发明公开
- 专利标题: 具有熔丝元件的半导体器件和切断熔丝元件的方法
- 专利标题(英): Semiconductor device having fuse element and method of cutting fuse element
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申请号: CN200710007705.6申请日: 2007-01-29
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公开(公告)号: CN101013687A公开(公告)日: 2007-08-08
- 发明人: 小川澄男
- 申请人: 尔必达存储器股份有限公司
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 尔必达存储器股份有限公司
- 当前专利权人: 尔必达存储器股份有限公司
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 孙纪泉
- 优先权: 2006-021887 2006.01.31 JP
- 主分类号: H01L23/525
- IPC分类号: H01L23/525 ; H01L27/00 ; H01L21/768 ; H01L21/82
摘要:
一种半导体器件包括下电极、上电极、以及与下电极和上电极相连的熔丝元件。熔丝元件的高度大于要照射的激光束的焦点深度。熔丝元件的直径小于激光束的衍射极限。因此,在本发明中使用沿垂直方向较长的熔丝元件,从而可以高效地吸收激光束能量。可以使用具有较小焦点深度的光学系统来切断熔丝元件,使位于熔丝元件上面或下面的组件受到的损坏非常小。由此,可以切断熔丝元件而不会破坏钝化膜。
IPC分类: