发明授权
CN100423272C 半导体存储装置及其动作方法、半导体装置及便携电子设备
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体存储装置及其动作方法、半导体装置及便携电子设备
- 专利标题(英): Semiconductor storage device and its operating method,semiconductordevice and portable electronic device
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申请号: CN200410044576.4申请日: 2004-05-19
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公开(公告)号: CN100423272C公开(公告)日: 2008-10-01
- 发明人: 岩田浩 , 足立浩一郎 , 柴田晃秀
- 申请人: 夏普株式会社
- 申请人地址: 日本大阪市
- 专利权人: 夏普株式会社
- 当前专利权人: 夏普株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪市
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 徐谦; 叶恺东
- 优先权: 141034/03 2003.05.19 JP; 142590/03 2003.05.20 JP; 142600/03 2003.05.20 JP
- 主分类号: H01L27/115
- IPC分类号: H01L27/115 ; H01L27/112
摘要:
半导体存储装置具有:半导体基片,其在表面部分形成了元件分离区及未形成该元件分离区的有源区;在有源区形成的作为源极或漏极来动作的2个源极/漏极扩散区;在这2个源极/漏极扩散区之间确定的沟道区;在第1方向延伸的多个第1位线;在第1方向延伸的多个第2位线;在第2方向延伸并排列在该第2方向的有源区的沟道区上隔着绝缘体来设置,在沟道区上作为栅电极来起作用的多个字线;对该栅电极,在源极/漏极扩散区的一方侧与另一方侧的侧壁形成,具有保持电荷或极化的功能的存储功能体。根据选择规定的字线及第1位线及第2位线而被特定的存储功能体中所保持的电荷或极化的多寡,流经沟道区的电荷量发生变化。
公开/授权文献
- CN1551359A 半导体存储装置及其动作方法、半导体装置及便携电子设备 公开/授权日:2004-12-01
IPC分类: