发明授权
CN100353172C 群延迟测试方法及装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 群延迟测试方法及装置
- 专利标题(英): Group delay test method and device thereof
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申请号: CN02142406.3申请日: 2002-09-17
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公开(公告)号: CN100353172C公开(公告)日: 2007-12-05
- 发明人: 吴庆杉 , 陈建铭
- 申请人: 联发科技股份有限公司
- 申请人地址: 台湾省新竹市新竹科学工业园
- 专利权人: 联发科技股份有限公司
- 当前专利权人: 联发科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 台湾省新竹市新竹科学工业园
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 马莹; 邵亚丽
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28 ; G06F11/00 ; G06F13/00 ; H04L12/26 ; H04L12/54
摘要:
本发明提供了群延迟测试方法,用来测试一受测装置的群延迟Tgd。该群延迟测试方法包含以下步骤:(A)输入一已知周期T的模拟单频信号至所述受测装置的一输入端;(B)提取该输入的单频信号及通过所述受测装置后所输出的一延迟后单频信号,并将该输入的单频信号和该延迟后单频信号分别转换成一第一数字信号与一第二数字信号;(C)比较该第一、第二数字信号的相位差;(D)将所得相位差的比较结果转换成一正比于该相位差的电流I;(E)使所得电流I流经一已知电阻值R的平均电路,并获得一电压差ΔV;及(F)依据这些已知的周期T、电流I、电阻值R及电压差ΔV,求得所述受测装置的群延迟Tgd。
公开/授权文献
- CN1484035A 群延迟测试方法及装置 公开/授权日:2004-03-24