发明授权
CN101576450B 一种无损探伤用表面裂纹缺陷试块的制作方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种无损探伤用表面裂纹缺陷试块的制作方法
- 专利标题(英): Method for manufacturing surface crack defect test block for nondestructive flaw detection
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申请号: CN200910022922.1申请日: 2009-06-11
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公开(公告)号: CN101576450B公开(公告)日: 2012-03-28
- 发明人: 牛靖 , 张建勋 , 巨西民 , 朱彤 , 张林杰 , 付强
- 申请人: 西安交通大学
- 申请人地址: 陕西省西安市碑林区咸宁路28号
- 专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市碑林区咸宁路28号
- 代理机构: 西安通大专利代理有限责任公司
- 代理商 汪人和
- 主分类号: G01N1/28
- IPC分类号: G01N1/28 ; G01N29/04 ; G01N21/91
摘要:
本发明公开了一种无损探伤用表面裂纹缺陷试块的制作方法。利用焊接过程中的表面裂纹产生机理,提出了一种快速制作表面裂纹缺陷试块的制作方法。通过在焊缝中添加硫元素,合理控制焊接工艺等途径,制作出常见表面焊接裂纹试块。本发明所制作出的表面裂纹不同于常用的探伤标准试块中的人工缺陷,其裂纹缺陷真实、可行,可以用于超声探伤、渗透探伤等无损探伤方法,对无损探伤人员培训及换、取证考核,增强其对表面裂纹缺陷探伤信号的感性和理性认识具有重要的意义。
公开/授权文献
- CN101576450A 一种无损探伤用表面裂纹缺陷试块的制作方法 公开/授权日:2009-11-11