发明授权
- 专利标题: 存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法
- 专利标题(英): Storage apparatus and apparatus with reduced test stitch as well as test approach thereof
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申请号: CN200710001923.9申请日: 2007-01-15
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公开(公告)号: CN101226777B公开(公告)日: 2011-10-26
- 发明人: 孔繁生
- 申请人: 华邦电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹科学工业园区
- 专利权人: 华邦电子股份有限公司
- 当前专利权人: 华邦电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹科学工业园区
- 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理商 任默闻
- 主分类号: G11C29/44
- IPC分类号: G11C29/44
摘要:
本发明提出一种存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法,该存储装置包括一个待测存储器、一个减少测试针脚装置、以及一个自我测试器。此减少测试针脚装置用于在高熔丝前测试阶段找出该待测存储器的一错误地址。而此自我测试器用于在高熔丝后(post-fuse)测试阶段检验该待测存储器是否发生错误。使用本发明的存储装置可快速找出待测存储器中有问题的存储单元的位置,以利高熔丝阶段时进行修复。此外本发明具有减少测试存储器时所需的测试针脚的特性,因此可降低测试设备的成本与增进存储器测试的效能。
公开/授权文献
- CN101226777A 存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法 公开/授权日:2008-07-23