array that is capable of simultaneously scanning the nanocodes on the surface of the substrate and an analyzer that is coupled with the scanning array. The analyzer is capable of receiving simultaneously scanned information from the scanning array and identifying molecules associated with the nanocodes.

摘要翻译： 公开了通过同时扫描基底表面上的纳代码来识别分子的表面分析装置。 该器件包括能够同时扫描衬底表面上的纳代码的扫描阵列和与扫描阵列耦合的分析器。 分析仪能够同时接收来自扫描阵列的扫描信息并识别与纳代码相关的分子。

公开(公告)号：US06861649B2

公开(公告)日：2005-03-01

申请号：US10614425

申请日：2003-07-07

申请人： James R. Massie

发明人： James R. Massie

IPC分类号： G01B21/00 ,  G01Q10/00 ,  G01Q10/04 ,  G01Q10/06 ,  G01Q60/24 ,  G01Q70/00 ,  G01Q70/02 ,  G01Q70/04 ,  G21K7/00 ,  G01N13/12

CPC分类号： G01Q70/04 ,  G01Q10/04 ,  G01Q10/06 ,  G01Q70/02

摘要： A balanced momentum probe holder in an apparatus for characterizing a sample surface has first and second members each having extensible and retractable distal ends. The distal ends extend or retract substantially simultaneously in response to a signal from a detector thus balancing the momentums of the first and second members and reducing the net momentum of the probe holder to essentially zero. Balancing the momentum of the probe holder reduces parasitic oscillations in the apparatus thus enhancing performance.

摘要翻译： 用于表征样品表面的装置中的平衡动量探头支架具有每个具有可伸缩的远端的第一和第二构件。 远端响应于来自检测器的信号而基本上同时地延伸或缩回，从而平衡第一和第二构件的动量并将探针保持器的净动量减小到基本为零。 平衡探头架的动量减少了设备中的寄生振荡，从而提高了性能。

公开(公告)号：US06840092B2

公开(公告)日：2005-01-11

申请号：US10182679

申请日：2001-01-31

申请人： Svein Eggen ,  Petter Asrud

发明人： Svein Eggen ,  Petter Asrud

IPC分类号： G01N13/12 ,  B29C47/92 ,  G01N11/08 ,  G01N33/44 ,  G01N11/04

CPC分类号： B29C47/92 ,  B29C47/0011 ,  B29C2947/92019 ,  B29C2947/92104 ,  B29C2947/92161 ,  B29C2947/922 ,  B29C2947/92209 ,  B29C2947/92295 ,  B29C2947/92314 ,  B29C2947/92361 ,  B29C2947/92409 ,  B29C2947/92514 ,  B29C2947/9258 ,  B29C2947/9259 ,  B29C2947/92695 ,  B29C2947/9279 ,  B29C2947/92809 ,  B29C2947/92857 ,  B29C2947/92904 ,  B29C2947/92952 ,  B29C2947/92961 ,  G01N11/08 ,  G01N33/44

摘要： A method and apparatus for studying the properties of a fluid are provided in which in which a rheometer is used to obtain, for example, value(s) indicative of the shear stress in the fluid to thereby obtain a set of data. The data is then directly compared using, for example, multivariate analysis, with previously obtained data corresponding to a fluid(s) with known rheological properties. The results of this comparison can then be used, for example, to control a manufacturing process.

摘要翻译： 提供了一种用于研究流体性质的方法和装置，其中使用流变仪获得例如指示流体中的剪切应力的值，从而获得一组数据。 然后使用例如多变量分析直接比较数据，其中先前获得的数据对应于具有已知流变特性的流体。 然后可以使用该比较的结果来例如控制制造过程。

公开(公告)号：US08927932B2

公开(公告)日：2015-01-06

申请号：US14071614

申请日：2013-11-04

申请人： Mochii, Inc.

发明人： Christopher Su-Yan Own ,  William Andregg ,  Michael Lee Andregg

IPC分类号： H01J37/26 ,  G01N23/02 ,  G01N13/12 ,  C12Q1/68

CPC分类号： H01J37/261 ,  C12Q1/6869 ,  H01J2237/248 ,  H01J2237/2802 ,  Y10S430/143 ,  C12Q2565/601 ,  C12Q2565/607

摘要： A scanning transmission electron microscope for imaging a specimen includes an electron beam source to generate an electron beam. Beam optics are provided to converge the electron beam. A stage is provided to hold a specimen in the path of the electron beam. A beam scanner scans the electron beam across the specimen. A controller may define one or more scanning areas corresponding to locations of the specimen, and control one or more of the beam scanner and stage to selectively scan the electron beam in the scanning areas. A detector is provided to detect electrons transmitted through the specimen to generate an image. The controller may generate a sub-image for each of the scanning areas, and stitch together the sub-images for the scanning areas to generate a stitched-together image. The controller may also analyze the stitched-together image to determine information regarding the specimen.

摘要翻译： 用于对样本进行成像的扫描透射电子显微镜包括产生电子束的电子束源。 光束被提供以会聚电子束。 提供了一个台架以将样本保持在电子束的路径中。 光束扫描器扫描穿过样品的电子束。 控制器可以定义与样本的位置相对应的一个或多个扫描区域，并且控制一个或多个光束扫描器和平台以选择性扫描扫描区域中的电子束。 提供检测器以检测通过样本传输的电子以产生图像。 控制器可以为每个扫描区域生成子图像，并且将扫描区域的子图像拼接在一起以生成拼接图像。 控制器还可以分析缝合在一起的图像以确定关于样本的信息。

公开(公告)号：US08921787B2

公开(公告)日：2014-12-30

申请号：US14258004

申请日：2014-04-21

申请人： Christopher Su-Yan Own ,  William Andregg ,  Mochii, Inc.

发明人： Christopher Su-Yan Own ,  Andrew Bleloch ,  William Andregg

IPC分类号： G01N23/02 ,  G01N13/12 ,  H01J37/26

CPC分类号： H01J37/263 ,  H01J37/153 ,  H01J37/26 ,  H01J37/261 ,  H01J2237/2614 ,  H01J2237/262

摘要： A transmission electron microscope includes an electron beam source to generate an electron beam. Beam optics are provided to converge the electron beam. A specimen holder is provided to hold a specimen in the path of the electron beam. A detector is used to detect the electron beam transmitted through the specimen. The transmission electron microscope may be adapted to generate two or more images that are substantially incoherently related to one another, store the images, and combine amplitude signals at corresponding pixels of the respective images to improve a signal-to-noise ratio. Alternatively or in addition, the transmission electron microscope may be adapted to operate the specimen holder to move the specimen in relation to the beam optics during exposure or between exposures to operate the transmission electron microscope in an incoherent mode.

摘要翻译： 透射电子显微镜包括用于产生电子束的电子束源。 光束被提供以会聚电子束。 提供试样保持器以将样品保持在电子束的路径中。 检测器用于检测透过样品的电子束。 透射电子显微镜可以适于产生彼此基本上不相干的两个或更多个图像，存储图像，并将各个图像的相应像素处的振幅信号组合以提高信噪比。 或者或另外，透射电子显微镜可以适于操作样本保持器以在曝光期间或在曝光之间相对于光束光学元件移动样本，以以非相干模式操作透射电子显微镜。

公开(公告)号：US20100055349A1

公开(公告)日：2010-03-04

申请号：US12464039

申请日：2009-05-11

申请人： Angelo Gaitas ,  Bhaskar Mitra ,  Amar Basu ,  Weibin Zhu

发明人： Angelo Gaitas ,  Bhaskar Mitra ,  Amar Basu ,  Weibin Zhu

IPC分类号： C23C16/26 ,  C23C16/46 ,  G01N13/12 ,  G01N13/16 ,  G01N13/22 ,  G01N13/24

CPC分类号： C23C16/04 ,  C01B32/15 ,  C23C16/047 ,  C23C16/46 ,  G01Q80/00

摘要： The present invention is a method for localized chemical vapor deposition (CVD) for localized growing for example for carbon nanotubes (CNT), nanowires, and oxidation using a heated tip or an array of heated tips to locally heat the area of interest. As the tips moved, material such as CNTs grows in the direction of movement. The Scanning Probe Growth (SPG) or nanoCVD technique has similarities to the CVD growth; however it allows for controlled synthesis and direction and eliminates the need for masks.

摘要翻译： 本发明是用于局部化学气相沉积（CVD）的方法，用于例如使用加热尖端或加热尖端的阵列的碳纳米管（CNT），纳米线和氧化进行局部生长，以局部加热感兴趣的区域。 随着尖端移动，诸如CNT之类的材料在运动方向上生长。 扫描探针增长（SPG）或纳米CVD技术与CVD生长相似; 然而，它允许受控的合成和方向，并且不需要掩模。

公开(公告)号：US07671333B2

公开(公告)日：2010-03-02

申请号：US12026419

申请日：2008-02-05

申请人： Alexandra Valerievna Agronskaja ,  Hans Casper Gerritsen ,  Adrianus Johannes Verkleij ,  Abraham Johannes Koster

发明人： Alexandra Valerievna Agronskaja ,  Hans Casper Gerritsen ,  Adrianus Johannes Verkleij ,  Abraham Johannes Koster

IPC分类号： G01N13/12 ,  H01J37/20 ,  H01J37/28 ,  H01J37/244

CPC分类号： H01J37/26 ,  G01N21/6458 ,  H01J37/226 ,  H01J2237/20

摘要： An apparatus for observing a sample (1) with a TEM column and an optical high resolution scanning microscope (10). The sample position when observing the sample with the TEM column differs from the sample position when observing the sample with the optical microscope in that in the latter case the sample is tilted towards the light-optical microscope. By using an optical microscope of the scanning type, and preferably using monochromatic light, the lens elements (11) of the optical microscope facing the sample position can be sufficiently small to be positioned between the pole faces (8A, 8B) of the (magnetic) particle-optical objective lens (7). This is in contrast with the objective lens systems conventionally used in optical microscopes, which show a large diameter. Furthermore the optical microscope, or at least the parts (11) close to the sample, may be retractable so as to free space when imaging in TEM mode.

摘要翻译： 一种用TEM柱和光学高分辨率扫描显微镜（10）观察样品（1）的装置。 用TEM显示器观察样品时的样品位置不同于用光学显微镜观察样品时的样品位置，因为在后一种情况下样品向光学显微镜倾斜。 通过使用扫描型的光学显微镜，并且优选使用单色光，面向样品位置的光学显微镜的透镜元件（11）可以足够小以定位在（磁性的）磁极的极面（8A，8B）之间 ）粒子光学物镜（7）。 这与通常用于显示大直径的光学显微镜中的物镜系统形成对比。 此外，光学显微镜或至少靠近样品的部分（11）可以是可缩回的，以便在TEM模式下成像时自由空间。

公开(公告)号：US20090205089A1

公开(公告)日：2009-08-13

申请号：US12083303

申请日：2006-06-30

申请人： Torsten Jähnke

发明人： Torsten Jähnke

IPC分类号： G01N13/10 ,  G01N13/12 ,  G01N13/14 ,  G01N13/16

CPC分类号： G01Q10/06 ,  G01Q30/025 ,  G01Q30/06

摘要： The invention relates to a method for examining a measurement object (2, 12), in which the measurement object (2, 12) is examined by means of scanning probe microscopy using a measurement probe (10) of a scanning probe measurement device, and in which at least one subsection (1) of the measurement object (2, 12) is optically examined by an optical measurement system in an observation region associated with the optical measurement system, wherein a displacement of the at least one subsection (1) of the measurement object (2, 12) out of the observation region which is brought about by the examination by means of scanning probe microscopy is corrected in such a way that the at least one displaced subsection (1) of the measurement object (2, 12) is arranged back in the observation region by means of a readjustment device which processes data signals that characterize the displacement.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于检查测量对象（2,12）的方法，其中使用扫描探针测量装置的测量探针（10）通过扫描探针显微镜检查测量对象（2,12），以及 其中所述测量对象（2,12）的至少一个子部分（1）由与所述光学测量系统相关联的观察区域中的光学测量系统进行光学检查，其中所述至少一个子部分（1）的位移 通过扫描探针显微镜检查引起的观察区域外的测量对象（2,12）被校正为使得测量对象（2,12）的至少一个移位子部分（1） ）通过处理表征位移的数据信号的重新调整装置布置在观察区域中。

公开(公告)号：US20050035288A1

公开(公告)日：2005-02-17

申请号：US10496571

申请日：2002-11-25

申请人： Hidemi Shigekawa ,  Osamu Takeuchi ,  Mikio Yamashita ,  Ryuji Morita

发明人： Hidemi Shigekawa ,  Osamu Takeuchi ,  Mikio Yamashita ,  Ryuji Morita

IPC分类号： G01J1/42 ,  G01J3/28 ,  G01J3/433 ,  G01N21/64 ,  G01Q30/00 ,  G01Q30/02 ,  G01Q60/10 ,  G01Q60/24 ,  G01N13/12 ,  G01N13/16

CPC分类号： G01J3/433 ,  G01J3/2889 ,  G01J2001/4242 ,  G01N21/6408 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6415 ,  G01Q30/02 ,  G01Q60/12 ,  Y10S977/85

摘要： Disclosed is a measuring apparatus for a physical phenomenon by photoexcitation, in particular a delay time modulated and time-resolved, scanning probe microscope apparatus providing an ultimate resolution both temporal and spatial. The apparatus comprises an ultrashort laser pulse generator (2); a delay time modulating circuit (6) which splits an ultrashort laser pulse (3) produced by the ultrashort laser pulse generator (2) into two and which also modulates a delay time td between the two ultrashort laser pulses (4 and 5) with a frequency (ω); a scanning probe microscope (17); and a lock-in detection unit (8) which performs lock-in detection with the delay time modulation frequency (ω) of a probe signal (11) from the scanning probe microscope (17). It can detect the delay time dependency of the probe signal (11) as its differential coefficient to the delay time, with no substantial influence from fluctuations in the intensity of ultrashort laser pulses (3) while preventing the probe apex (19) from thermal expansion and shrinkage by repeated irradiation with ultrashort laser pulses (3). A photoexcited physical phenomenon dependent on a delay time between ultrashort laser pulses can thus be measured at a temporal resolution in the order of femtoseconds and at a spatial resolution in the order of angstroms.

摘要翻译： 公开了一种通过光激发的物理现象的测量装置，特别是延迟时间调制和时间分辨的扫描探针显微镜装置，其提供了时间和空间上的最终分辨率。 该装置包括超短激光脉冲发生器（2）; 延迟时间调制电路（6），其将由超短激光脉冲发生器（2）产生的超短激光脉冲（3）分成两部分，并且还用一个第二超短激光脉冲（4和5）调制两个超短激光脉冲（4和5）之间的延迟时间td 频率（ω）; 扫描探针显微镜（17）; 以及锁定检测单元（8），其利用来自扫描探针显微镜（17）的探测信号（11）的延迟时间调制频率（ω）执行锁定检测。 探测信号（11）的延迟时间依赖性可以作为其延迟时间的微分系数，而不会因为超短激光脉冲（3）的强度的波动带来实质的影响，同时防止探头顶点（19）的热膨胀 以及通过用超短激光脉冲（3）重复照射来收缩。 因此，依赖于超短激光脉冲之间的延迟时间的光激发物理现象可以以飞秒级的时间分辨率和以埃的空间分辨率测量。