发明授权
- 专利标题: X射线检查装置
- 专利标题(英): X-ray examination apparatus
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申请号: CN200680038609.1申请日: 2006-10-12
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公开(公告)号: CN101291623B公开(公告)日: 2010-12-15
- 发明人: J·T·M·范沃兹克
- 申请人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 申请人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 陈松涛; 王英
- 优先权: 05109713.7 2005.10.19 EP
- 国际申请: PCT/IB2006/053749 2006.10.12
- 国际公布: WO2007/046041 EN 2007.04.26
- 进入国家日期: 2008-04-17
- 主分类号: A61B6/00
- IPC分类号: A61B6/00 ; A61B19/02
摘要:
描述了一种X射线检查装置(100),其包括可移动的支架(10),该可移动的支架(10)承载人可操作的控制输入设备(21)和显示设备(22),该支架(10)具有前侧(11)和后侧(12);其中所述人可操作的控制输入设备更接近于支架的前侧(11),而所述显示设备更接近于支架的后侧(12);其中该支架具有控制位置,在该控制位置处,所述显示设备的图像屏幕(23)基本朝向支架的前侧(11),并且该支架还具有外科医生位置,在该外科医生位置处,所述显示设备的图像屏幕(23)基本朝向支架的后侧(12);并且其中所述显示设备安装在可移动的支架上,以便可以在控制位置和外科医生位置之间移动。
公开/授权文献
- CN101291623A X射线检查装置 公开/授权日:2008-10-22