用GTEM小室测试天线全向辐射总功率的方法

    公开(公告)号:CN101477154B

    公开(公告)日:2011-12-14

    申请号:CN200910077741.9

    申请日:2009-02-13

    IPC分类号: G01R29/08

    摘要: 本发明公开了一种用GTEM小室测试天线全向辐射总功率方法,首先将待测设备天线摆放在GTEM小室中的三维非金属转台上,确定待测设备天线局部坐标的各轴与GTEM小室坐标各轴的对应关系,并通过环行器返回天线反射功率,用天线反射功率对GTEM小室端口输出功率进行补偿,之后用线性法或TOP法计算待测设备天线在自由空间的辐射总功率。操作简单、提高了测试的准确度。

    用GTEM小室测试天线全向辐射总功率的方法

    公开(公告)号:CN101477154A

    公开(公告)日:2009-07-08

    申请号:CN200910077741.9

    申请日:2009-02-13

    IPC分类号: G01R29/08

    摘要: 本发明公开了一种用GTEM小室测试天线全向辐射总功率方法,首先将待测设备天线摆放在GTEM小室中的三维非金属转台上,确定待测设备天线局部坐标的各轴与GTEM小室坐标各轴的对应关系,并通过环行器返回天线反射功率,用天线反射功率对GTEM小室端口输出功率进行补偿,之后用线性法或TOP法计算待测设备天线在自由空间的辐射总功率。操作简单、提高了测试的准确度。