- 专利标题: 通过来自乙硅烷前体的远程等离子体CVD的高质量氧化硅膜
- 专利标题(英): High quality silicon oxide films by remote plasma cvd from disilane precursors
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申请号: CN200810171160.7申请日: 2008-10-22
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公开(公告)号: CN101418438B公开(公告)日: 2013-05-01
- 发明人: 阿布海杰特·巴苏·马利克 , 斯里尼瓦斯·D·内曼尼 , 叶怡利
- 申请人: 应用材料公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 应用材料公司
- 当前专利权人: 应用材料公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- 代理商 徐金国
- 优先权: 11/876,538 2007.10.22 US
- 主分类号: C23C16/42
- IPC分类号: C23C16/42 ; C23C16/40 ; C23C16/455 ; H01L21/318 ; H01L21/316 ; H01L21/3105
摘要:
本发明提供了一种在基板上沉积含硅和氮的膜的方法。所述方法包括将含硅前体引入到包含基板的沉积室中,其中含硅前体包括至少两个硅原子。所述方法还包括通过远程等离子体系统产生至少一种自由基氮前体,所述远程等离子体系统设置在沉积室外部。而且,所述方法包括将自由基氮前体引入到沉积室中,在所述沉积室中自由基氮和含硅前体反应且在基板上沉积含硅和氮的膜。而且,所述方法包括在蒸汽气氛中退火含硅和氮的膜以形成氧化硅膜,其中蒸汽气氛包括水和酸性蒸汽。
公开/授权文献
- CN101418438A 通过来自乙硅烷前体的远程等离子体CVD的高质量氧化硅膜 公开/授权日:2009-04-29
IPC分类: