发明公开
CN101477154A 用GTEM小室测试天线全向辐射总功率的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 用GTEM小室测试天线全向辐射总功率的方法
- 专利标题(英): Method for testing antenna omnidirectional radiation total power by using GTEM closet
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申请号: CN200910077741.9申请日: 2009-02-13
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公开(公告)号: CN101477154A公开(公告)日: 2009-07-08
- 发明人: 李书芳 , 李吉 , 洪卫军 , 刘红杰 , 尹斯星 , 姜雪松 , 易敏 , 邓力
- 申请人: 北京邮电大学
- 申请人地址: 北京市海淀区西土城路10号
- 专利权人: 北京邮电大学
- 当前专利权人: 北京邮电大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西土城路10号
- 代理机构: 北京凯特来知识产权代理有限公司
- 代理商 赵镇勇
- 主分类号: G01R29/08
- IPC分类号: G01R29/08
摘要:
本发明公开了一种用GTEM小室测试天线全向辐射总功率方法,首先将待测设备天线摆放在GTEM小室中的三维非金属转台上,确定待测设备天线局部坐标的各轴与GTEM小室坐标各轴的对应关系,并通过环行器返回天线反射功率,用天线反射功率对GTEM小室端口输出功率进行补偿,之后用线性法或TOP法计算待测设备天线在自由空间的辐射总功率。操作简单、提高了测试的准确度。
公开/授权文献
- CN101477154B 用GTEM小室测试天线全向辐射总功率的方法 公开/授权日:2011-12-14