Invention Publication
CN101384880A 用于辅助座上激光芯片的自动特征分析系统
失效 - 权利终止
- Patent Title: 用于辅助座上激光芯片的自动特征分析系统
- Patent Title (English): Automated characterization system for laser chip on a submount
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Application No.: CN200780005282.2Application Date: 2007-02-13
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Publication No.: CN101384880APublication Date: 2009-03-11
- Inventor: 亭·石 , 丹尼尔·崔恩 , 帕维尔·普洛斯卡鲁
- Applicant: 菲尼萨公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 菲尼萨公司
- Current Assignee: 菲尼萨公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- Agent 徐金国; 陈红
- Priority: 60/773,083 2006.02.13 US
- International Application: PCT/US2007/062092 2007.02.13
- International Announcement: WO2007/095555 EN 2007.08.23
- Date entered country: 2008-08-13
- Main IPC: G01B11/26
- IPC: G01B11/26

Abstract:
公开了一种用于检测被安装在辅助座上的激光硬模的温度受控的系统。该检测系统包括具有受电机驱动的平移平台的基座。平移平台包括具有被安装在基部上的两级温度控制系统的第一检测位置。温度控制系统包括热电冷却器和用于在循环块中循环冷却/加热流体的流体系统。安装部也被包括在第一检测位置上,其中辅助座被定位在该安装部上。安装部的温度被该温度控制系统控制。当第一检测位置与探针板对准时,具有臂和连接到该臂的电接触部的探针板向辅助座提供电源。具有可与第一检测位置对准的透镜组件的对准器接收由激光器产生的光信号。
Public/Granted literature
- CN101384880B 用于辅助座上激光芯片的自动特征分析系统 Public/Granted day:2012-05-09
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