发明公开
CN101313202A 使用半导体光学透镜的红外检测单元
失效 - 权利终止
- 专利标题: 使用半导体光学透镜的红外检测单元
- 专利标题(英): Infrared detection unit using a semiconductor optical lens
-
申请号: CN200680043759.1申请日: 2006-11-24
-
公开(公告)号: CN101313202A公开(公告)日: 2008-11-26
- 发明人: 本多由明 , 西川尚之 , 上津智宏
- 申请人: 松下电工株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府
- 专利权人: 松下电工株式会社
- 当前专利权人: 松下电工株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 李春晖; 李德山
- 优先权: 341213/2005 2005.11.25 JP; 089602/2006 2006.03.28 JP
- 国际申请: PCT/JP2006/324044 2006.11.24
- 国际公布: WO2007/061137 EN 2007.05.31
- 进入国家日期: 2008-05-22
- 主分类号: G01J5/08
- IPC分类号: G01J5/08 ; G01J5/06 ; H01L21/3063 ; G02B3/00
摘要:
一种红外检测单元,其包括承载红外传感元件的基座,以及被配置为安装在基座上以包围红外传感元件的帽。所述帽具有带窗口的顶壁,半导体透镜被安装在所述窗口中以将红外辐射收集到红外传感元件上。半导体光学透镜从半导体衬底形成,以具有凸透镜和围绕所述凸透镜的凸缘。在半导体透镜上形成红外阻挡,以阻止该红外辐射通过凸透镜的周围与该窗口之间的界限穿过。因此,该红外传感元件仅可以接收源自凸透镜想要的检测区域的红外辐射。
公开/授权文献
- CN101313202B 使用半导体光学透镜的红外检测单元 公开/授权日:2011-02-02