- 专利标题: 具有缩减活性面积及接触面积的电阻式随机存取存储单元
- 专利标题(英): Resistor random access memory cell with reduced active area and reduced contact areas
-
申请号: CN200710104548.0申请日: 2007-05-25
-
公开(公告)号: CN101083298B公开(公告)日: 2010-06-09
- 发明人: 赖二琨 , 何家骅 , 谢光宇
- 申请人: 旺宏电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹科学工业园区
- 专利权人: 旺宏电子股份有限公司
- 当前专利权人: 旺宏电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹科学工业园区
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 韩宏
- 优先权: 11/421,042 2006.05.30 US
- 主分类号: H01L45/00
- IPC分类号: H01L45/00 ; H01L27/24 ; G11C11/56
摘要:
一种存储器件,有一侧壁绝缘装置,其具有与第一侧壁隔离层厚度相同的侧壁绝缘装置长度;形成自第二侧壁隔离层的第一电极,其具有与第二侧壁隔离层厚度相同的第一电极长度,以及形成自该第二侧壁隔离层的第二电极,其具有与该第二侧壁隔离层厚度相同的第二电极长度,被形成于该侧壁绝缘装置的侧壁上;存储器材料的导桥,其具有导桥宽度,自该第一电极的上表面延伸至该第二电极的上表面,横跨该侧壁绝缘装置的上表面,其中该导桥包含存储器材料。
公开/授权文献
- CN101083298A 具有缩减活性面积及接触面积的电阻式随机存取存储单元 公开/授权日:2007-12-05
IPC分类: