发明公开
- 专利标题: 一种存储器数据采样装置及一种采样控制器
- 专利标题(英): Memory data sampling device and sampling controller
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申请号: CN200910087727.7申请日: 2009-06-19
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公开(公告)号: CN101692346A公开(公告)日: 2010-04-07
- 发明人: 林川
- 申请人: 北京中星微电子有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层
- 专利权人: 北京中星微电子有限公司
- 当前专利权人: 无锡中感微电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层
- 代理机构: 北京润泽恒知识产权代理有限公司
- 代理商 苏培华
- 主分类号: G11C5/00
- IPC分类号: G11C5/00 ; G06F12/00 ; G11C7/00 ; G06F13/38
摘要:
本发明提供了一种存储器数据采样装置,能够准确地实现存储器芯片输出数据的采样,以提高装置的可靠性。所述存储器数据采样装置包括:存储器芯片和采样控制器。存储器芯片包括:输出数据端口以及输出数据采样时钟端口。采样控制器包括:第一输入单元、第二输入单元以及异步数据缓存器。异步数据缓存器写数据端接收时钟信号并作为输入写时钟,控制将采样数据存储到内部存储器,采样数据存储到内部存储器后,触发缓存器读数据端口从内部存储器读出该采样数据。输出读数据端口在内部寄存器存入新的采样数据的情况下才会被触发,去读取采样数据并将采样数据输出,能够准确地完成存储器芯片数据采样工作。
公开/授权文献
- CN101692346B 一种存储器数据采样装置及一种采样控制器 公开/授权日:2013-06-26