发明授权
CN101637766B 半导体制造装置的清洗装置及清洗方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体制造装置的清洗装置及清洗方法
- 专利标题(英): Cleaning device and cleaning method of semiconductor manufacturing apparatus
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申请号: CN200910161234.3申请日: 2009-07-24
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公开(公告)号: CN101637766B公开(公告)日: 2011-06-08
- 发明人: 小久保峰幸 , 山涌纯 , 守屋刚
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 李伟; 舒艳君
- 优先权: 2008-193425 2008.07.28 JP
- 主分类号: B08B3/02
- IPC分类号: B08B3/02
摘要:
本发明提供一种半导体制造装置的清洗装置及清洗方法,能够进行比以往效率高的清洗作业,并且能够得到更好的清洗效果。所述半导体制造装置的清洗装置(100)具有由纯水生成纯水水蒸气的纯水水蒸气生成容器(2)、将纯水水蒸气供给到被清洗部位的供给口(5)、连接纯水水蒸气生成容器和供给口的供给管路(4)、从被清洗部位回收在清洗中使用后的使用完毕水蒸气的回收口(6)、将使用完毕水蒸气凝结并回收的回收容器(8)、以及连接回收口(6)和回收容器(8)的回收管路(7)。
公开/授权文献
- CN101637766A 半导体制造装置的清洗装置及清洗方法 公开/授权日:2010-02-03
IPC分类: