发明公开
- 专利标题: 高温开口的无插拔力(ZIF)测试插座
- 专利标题(英): High temperature open ended zero insertion force (ZIF) test socket
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申请号: CN200680050958.5申请日: 2006-12-06
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公开(公告)号: CN101356698A公开(公告)日: 2009-01-28
- 发明人: R·J·塞尔维亚 , A·M·拉米雷斯 , J·乌尔曼 , J·伊萨圭尔 , P·P·奎瓦斯 , M·C·埃文斯
- 申请人: 夸利陶公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 夸利陶公司
- 当前专利权人: 夸利陶公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 杨楷; 廖凌玲
- 优先权: 11/306,797 2006.01.11 US
- 国际申请: PCT/US2006/046798 2006.12.06
- 国际公布: WO2007/081464 EN 2007.07.19
- 进入国家日期: 2008-07-11
- 主分类号: H01R27/00
- IPC分类号: H01R27/00
摘要:
一种用于测试封装集成电路的插座,所述封装集成电路器件具有从其悬挂的多个引线,所述插座包括第一构件,所述第一构件用于接收集成电路封装件且具有多个孔以接收从所述封装件延伸的引线。第二构件具有多个导线触头以接合引线,所述第一和第二构件设置为允许它们的相对横向平移。支撑框架包括物理接合第一构件的第一部分、物理接合第二构件的第二部分。杆或把手附接到第二部分且包括凸轮表面以接合第一部分上的凸轮从动件,杆或把手用于在两个构件之间施加相对横向运动,从而封装件引线物理接合第二构件的导线。
公开/授权文献
- CN101356698B 高温开口的无插拔力(ZIF)测试插座 公开/授权日:2012-06-20