发明授权
- 专利标题: 没有残余物的硬掩模修整
- 专利标题(英): Residue free hardmask trim
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申请号: CN200780020952.8申请日: 2007-06-01
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公开(公告)号: CN101461044B公开(公告)日: 2013-09-04
- 发明人: 汤姆·A·坎普
- 申请人: 朗姆研究公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 朗姆研究公司
- 当前专利权人: 朗姆研究公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 上海胜康律师事务所
- 代理商 周文强; 李献忠
- 优先权: 11/448,246 2006.06.05 US
- 国际申请: PCT/US2007/070270 2007.06.01
- 国际公布: WO2007/143585 EN 2007.12.13
- 进入国家日期: 2008-12-05
- 主分类号: H01L21/3213
- IPC分类号: H01L21/3213 ; H01L21/311
摘要:
提供一种将特征蚀刻进多晶硅层的方法。硬掩模层提供在该多晶硅层之上。光刻胶掩模形成在该硬掩模层之上。通过该光刻胶掩模蚀刻该硬掩模层以形成图案化硬掩模。通过提供包含氧气和含氟化合物的不含碳修整气体来修整该图案化硬掩模,由该修整气体形成等离子,和并且修整该硬掩模。通过该硬掩模将特征蚀刻进该多晶硅层。
公开/授权文献
- CN101461044A 没有残余物的硬掩模修整 公开/授权日:2009-06-17
IPC分类: