发明授权
CN101718674B 一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法
- 专利标题(英): Method for measuring shape parameters of particles of particulate materials
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申请号: CN200910218341.5申请日: 2009-12-14
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公开(公告)号: CN101718674B公开(公告)日: 2011-11-09
- 发明人: 戈振扬 , 郭洁
- 申请人: 昆明理工大学
- 申请人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号昆明理工大学
- 专利权人: 昆明理工大学
- 当前专利权人: 昆明理工大学
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号昆明理工大学
- 代理机构: 昆明今威专利代理有限公司
- 代理商 赛晓刚
- 主分类号: G01N15/10
- IPC分类号: G01N15/10 ; G06T7/00
摘要:
本发明公开了一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法,是一种通过应用数码显微镜和计算机测量散粒物料颗粒形状参数的方法和软件。数码显微镜完成散粒颗粒物料图像采集,计算机完成采集到的图像的处理。该方法精简了测量散粒物料颗粒形状参数的过程,提高了测量的精确度,测量的软件是针对测量散粒物料颗粒形状参数而特殊处理和优化的,便于高效地测量散粒物料颗粒形状相关的各种参数信息。可广泛应用于需测量散粒物料颗粒形状参数的领域。
公开/授权文献
- CN101718674A 一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法 公开/授权日:2010-06-02