发明授权
- 专利标题: 用于产生相位对比图像的X射线装置的焦点和检测器系统
- 专利标题(英): Focus/detector system of an X-ray apparatus for generating phase contrast recordings
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申请号: CN200710007958.3申请日: 2007-02-01
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公开(公告)号: CN101011254B公开(公告)日: 2011-10-05
- 发明人: 克里斯琴·戴维 , 比约恩·海斯曼 , 埃克哈德·亨普尔 , 弗朗兹·法伊弗 , 斯蒂芬·波普斯库
- 申请人: 西门子公司 , 保罗谢勒研究所
- 申请人地址: 德国慕尼黑
- 专利权人: 西门子公司,保罗谢勒研究所
- 当前专利权人: 西门子公司,申请人
- 当前专利权人地址: 德国慕尼黑
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 邵亚丽; 李晓舒
- 优先权: 102006004976.4 2006.02.01 DE; 102006017291.4 2006.04.12 DE
- 主分类号: A61B6/00
- IPC分类号: A61B6/00 ; G01N23/04 ; G01N23/20 ; G01N23/06 ; H05G1/02 ; H05G1/62 ; G01T1/28 ; G01T7/00 ; G21K1/06 ; G21K1/02
摘要:
本发明涉及一种X射线装置的焦点和检测器系统和用于产生投影或断层造影相位对比图像的方法,包括:具有焦点(F1)和设置在焦点一侧的源光栅(G0)的辐射源(2),该源光栅设置在辐射路径中并产生射线相干的X射线(Si)场;具有相位光栅(G1)和检测器(D1)的光栅/检测器装置,该相位光栅具有平行于源光栅(G0)的光栅线用以产生相干图案,该检测器具有多个平面设置的检测器元件(Ei)用以测量相位光栅后的取决于位置的辐射强度;检测器元件(Ei)由多个纵向闪烁条纹(SSi)形成,闪烁条纹平行于相位光栅(G1)的光栅线并且具有小周期(ps),该周期的整数倍对应于相干图案的、由相位光栅形成的平均的大周期(p2)。
公开/授权文献
- CN101011254A 用于产生相位对比图像的X射线装置的焦点/检测器系统 公开/授权日:2007-08-08