公开(公告)号：WO2017019189A1

公开(公告)日：2017-02-02

申请号：PCT/US2016/037004

申请日：2016-06-10

Applicant: SANDISK TECHNOLOGIES LLC

Inventor： BEN-RUBI, Refael ,  SHLICK, Mark ,  COHEN, Moshe

IPC: G11C8/10 ,  G11C11/56 ,  G11C29/52 ,  G11C29/44

CPC classification number: G11C29/04 ,  G11C7/00 ,  G11C8/10 ,  G11C11/5642 ,  G11C17/16 ,  G11C29/18 ,  G11C29/26 ,  G11C29/52 ,  G11C2029/0411 ,  G11C2029/4402

Abstract: A data storage device includes a memory including a plurality of storage elements configured to store data. The plurality of storage elements includes a first group of storage elements and a second group of storage elements. The data storage device further includes a selection module configured to retrieve first bit line defect information affecting the first group of storage elements and to retrieve second bit line defect information affecting the second group of storage elements.

Abstract translation: 数据存储装置包括存储器，其包括被配置为存储数据的多个存储元件。 多个存储元件包括第一组存储元件和第二组存储元件。 数据存储设备还包括选择模块，其被配置为检索影响第一组存储元件的第一位线缺陷信息，并且检索影响第二组存储元件的第二位线缺陷信息。