用GTEM小室测试天线全向辐射总功率的方法
摘要:
本发明公开了一种用GTEM小室测试天线全向辐射总功率方法,首先将待测设备天线摆放在GTEM小室中的三维非金属转台上,确定待测设备天线局部坐标的各轴与GTEM小室坐标各轴的对应关系,并通过环行器返回天线反射功率,用天线反射功率对GTEM小室端口输出功率进行补偿,之后用线性法或TOP法计算待测设备天线在自由空间的辐射总功率。操作简单、提高了测试的准确度。
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