发明公开
CN101010575A 光学分析系统的自动校准
失效 - 权利终止
- 专利标题: 光学分析系统的自动校准
- 专利标题(英): Autonomous calibration for optical analysis system
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申请号: CN200580028719.5申请日: 2005-07-29
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公开(公告)号: CN101010575A公开(公告)日: 2007-08-01
- 发明人: F·J·P·舒尔曼斯 , M·C·范比克 , M·范德沃特
- 申请人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 申请人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 程天正; 梁永
- 优先权: 04104085.8 2004.08.26 EP
- 国际申请: PCT/IB2005/052558 2005.07.29
- 国际公布: WO2006/021903 EN 2006.03.02
- 进入国家日期: 2007-02-26
- 主分类号: G01J3/36
- IPC分类号: G01J3/36 ; G01J3/04
摘要:
本发明提供一种基于多元的分光镜系统的自动校准,该基于多元的分光镜系统优选被制作为基于多元的分光计。分光镜系统基于多元光学元件,该多元光学元件提供入射光学信号的光谱加权。光谱加权是基于光谱分量的空间分离以及随后利用空间光调制器进行的空间滤光来进行的。分光镜系统的校准是基于空间光调制器的专用校准段,该空间光调制器的位置对应于入射光学信号的特征的校准或参考波长。优选地,所述校准与参考波长由光源产生的激发辐射的波长给出,所述光源用于在感兴趣体积区中引发散射过程。
公开/授权文献
- CN101010575B 光学分析系统的自动校准 公开/授权日:2010-04-14