公开(公告)号：WO2005112016A1

公开(公告)日：2005-11-24

申请号：PCT/JP2005/008339

申请日：2005-05-06

Applicant: シャープ株式会社 ,  小川 勝

Inventor： 小川 勝

IPC: G11B7/135

CPC classification number: G11B7/1353 ,  G11B7/123 ,  G11B7/1263

Abstract: 　複合光学素子（５）は、半導体レーザ（１）とモニタ用受光素子（４）とを結ぶ方向の断面（側断面）において、開口部（１１）の開口幅が側断面下部（１１ａ）と側断面上部（１１ｂ）とで異なって構成されている。このように複合光学素子（５）を構成することによって、モニタ用受光素子（４）に所望の光を入射させつつ、光集積ユニット（１５）に入射する光の経路を必要以上に制限せずに済む。これにより、光集積ユニット（１５）内の部品等を柔軟に配置することが可能となる。

Abstract translation: 在复合光学元件（5）中，在连接半导体激光器（1）与监视光接收元件（4）的方向上的截面（侧面截面）上，开口部（11）的开口宽度不同 在侧截面下部（11a）和侧截面上部（11b）。 因此，构成复合光学元件（5）时，不需要限制进入光学集成单元（15）的光的路径，同时具有入射到监视光接收元件（4）上的期望的光。 光学集成单元（15）中的组件等可以灵活地布置。

公开(公告)号：WO2005112015A1

公开(公告)日：2005-11-24

申请号：PCT/JP2005/008338

申请日：2005-05-06

Applicant: シャープ株式会社 ,  小川 勝

Inventor： 小川 勝

IPC: G11B7/135

CPC classification number: G11B11/10532 ,  G11B7/123 ,  G11B7/131 ,  G11B7/1353

Abstract: 　光ピックアップ装置（１０）では、光検出器（１５ａ）の高さと光検出器（１５ｂ）の高さとの間に１４０μｍの差を設けている。すなわち、偏光ホログラム（１２）から光検出器（１５ａ）までの光学的距離が長く、偏光ホログラム（１２）から光検出器（１５ｂ）までの光学的距離が短くなっている。偏光ホログラム（１２）の回折光は非点収差を有しているので、偏光ホログラム（１２）から光検出器（１５ａ）までの光学的距離を調整することにより、偏光ホログラム（１２）の回折光の光検出器（１５ａ）の受光面上での各スポット光の形状をＸ方向に細長い形状とすることができる。これにより、光検出器（１５ａ）の受光部の面積を小さくすることが可能となる。

Abstract translation: 在光拾取装置（10）中，在光电检测器（15a）的高度和光电检测器（15b）的高度之间提供了140μm的差异。 也就是说，极化全息图（12）和光电检测器（15a）之间的光学距离长，偏振全息图（12）和光电检测器（15b）之间的光学距离短。 由于偏振全息图（12）的衍射光是散光的，所以在光检测器（15a）的受光平面上的偏振全息图（12）的衍射光的每个点光束的形状可以在X方向上伸长， 通过调整偏振全息图（12）和光电检测器（15a）之间的光学距离。 因此，可以减少光电检测器（15a）的光接收部分的面积。