Invention Publication
- Patent Title: X射线检查装置
- Patent Title (English): X-ray examination apparatus
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Application No.: CN200680038609.1Application Date: 2006-10-12
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Publication No.: CN101291623APublication Date: 2008-10-22
- Inventor: J·T·M·范沃兹克
- Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- Applicant Address: 荷兰艾恩德霍芬
- Assignee: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- Current Assignee: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- Current Assignee Address: 荷兰艾恩德霍芬
- Agency: 永新专利商标代理有限公司
- Agent 陈松涛; 王英
- Priority: 05109713.7 2005.10.19 EP
- International Application: PCT/IB2006/053749 2006.10.12
- International Announcement: WO2007/046041 EN 2007.04.26
- Date entered country: 2008-04-17
- Main IPC: A61B6/00
- IPC: A61B6/00 ; A61B19/02
Abstract:
描述了一种X射线检查装置(100),其包括可移动的支架(10),该可移动的支架(10)承载人可操作的控制输入设备(21)和显示设备(22),该支架(10)具有前侧(11)和后侧(12);其中所述人可操作的控制输入设备更接近于支架的前侧(11),而所述显示设备更接近于支架的后侧(12);其中该支架具有控制位置,在该控制位置处,所述显示设备的图像屏幕(23)基本朝向支架的前侧(11),并且该支架还具有外科医生位置,在该外科医生位置处,所述显示设备的图像屏幕(23)基本朝向支架的后侧(12);并且其中所述显示设备安装在可移动的支架上,以便可以在控制位置和外科医生位置之间移动。
Public/Granted literature
- CN101291623B X射线检查装置 Public/Granted day:2010-12-15
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